一种静态随机存储器中冗余信息修复方法、装置、存储介质及终端制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种静态随机存储器中冗余信息修复方法、装置、存储介质及终端，所述方法包括：当针对芯片中的存储阵列进行内建自测试实现时，共享所述存储阵列中各静态随机存储器的信息数据；根据所述各静态随机存储器的信息数据进行冗余分析，生成所述各静态随机存储器所需增加的冗余信息；基于所述所需增加的冗余信息对所述各静态随机存储器进行冗余信息分配。因此，采用本申请实施例，可以用来在芯片开发初级阶段快速的评估静态随机存储器的冗余逻辑信息，并对冗余逻辑信息进行修复，从而提升了芯片的良品率。

【技术实现步骤摘要】
一种静态随机存储器中冗余信息修复方法、装置、存储介质及终端
本专利技术涉及芯片
，特别涉及一种静态随机存储器中冗余信息修复方法、装置、存储介质及终端。
技术介绍
在芯片制造中，随着工艺节点的持续缩小，芯片的逻辑规模越来越大，同样存储能力的静态随机存储器(SRAM)本身的密度也得到了极大的提高，导致集成到单颗芯片上的静态随机存取存储器(SRAM)的数量迅速增大，以至于在现有的芯片规模不断增大的同时，静态随机存取存储器的规模也在不断提高，使得大多数芯片中的静态随机存取存储器可以占有单颗芯片一半以上的面积。如此大规模的应用使静态随机存取存储器(SRAM)极易受到缺陷的影响而报废整颗芯片。因此，如何规划静态随机存取存储器(SRAM)的测试和实现方案对整个芯片的良品率(yield)和产出具有极大的意义。在现有技术方案中，一种是基于制造厂(Foundry)给出的宏观推荐，这种方式颗粒度比较大。随着存储单元的面积增加，同等条件下存储单元和逻辑单元的良率差距越来越大。因此(制造厂)Foundry给出了宏观的修复方案，当存储单元大小超过某一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种静态随机存储器中冗余信息修复方法，其特征在于，所述方法包括：/n当针对芯片中的存储阵列进行内建自测试实现时，共享所述存储阵列中各静态随机存储器的信息数据；/n根据所述各静态随机存储器的信息数据进行冗余分析，生成所述各静态随机存储器所需增加的冗余信息；/n基于所述所需增加的冗余信息对所述各静态随机存储器进行冗余信息分配。/n

【技术特征摘要】
1.一种静态随机存储器中冗余信息修复方法，其特征在于，所述方法包括：
当针对芯片中的存储阵列进行内建自测试实现时，共享所述存储阵列中各静态随机存储器的信息数据；
根据所述各静态随机存储器的信息数据进行冗余分析，生成所述各静态随机存储器所需增加的冗余信息；
基于所述所需增加的冗余信息对所述各静态随机存储器进行冗余信息分配。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当当针对芯片中的存储阵列进行内建自测试实现时之前，还包括：
接收预设冗余评估算法；
将所述冗余评估算法嵌入到针对芯片中的存储阵列内建自测试逻辑中。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述各静态随机存储器的信息数据进行冗余分析，生成所述各静态随机存储器所需增加的冗余信息，包括：
根据所述各静态随机存储器的容量大小进行降序排列，生成排列后的各静态随机存储器；
根据所述排列后的各静态随机存储器读取所述各静态随机存储器共享的参数信息；
基于所述共享的参数信息进行行列修复计算，生成所述各静态随机存储器中行列冗余的权值；
将所述各静态随机存储器中行列冗余的权值进行迭代比较，得到所述各静态随机存储器中最优的行列冗余权值；
将所述各静态随机存储器中最优的行列冗余权值进行升序排列，生成排列后的权值集合；
基于所述排列后的权值集合计算所述各静态随机存储器的冗余分布，生成所述各静态随机存储器的冗余信息。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述共享的参数信息进行行列修复计算，生成所述各静态随机存储器中行列冗余的权值，包括：
获取所述各静态随机存储器共享的参数信息中的分组信息、修复信息以及所述芯片的面积估计值；
将所述分组信息、修复信息以及所述芯片的面积估计值输入预设行列权值计算公式中，生成所述各静态随机存储器中行列冗余的权值。


5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗海燕，王文武，杨涛，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11