一种测试电池内阻的集成芯片制造技术

技术编号:26788953 阅读:24 留言:0更新日期:2020-12-22 17:03
本发明专利技术公开了一种测试电池内阻的集成芯片,包括集成芯片装配舱、维护便捷结构和防护屏蔽结构,所述集成芯片装配舱的一侧设置有测试电池装配结构,且集成芯片装配舱的两侧均开设有通气孔,所述维护便捷结构设置于集成芯片装配舱的内部,所述维护便捷结构的一侧连接有芯片防护散热装配结构,且芯片防护散热装配结构的内部装配有测试集成芯片,所述防护屏蔽结构设置于集成芯片装配舱的内壁。本发明专利技术通过相互匹配设置的插杆装配槽与测试插杆,能够保证测试插杆安装与使用的便利性,并且通过设置的测试插杆能够方便对铅蓄电池等大型尺寸的电池进行内阻测试,以此能够提高集成芯片测试电池内阻类型的多样性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试电池内阻的集成芯片
本专利技术涉及电池内阻测试芯片
,具体为一种测试电池内阻的集成芯片。
技术介绍
集成芯片是现代数字集成芯片主要使用CMOS工艺制造的。CMOS器件的静态功耗很低,但是在高速开关的情况下,CMOS器件需要电源提供瞬时功率,高速CMOS器件的动态功率要求超过同类双极性器件。因此必须对这些器件加去耦电容以满足瞬时功率要求。现代集成芯片有多种封装结构,对于分立元件,引脚越短,EMI问题越小。因为表贴器件有更小的安装面积和更低的安装位置,因此有更好的EMC性能,所以应首选表贴元件,甚至直接在PCB上安装裸片。一般在对电池内阻进行测试时会因为电池的尺寸与型号不同而无法匹配测试,并且在测试时会因为外界的电磁影响而导致测试结果不准确的问题,同时在集成芯片使用时存在芯片防护、散热、维护等不便的问题,为此,我们提出一种实用性更高的测试电池内阻的集成芯片。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试电池内阻的集成芯片,解决了一般在对电池内阻进行测试时会因为电池的尺寸与型号不同而无法匹配测试,并且在测试时会因为外界的电磁影响而导致测试结果不准确的问题,同时在集成芯片使用时存在芯片防护、散热、维护等不便的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种测试电池内阻的集成芯片,包括集成芯片装配舱、维护便捷结构和防护屏蔽结构,所述集成芯片装配舱的一侧设置有测试电池装配结构,且集成芯片装配舱的两侧均开设有通气孔,所述维护便捷结构设置于集成芯片装配舱的内部,所述维护便捷结构的一侧连接有芯片防护散热装配结构,且芯片防护散热装配结构的内部装配有测试集成芯片,所述防护屏蔽结构设置于集成芯片装配舱的内壁,所述集成芯片装配舱的一端设置有拆卸维护结构。优选的,所述测试电池装配结构包括电池装配舱、第一电池连接触点、第二电池连接触点、按压盘、连接轴、插杆装配槽和测试插杆,且电池装配舱内部的底端设置有第一电池连接触点,并且第一电池连接触点的上方设置有第二电池连接触点,所述第二电池连接触点的上端连接有连接轴,且连接轴的上端连接有按压盘,所述电池装配舱的外侧端面开设有插杆装配槽,且插杆装配槽的内部设置有测试插杆。优选的,所述连接轴贯穿于电池装配舱的内部,且第二电池连接触点通过按压盘和连接轴与电池装配舱之间构成伸缩结构,并且第一电池连接触点与第二电池连接触点之间上下相互对齐。优选的,所述插杆装配槽和测试插杆均设置有两个,且插杆装配槽与测试插杆之间相互匹配。优选的,所述芯片防护散热装配结构包括装配卡板、卡槽和连接垫片,且装配卡板的内部设置有卡槽,并且卡槽的内部安置有连接垫片。优选的,所述装配卡板通过卡槽与测试集成芯片之间相互卡合,且测试集成芯片的下端与连接垫片之间相互贴合,并且测试集成芯片的下端面与装配卡板内端面之间的间隙范围为0-5mm。优选的,所述维护便捷结构包括装配电机、螺杆、滑块和限位槽,且装配电机的输出端连接有螺杆,并且螺杆的外侧连接有滑块,同时滑块的外侧设置有限位槽,所述装配电机通过螺杆与滑块之间构成伸缩结构,且滑块通过限位槽与集成芯片装配舱之间构成滑动结构。优选的,所述防护屏蔽结构包括屏蔽防护金属网和固定压杆,且屏蔽防护金属网的外侧设置有固定压杆,所述屏蔽防护金属网与集成芯片装配舱的内壁之间紧密贴合,并且固定压杆设置有多组。优选的,所述拆卸维护结构包括连接合页、密封盖板、插接头和插接槽,且连接合页的一侧连接有密封盖板,并且密封盖板的内端面设置有插接头,同时连接合页关于连接合页竖直中心线的对称位置设置有插接槽,所述密封盖板通过连接合页与集成芯片装配舱之间构成转动结构,且插接头与插接槽之间为插接。与现有技术相比,本专利技术的有益效果如下:1、本专利技术通过设置的测试电池装配结构能够方便该种集成芯片对电池内阻检测使用的便捷性,通过测试电池的直接装配能够提高电池内阻的测试效率,并且通过设置的电池装配舱能够在其内部装配不同尺寸的电池,以此能提高电池测试的便捷性,并且通过手动按压按压盘的方式也能保证电池测试时接触的紧密性,避免出现接触不稳定而造成测试不精准的问题。2、本专利技术通过相互匹配设置的插杆装配槽与测试插杆,能够保证测试插杆安装与使用的便利性,并且通过设置的测试插杆能够方便对铅蓄电池等大型尺寸的电池进行内阻测试,以此能够提高集成芯片测试电池内阻类型的多样性。3、本专利技术芯片防护散热装配结构能够对测试集成芯片进行防护散热处理,设置的测试集成芯片卡合装配在卡槽中,如此能避免测试集成芯片受到外界的碰撞而受到损伤,同时通过设置的连接垫片能使测试集成芯片与装配卡板之间保持一定的间隙,以此能通过间隙达到散热通风的效果。4、本专利技术设置的维护便捷结构能够方便对测试集成芯片的位置进行调节处理,如此能方便提高装置内部零部件损毁后更换维护的便利性,并且通过滑块与限位槽之间相互匹配卡合能保证测试集成芯片工作时结构的稳定性。5、本专利技术防护屏蔽结构的设置能够起到电磁防护的效果,如此能避免外界的电磁传递对集成芯片的测试造成影响,如此能提高芯片测试的准确性,并且设置的拆卸维护结构能够方便打开装置,从而能够对装置内部的零部件进行维护处理,大大提高了该种测试电池内阻的集成芯片的实用性。附图说明图1为本专利技术结构示意图;图2为本专利技术集成芯片装配舱内部结构示意图;图3为本专利技术维护便捷结构侧视结构示意图;图4为本专利技术集成芯片装配舱内端面结构示意图;图5为本专利技术测试集成芯片与芯片防护散热装配结构连接处立体结构示意图;图6为本专利技术集成芯片装配舱底端展开结构示意图。图中:1、集成芯片装配舱;2、测试电池装配结构;201、电池装配舱;202、第一电池连接触点;203、第二电池连接触点;204、按压盘;205、连接轴;206、插杆装配槽;207、测试插杆;3、通气孔;4、测试集成芯片;5、芯片防护散热装配结构;501、装配卡板;502、卡槽;503、连接垫片;6、维护便捷结构;601、装配电机;602、螺杆;603、滑块;604、限位槽;7、防护屏蔽结构;701、屏蔽防护金属网;702、固定压杆;8、拆卸维护结构;801、连接合页;802、密封盖板;803、插接头;804、插接槽。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上;术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电池内阻的集成芯片,包括集成芯片装配舱(1)、维护便捷结构(6)和防护屏蔽结构(7),其特征在于:所述集成芯片装配舱(1)的一侧设置有测试电池装配结构(2),且集成芯片装配舱(1)的两侧均开设有通气孔(3),所述维护便捷结构(6)设置于集成芯片装配舱(1)的内部,所述维护便捷结构(6)的一侧连接有芯片防护散热装配结构(5),且芯片防护散热装配结构(5)的内部装配有测试集成芯片(4),所述防护屏蔽结构(7)设置于集成芯片装配舱(1)的内壁,所述集成芯片装配舱(1)的一端设置有拆卸维护结构(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试电池内阻的集成芯片,包括集成芯片装配舱(1)、维护便捷结构(6)和防护屏蔽结构(7),其特征在于:所述集成芯片装配舱(1)的一侧设置有测试电池装配结构(2),且集成芯片装配舱(1)的两侧均开设有通气孔(3),所述维护便捷结构(6)设置于集成芯片装配舱(1)的内部,所述维护便捷结构(6)的一侧连接有芯片防护散热装配结构(5),且芯片防护散热装配结构(5)的内部装配有测试集成芯片(4),所述防护屏蔽结构(7)设置于集成芯片装配舱(1)的内壁,所述集成芯片装配舱(1)的一端设置有拆卸维护结构(8)。


2.根据权利要求1所述的一种测试电池内阻的集成芯片,其特征在于:所述测试电池装配结构(2)包括电池装配舱(201)、第一电池连接触点(202)、第二电池连接触点(203)、按压盘(204)、连接轴(205)、插杆装配槽(206)和测试插杆(207),且电池装配舱(201)内部的底端设置有第一电池连接触点(202),并且第一电池连接触点(202)的上方设置有第二电池连接触点(203),所述第二电池连接触点(203)的上端连接有连接轴(205),且连接轴(205)的上端连接有按压盘(204),所述电池装配舱(201)的外侧端面开设有插杆装配槽(206),且插杆装配槽(206)的内部设置有测试插杆(207)。


3.根据权利要求2所述的一种测试电池内阻的集成芯片,其特征在于:所述连接轴(205)贯穿于电池装配舱(201)的内部,且第二电池连接触点(203)通过按压盘(204)和连接轴(205)与电池装配舱(201)之间构成伸缩结构,并且第一电池连接触点(202)与第二电池连接触点(203)之间上下相互对齐。


4.根据权利要求2所述的一种测试电池内阻的集成芯片,其特征在于:所述插杆装配槽(206)和测试插杆(207)均设置有两个,且插杆装配槽(206)与测试插杆(207)之间相互匹配。


5.根据权利要求1所述的一种测试电池内阻的集成芯片,其特征在于:所述芯片防护散热装配结构(...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄稳岩黄志军
申请(专利权)人:江苏洛柳精密科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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