【技术实现步骤摘要】
电测试柜
本技术涉及电性能的测试装置
，尤其是涉及一种电测试柜。
技术介绍
FPC(FlexiblePrintedCircuit，柔性电路板)在出厂前都需要使用电测治具进行通电测试，一般技术中，可通过微针接触柔性电路板测试点(如金手指)进行导通测试。一般技术中，FPC上的金手指测试位置为一个或多个，在测试时，都是由单台治具对具有上测试点或下测试点的单个产品进行测试(测试开短路、功能项目等)，测试效率较低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电测试柜，以缓解现有技术中存在的单台治具对具有上测试点或下测试点的单个产品进行测试，测试效率较低的技术问题。本技术实施例提供一种电测试柜，包括：主体框架、控制装置以及均安装于所述主体框架的送料机构和测试机构，所述送料机构和所述测试机构均与所述控制装置电连接；所述送料机构包括可水平移动地设于所述主体框架的移动载台，所述移动载台上设有供待测产品安装的避位孔；所述测试机构包括上模组件和下模组件；所述上模组件包括上模载板以及驱动所述上模载板...
【技术保护点】
1.一种电测试柜，其特征在于，包括：主体框架(100)、控制装置以及均安装于所述主体框架(100)的送料机构(200)和测试机构，所述送料机构(200)和所述测试机构均与所述控制装置电连接；/n所述送料机构(200)包括可水平移动地设于所述主体框架(100)的移动载台(210)，所述移动载台(210)上设有供待测产品安装的避位孔(211)；/n所述测试机构包括上模组件和下模组件；所述上模组件包括上模载板(310)以及驱动所述上模载板(310)做升降运动的上升降驱动模组(320)，所述上模载板(310)上设有用于对整版产品的上测试点进行测试的上测试针组；所述下模组件包括下模板...
【技术特征摘要】
1.一种电测试柜，其特征在于，包括：主体框架(100)、控制装置以及均安装于所述主体框架(100)的送料机构(200)和测试机构，所述送料机构(200)和所述测试机构均与所述控制装置电连接；
所述送料机构(200)包括可水平移动地设于所述主体框架(100)的移动载台(210)，所述移动载台(210)上设有供待测产品安装的避位孔(211)；
所述测试机构包括上模组件和下模组件；所述上模组件包括上模载板(310)以及驱动所述上模载板(310)做升降运动的上升降驱动模组(320)，所述上模载板(310)上设有用于对整版产品的上测试点进行测试的上测试针组；所述下模组件包括下模板、下测试针组(330)以及下升降驱动模组(340)，所述下测试针组(330)用于对整版产品的下测试点进行测试，所述下升降驱动模组(340)用于驱动所述下测试针组(330)做升降运动，所述下模板固定连接于所述移动载台(210)的所述避位孔处，所述上测试针组和所述下测试针组(330)分别位于所述避位孔的上下两侧，以分别对具有上、下测试点的待测产品进行通电测试。
2.根据权利要求1所述的电测试柜，其特征在于，所述主体框架(100)包括底板(110)、顶板(120)以及连接于两者之间的侧板(130)，所述底板(110)、所述顶板(120)以及所述侧板(130)围设成容置空间，所述送料机构(200)和所述测试机构均安装于所述容置空间内；
所述容置空间具有料口(140)，用于使待测产品能够由所述料口(140)送入所述送料机构(200)或移出所述送料机构(200)。
3.根据权利要求2所述的电测试柜，其特征在于，所述送料机构(200)还包括电缸(220)、滑轨(230)以及滑块(240)；
所述电缸(220)和所述滑轨(230)均安装于所述底板(110)，所述滑块(240)滑动连接于所述滑轨(230)；
所述电缸(220)的输出端设有连接板(250)，所述连接板(250)与所述滑块(240)之间设有起到浮动连接作用的浮动组件，所述浮动组件包括固定连接的第一关节轴承(260)和第二关节轴承(270)；所述第一关节轴承(260)通过第一螺纹件(280)连接于所述连接板(250)，所述第二关节轴承(270)通过第二螺纹件(290)连接于所述滑块(240)；
所述移动载台(210)固定连接于所述滑块(240)。
4.根据权利要求2所述的电测试柜，其特征在于，所述上模组件还包括上模固定板(350)，所述上模固定板(350)固定连接于所述顶板(120)；
所述上模...
【专利技术属性】
技术研发人员：张凯，陈龙，许兵兵，于向奎，
申请(专利权)人：上海金东唐科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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