大平面工件外观检测系统技术方案

技术编号:26809059 阅读:14 留言:0更新日期:2020-12-22 17:40
本实用新型专利技术涉及大平面工件外观检测系统,具有工作平台;工作平台上固定设有滑轨;滑轨上滑动设有滑块;工作平台上设有用于驱动滑块沿滑轨滑动的第一驱动装置;滑块上设有用于待检工件的定位平台;定位平台上设有用于吸附待检工件的真空吸头;工作平台上的机架上设有用于拍摄工件的大平面的第一摄像组件;第一摄像组件位于滑轨的上方;第一摄像组件包括第一线扫描工业相机以及与第一线扫描工业相机配合使用的第一线性光源;第一线扫描工业相机固定连接在机架上且用于拍摄工件的大平面;第一线性光源固定连接在机架上且用于向工件的大平面照射;工作平台上位于滑轨的一端设有定位板。本实用新型专利技术能够随着大平面工件的移动,对其大平面进行外观检测。

【技术实现步骤摘要】
大平面工件外观检测系统
本技术涉及外观检测设备,特别涉及一种大平面工件外观检测系统。
技术介绍
随着工件检测的不断进步和发展,视觉检测系统被越来越多的领域所引用。现有视觉检测系统大多是用于检测细小、设计多样性、数量巨大的零部件。在检测时,一个拍摄相机往往只进行一个角度的拍摄,当一个角度拍摄完成后,往往需要依靠机械驱动,将工件转移到下一检测工位,并且工件或者拍摄相机需要进行角度变化,从而满足检测要求。由于大尺寸的零部件,转移和定位要求较高,机械设计成本高;特别是一些具有大平面且相对较薄的零部件在依靠机械转移时,也极易造成损坏。因此一些尺寸较大的零部件大多还是依靠人工检测。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种大平面工件外观检测系统,该检测系统可以对大平面的外观缺陷进行高效、精准检测。实现本技术目的的技术方案是:本技术具有工作平台;所述工作平台上固定设有滑轨;所述滑轨上滑动设有滑块;所述工作平台上设有用于驱动滑块沿滑轨滑动的第一驱动装置;所述滑块上设有用于放置工件的定位平台;所述定位平台上设有用于吸附待检工件的真空吸本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.大平面工件外观检测系统,具有工作平台(1);其特征在于:所述工作平台(1)上固定设有滑轨;所述滑轨上滑动设有滑块(2);所述工作平台(1)上设有用于驱动滑块(2)沿滑轨滑动的第一驱动装置(3);所述滑块(2)上设有用于放置工件的定位平台(4);所述定位平台(4)上设有用于吸附待检工件的真空吸头;所述工作平台(1)上设有机架(11),机架(11)上设有用于拍摄工件的大平面的第一摄像组件(5);第一摄像组件(5)位于滑轨的上方;所述第一摄像组件(5)包括第一线扫描工业相机(51)以及与第一线扫描工业相机(51)配合使用的第一线性光源(52);所述第一线扫描工业相机(51)固定连接在机架(11)...

【技术特征摘要】
1.大平面工件外观检测系统,具有工作平台(1);其特征在于:所述工作平台(1)上固定设有滑轨;所述滑轨上滑动设有滑块(2);所述工作平台(1)上设有用于驱动滑块(2)沿滑轨滑动的第一驱动装置(3);所述滑块(2)上设有用于放置工件的定位平台(4);所述定位平台(4)上设有用于吸附待检工件的真空吸头;所述工作平台(1)上设有机架(11),机架(11)上设有用于拍摄工件的大平面的第一摄像组件(5);第一摄像组件(5)位于滑轨的上方;所述第一摄像组件(5)包括第一线扫描工业相机(51)以及与第一线扫描工业相机(51)配合使用的第一线性光源(52);所述第一线扫描工业相机(51)固定连接在机架(11)上且用于拍摄工件的大平面;所述第一线性光源(52)固定连接在机架(11)上且用于向工件的大平面照射;所述工作平台(1)上位于滑轨的一端设有可在定位平台(4)移动至滑轨的该端时,与定位平台(4)形成位置校准的定位板(6)。


2.根据权利要求1所述的大平面工件外观检测系统,其特征在于:所述定位平台(4)转动设置在滑块(2)上;所述滑块(2)上设有用于驱动定位平台(4)转动的第二驱动装置。


3.根据权利要求1所述的大平面工件外观检测系统,其特征在于:所述定位平台(4)转动设置在滑块(2)上;所述滑块(2)上设有用于驱动定位平台(4)转动的第二驱动装置;所述机架(11)上位于滑轨的两侧对称设有用于拍摄工件的边缘的第二摄像组件(7);所述第二摄像组件(7)包括固定设置在机架(11)上的支架(71),支架(71)上设有第二线扫描工业相机(72)以及与第二线扫描工业相机(72)配合使用的第二线性光...

【专利技术属性】
技术研发人员:裴卫巍潘正颐侯大为王罡
申请(专利权)人:常州微亿智造科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1