一种机械振打器双向密封性能测试系统技术方案

技术编号:26830230 阅读:25 留言:0更新日期:2020-12-25 12:32
本实用新型专利技术涉及一种机械振打器双向密封性能测试系统,包括导筒、活塞杆和撞击杆;还包括测距元件一、测距元件二、反光元件一、反光元件二和处理器,反光元件一和反光元件二沿振打器的轴向间隔固定安装在导筒内的尾部;测距元件一和测距元件二沿活塞杆的轴向间隔固定安装在活塞杆的伸缩端,其均位于反光元件一和反光元件二之间,测距元件二位于测距元件一远离活塞杆伸缩端部的一侧;测距元件一和测距元件二分别与处理器通讯连接,并分别用于测量测距元件一与反光元件一之间的间距以及测距元件二与反光元件二之间的间距。有益效果是可实现振打器密封性能的快速测试,测试方法简便,也可以提高实验效率,系统整体机构设计合理,安全可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种机械振打器双向密封性能测试系统
本技术涉及机械振打器密封性能检测
,具体涉及一种机械振打器双向密封性能测试系统。
技术介绍
目前工业生产中,自动振打除灰装置因有效的解决了煤气化过程中气化设备换热面积灰影响传热的问题而得到了广泛推广和应用,其执行单元——机械振打器直接安装在气化设备上,其运行环境复杂,不合适的密封方式将造成严重的事故。因此,气化工艺对其密封性能的要求极其严格,需保证机械振打器在所有工况下没有至大气侧的泄露,即外泄漏量为零。批量生产的机械振打器在实际应用前需要模拟工况进行全面的密封性能测试。目前未见类似双向密封性能测试方法方面的报道。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种机械振打器双向密封性能测试系统,旨在解决上述技术问题。本技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种机械振打器双向密封性能测试系统,振打器包括导筒、活塞杆和撞击杆,所述活塞杆和所述撞击杆沿所述导筒的轴向同轴滑动,所述撞击杆的一端与所述活塞杆相抵,另一端延伸至所述导筒的前端;所述机械振打器双向密封性能测试系统包括测距元件一、测距元件二、反光元件一、反光元件二和处理器,所述反光元件一和所述反光元件二沿振打器的轴向间隔固定安装在所述导筒内的尾部;所述测距元件一和所述测距元件二沿所述活塞杆的轴向间隔固定安装在所述活塞杆的伸缩端,其均位于所述反光元件一和所述反光元件二之间,所述测距元件二位于所述测距元件一远离所述活塞杆伸缩端部的一侧,所述反光元件一靠近所述导筒的尾部;所述测距元件一和所述测距元件二分别与所述处理器通讯连接,并分别用于测量所述测距元件一与所述反光元件一之间的间距以及所述测距元件二与所述反光元件二之间的间距,并分别将对应的间距信号发送给所述处理器;所述处理器接收对应的信号,并判断振打器密封性能是否故障。本技术的有益效果是:振打器双向密封性能测试的过程中,首先,分别通过测距元件一和测距元件二测量测距元件一与反光元件一之间的间距以及测距元件二与反光元件二之间的间距,并分别将对应的间距信号发送给处理器;然后,处理器接收对应的信号,并判断振打器密封性能是否故障。本技术可实现振打器密封性能的快速测试,测试方法简便,同时也可以提高实验效率,系统整体机构设计合理,安全可靠。在上述技术方案的基础上,本技术还可以做如下改进。进一步,所述处理器包括通过线路依次连接的信号接收模块、比较模块和数据输出模块,所述信号接收模块分别与所述测距元件一和所述测距元件二通讯连接,用于接收所述测距元件一和所述测距元件二发送的间距信号,并发送给所述比较模块;所述比较模块用于接收对应的间距信号,并与预设值进行比较,以判断振打器双向密封系统是否故障,并将判断的结果发送给所述数据输出模块;所述数据输出模块用于输出判断结果。采用上述进一步方案的有益效果是首先,通过信号接收模块接收对应的间距信号,并发送给比较模块;然后,比较模块接收对应的间距信号,将对应的间距与预设值进行比较判断,并判断的结果发送给数据输出模块;最后,数据输出模块接收对应的结果并输出,处理方便快捷,精准度高。进一步,所述数据输出模块包括分别通过线路与所述比较模块连接的第一数据输出单元和第二数据输出单元,所述第一数据输出单元用于若测试的间距数据在预设范围之内时,输出振打器双向密封系统正常的结果;所述第二数据输出单元用于若测试的间距数据不在预设范围之外时,输出振打器双向密封系统故障的结果。采用上述进一步方案的有益效果是测量过程中,分别通过第一数据输出单元和第二数据输出单元输出振打器密封性能正常和故障的结果,两条线路并列设置,互不干扰,保证测量数据的准确性,精准度更高。进一步,还包括报警器,所述报警器与所述处理器通讯连接,用于当振打器密封性能出现故障时进行报警。采用上述进一步方案的有益效果是当振打器密封性能出现故障时通过报警器进行示警,提醒工作人员及时调整,保证安全生产。进一步,所述报警器为声光报警器。采用上述进一步方案的有益效果是结构简单,同时利用声音和光线示警,提醒效果更佳。进一步,所述测距元件一和/或所述测距元件二为激光测距元件。采用上述进一步方案的有益效果是激光的穿透力强,数据测量更为精准。进一步,所述测距元件一和/或所述测距元件二为激光测距仪。采用上述进一步方案的有益效果是激光的穿透力强,数据测量更为精准。进一步,所述反光元件一和/或所述反光元件二为反光板。采用上述进一步方案的有益效果是结构简单,辅助测距元件测量,提高数据测量的准确性。一种利用如上所述测试系统测试机械振打器双向密封性能的方法,具体包括以下步骤:S1:向所述导筒的内壁、撞击杆与所述活塞杆形成的腔体内充入密封气体,以形成密封腔;S2:所述活塞杆伸缩过程中,分别通过所述测距元件一和所述测距元件二测量所述测距元件一与所述反光元件一之间的间距D1以及所述测距元件二与所述反光元件二之间的间距D0;S3:判断M=L-D0-D1是否成立,其中M为所述测距元件一和所述测距元件二之间的间距,L为所述活塞杆运行的最大路径;当M=L-D0-D1成立时,振打器密封性能正常;当M=L-D0-D1不成立时,振打器密封性能故障。采用上述进一步方案的有益效果是活塞杆伸缩的过程,通过测量测距元件一与反光元件一之间的间距D1以及测距元件二与反光元件二之间的间距D0,并判断M=L-D0-D1是否成立,从而有效判断振打器密封性能是否故障,以便及时补救,保证安全生产。进一步,所述步骤S1中,密封气体为氮气。采用上述进一步方案的有益效果是密封效果较佳,保护环境。附图说明图1为本技术测试系统与振打器配合的结构示意图;图2为图1中A的放大图;图3为本技术中处理器与报警器的结构示意图;图4为本技术振打器双向密封性能测试流程。附图中,各标号所代表的部件列表如下:1、测距元件一,2、测距元件二,3、反光元件一,4、反光元件二,5、导筒,6、活塞杆,7、信号接收模块,8、比较模块,9、数据输出模块,91、第一数据输出单元,92、第二数据输出单元,10、报警器,11、撞击杆,12、充气孔,13、气缸,14、法兰,15、双向Y型密封圈,16、活塞环,17、过滤器,18、弹簧,19、衬圈,20、导向环。具体实施方式以下结合附图及具体实施例对本技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本技术,并非用于限定本技术的范围。如图1至图4所示,本技术提供一种机械振打器双向密封性能测试系统,振打器包括导筒5、活塞杆6和撞击杆11,活塞杆6和撞击杆11沿导筒5的轴向同轴滑动,撞击杆11的一端与活塞杆6相抵,另一端延伸至导筒6的前端;机械振打器双向密封性能测试系统包括测距元件一1、测距元件二2、反光元件一3、反光元件二4和处理器,反光元件一3和反光元件二4沿振打器的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机械振打器双向密封性能测试系统,振打器包括导筒(5)、活塞杆(6)和撞击杆(11),所述活塞杆(6)和所述撞击杆(11)沿所述导筒(5)的轴向同轴滑动,所述撞击杆(11)的一端与所述活塞杆(6)的一端相抵,另一端延伸至所述导筒(5)的前端,所述撞击杆(11)的一端、所述活塞杆(6)的一端以及所述导筒(5)的内壁之间形成密封腔;其特征在于:所述机械振打器双向密封性能测试系统包括测距元件一(1)、测距元件二(2)、反光元件一(3)、反光元件二(4)和处理器,所述反光元件一(3)和所述反光元件二(4)沿振打器的轴向间隔固定安装在所述导筒(5)内的尾部;所述测距元件一(1)和所述测距元件二(2)沿所述活塞杆(6)的轴向间隔固定安装在所述活塞杆(6)的伸缩端,其均位于所述反光元件一(3)和所述反光元件二(4)之间,所述测距元件二(2)位于所述测距元件一(1)远离所述活塞杆(6)伸缩端部的一侧,所述反光元件一(3)靠近所述导筒(5)的尾部;所述测距元件一(1)和所述测距元件二(2)分别与所述处理器通讯连接,并分别用于测量所述测距元件一(1)与所述反光元件一(3)之间的间距以及所述测距元件二(2)与所述反光元件二(4)之间的间距,并分别将对应的间距信号发送给所述处理器;所述处理器接收对应的信号,并判断振打器密封性能是否故障。/n...

【技术特征摘要】
1.一种机械振打器双向密封性能测试系统,振打器包括导筒(5)、活塞杆(6)和撞击杆(11),所述活塞杆(6)和所述撞击杆(11)沿所述导筒(5)的轴向同轴滑动,所述撞击杆(11)的一端与所述活塞杆(6)的一端相抵,另一端延伸至所述导筒(5)的前端,所述撞击杆(11)的一端、所述活塞杆(6)的一端以及所述导筒(5)的内壁之间形成密封腔;其特征在于:所述机械振打器双向密封性能测试系统包括测距元件一(1)、测距元件二(2)、反光元件一(3)、反光元件二(4)和处理器,所述反光元件一(3)和所述反光元件二(4)沿振打器的轴向间隔固定安装在所述导筒(5)内的尾部;所述测距元件一(1)和所述测距元件二(2)沿所述活塞杆(6)的轴向间隔固定安装在所述活塞杆(6)的伸缩端,其均位于所述反光元件一(3)和所述反光元件二(4)之间,所述测距元件二(2)位于所述测距元件一(1)远离所述活塞杆(6)伸缩端部的一侧,所述反光元件一(3)靠近所述导筒(5)的尾部;所述测距元件一(1)和所述测距元件二(2)分别与所述处理器通讯连接,并分别用于测量所述测距元件一(1)与所述反光元件一(3)之间的间距以及所述测距元件二(2)与所述反光元件二(4)之间的间距,并分别将对应的间距信号发送给所述处理器;所述处理器接收对应的信号,并判断振打器密封性能是否故障。


2.根据权利要求1所述的机械振打器双向密封性能测试系统,其特征在于:所述处理器包括通过线路依次连接的信号接收模块(7)、比较模块(8)和数据输出模块(9),所述信号接收模块(7)分别与所述测距元件一(1)和所述测距元件二(2)通讯连接,用于接收所述测距元件一(1)和所述测距元件二...

【专利技术属性】
技术研发人员:喻九阳王景勋林纬汪威徐建民郑小涛王成刚易国英
申请(专利权)人:武汉工程大学武汉金惠科技有限公司
类型:新型
国别省市:湖北;42

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