一种用于测试IC芯片的COB板制造技术

本实用新型专利技术涉及COB板技术领域，且公开了一种用于测试IC芯片的COB板，包括支撑板，所述支撑板的下端固定连接有支撑腿，所述支撑板上端的边侧开设有滑槽，所述滑槽的内部设置有螺纹杆，所述滑槽的上端设置有限位板，所述限位板的下端固定连接有滑块，所述支撑板的边侧设置有手轮，所述限位板的边侧开设有安装槽，所述支撑板的上端开设有卡槽一，所述支撑板的上端位于卡槽一的右侧开设有卡槽二。该用于测试IC芯片的COB板，大大增加了COB板的工作效率，卡槽一与卡槽二长度不同的设计，可便于对不同厚度的IC芯片进行测试，同时可便于COB板对不同大小的IC芯片进行测试，进而大大提高了COB板的实用性，便于日常测试的使用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试IC芯片的COB板
本技术涉及COB板
，具体为一种用于测试IC芯片的COB板。
技术介绍
COB板全称为板上芯片，COB工艺是在基底表面用导热环氧树脂覆盖硅片安放点，然后将硅片直接放置在基底表面，热处理至硅片牢固的固定在基底上，随后在通过焊接的方式在硅片与基底之间建立电性连接。然后现有的COB板虽然能批量对IC芯片进行测试，但是不能对不同厚度的IC芯片进行测试，使得COB板的局限性较大，同时现有的COB板不便于对不能大小的IC芯片进行测试，进而不能满足日常测试时的使用需求。
技术实现思路
（一）解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种用于测试IC芯片的COB板，解决了现有的COB板虽然能批量对IC芯片进行测试，但是不能对不同厚度的IC芯片进行测试，同时现有的COB板不便于对不能大小的IC芯片进行测试，使得COB板的局限性较大，进而不能满足日常测试时的使用需求的问题。（二）技术方案为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于测试IC芯片的COB板，包括支撑板，所述支撑板的下端固定连接有支撑腿，所述支撑板上端的边侧开设有滑槽，所述滑槽的内部设置有螺纹杆，所述滑槽的上端设置有限位板，所述限位板的下端固定连接有滑块，所述支撑板的边侧设置有手轮，所述限位板上端的边侧开设有安装槽，所述安装槽的内部固定连接有连接片，所述支撑板的上端开设有卡槽一，所述支撑板的上端位于卡槽一的右侧开设有卡槽二。优选的，所述支撑腿呈矩形阵列设置有四个，且支撑腿均等间距分布于支撑板的下端，所述支撑腿采用橡胶材质设置。优选的，所述滑槽与螺纹杆转动连接，所述螺纹杆的另一端穿过滑块与支撑板，且螺纹杆的另一端与手轮固定连接。优选的，所述滑槽关于支撑板的竖直中心线对称设置有两个，且滑槽与滑块滑动连接。优选的，所述限位板关于支撑板的竖直中心线对称设置有两个，且两个限位板边侧的安装槽相对设置。优选的，所述卡槽一与卡槽二均设置有多个，且卡槽二的长度大于卡槽一的长度。与现有技术相比，本技术提供了一种用于测试IC芯片的COB板，具备以下有益效果：1、该用于测试IC芯片的COB板，通过卡槽一与卡槽二多个的设计，大大增加了COB板的工作效率，同时卡槽一与卡槽二长度不同的设计，可便于对不同厚度的IC芯片进行测试；2、该用于测试IC芯片的COB板，通过滑槽、滑块、螺纹杆与限位板的设计，可便于COB板对不同大小的IC芯片进行测试，进而大大提高了COB板的实用性，便于日常测试的使用。附图说明图1为本技术立体结构示意图；图2为本技术主视结构示意图；图3为本技术俯视结构示意图。其中：1、支撑板；2、支撑腿；3、滑槽；4、螺纹杆；5、限位板；6、滑块；7、手轮；8、安装槽；9、连接片；10、卡槽一；11、卡槽二。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，一种用于测试IC芯片的COB板，包括支撑板1，支撑板1的下端固定连接有支撑腿2，支撑板1上端的边侧开设有滑槽3，滑槽3的内部设置有螺纹杆4，滑槽3的上端设置有限位板5，限位板5的下端固定连接有滑块6，支撑板1的边侧设置有手轮7，限位板5上端的边侧开设有安装槽8，安装槽8的内部固定连接有连接片9，支撑板1的上端开设有卡槽一10，支撑板1的上端位于卡槽一10的右侧开设有卡槽二11。进一步的，支撑腿2呈矩形阵列设置有四个，且支撑腿2均等间距分布于支撑板1的下端，支撑腿2采用橡胶材质设置，可有效保证COB板在工作过程中的稳定性。进一步的，滑槽3与螺纹杆4转动连接，螺纹杆4的另一端穿过滑块6与支撑板1，且螺纹杆4的另一端与手轮7固定连接，手轮7与螺纹杆4的设计，可带动滑块6进行移动。进一步的，滑槽3关于支撑板1的竖直中心线对称设置有两个，且滑槽3与滑块6滑动连接，滑槽3的设计，便于滑块6能更好的移动。进一步的，限位板5关于支撑板1的竖直中心线对称设置有两个，且两个限位板5边侧的安装槽8相对设置，安装槽8相对设置，可有效的对IC芯片进行固定。进一步的，卡槽一10与卡槽二11均设置有多个，且卡槽二11的长度大于卡槽一10的长度，多个卡槽的设计，保证了COB板的工作效率，同时不同长度的设计，可便于对不同厚度的IC芯片进行测试。在使用时，取所需要进行测试的IC芯片，进而将IC芯片插入卡槽一10中，通过卡槽一10多个的设计，可同时插入多个IC芯片，进而大大提高了COB板的工作效率，当需要对较厚的IC芯片进行测试时，可将较厚的IC芯片插入卡槽二11的内部，进而直接对较厚的IC芯片进行测试，当需要对体积较大的IC芯片进行测试时，可通过手动转动手轮7，在螺纹杆4与滑块6的带动下对限位板5的位置进行调节，进而将IC芯片卡个在安装槽8的内部，通过连接片9与IC芯片直接接触，可直接对IC芯片进行测试，同时在测试的过程中，支撑腿2可有效的对COB受到的震动进行缓冲，进而保证COB板的稳定性。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试IC芯片的COB板，包括支撑板（1），其特征在于：所述支撑板（1）的下端固定连接有支撑腿（2），所述支撑板（1）上端的边侧开设有滑槽（3），所述滑槽（3）的内部设置有螺纹杆（4），所述滑槽（3）的上端设置有限位板（5），所述限位板（5）的下端固定连接有滑块（6），所述支撑板（1）的边侧设置有手轮（7），所述限位板（5）上端的边侧开设有安装槽（8），所述安装槽（8）的内部固定连接有连接片（9），所述支撑板（1）的上端开设有卡槽一（10），所述支撑板（1）的上端位于卡槽一（10）的右侧开设有卡槽二（11）。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测试IC芯片的COB板，包括支撑板（1），其特征在于：所述支撑板（1）的下端固定连接有支撑腿（2），所述支撑板（1）上端的边侧开设有滑槽（3），所述滑槽（3）的内部设置有螺纹杆（4），所述滑槽（3）的上端设置有限位板（5），所述限位板（5）的下端固定连接有滑块（6），所述支撑板（1）的边侧设置有手轮（7），所述限位板（5）上端的边侧开设有安装槽（8），所述安装槽（8）的内部固定连接有连接片（9），所述支撑板（1）的上端开设有卡槽一（10），所述支撑板（1）的上端位于卡槽一（10）的右侧开设有卡槽二（11）。


2.根据权利要求1所述的一种用于测试IC芯片的COB板，其特征在于：所述支撑腿（2）呈矩形阵列设置有四个，且支撑腿（2）均等间距分布于支撑板（1）的下端，所述支撑腿（2）采用橡胶材质设置。


3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘盛华，
申请(专利权)人：上海北芯集成电路技术有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31