一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置，包括固定底板、X射线焦点瞄准微调滑台、准直狭缝架、探测器支架、底座，固定底板的顶端表面安装有高压电源，探测器支架的顶端安装有X射线探测器，准直狭缝架通过沉头内六角螺丝固定在于底座的顶端，X射线焦点瞄准微调滑台的通过杯头内六角螺丝固定于底座的顶端另一侧，X射线焦点瞄准微调滑台的顶端安装有X射线发射器。本实用新型专利技术能够保证准两处狭缝处于同一轴线上，可调节的微调滑台可以使射线焦点与狭缝处于同一轴线上，使X射线穿过一侧狭缝后可以准确的穿过另一侧狭缝，减小测量误差保障测量结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置
本技术涉及密度检测
，特别涉及一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置。
技术介绍
“剖面密度”(VerticalDensityProfile，简称VDP)，也称“断面密度”，是指试件沿厚度方向上的密度梯度变化。人造板剖面密度分析仪是一款无损检测试件剖面密度曲线的仪器，它能直观地显示试件的内在质量及物理性能，为用户优化生产工艺，提高产品质量提供相关参数。目前市面上的人造板剖面密度分析仪，使用的准直狭缝通常由两个带狭缝的物块组合而成(X射线发射器处狭缝宽度大于X射线探测器处狭缝宽度，因此需要加工两个狭缝物块)，X射线发射器采用螺丝直接固定形式不可调节。只有准直狭缝、X射线发射器的射线焦点两者处于同一轴线上所发射的X射线经过准直狭缝的准直和滤波后被X射线探测器完整的探测到，测量结果才最为准确。但是准直狭缝由两个带狭缝的物块组合而成，加工精度误差和装配误差精度要求非常高，在实际生产和仪器运输过程中难免会出现两个狭缝不在同一轴线上，螺丝固定形式的X射线发射器会出现射线焦点没有对准狭本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置，包括固定底板(1)、X射线焦点瞄准微调滑台(11)、准直狭缝架(12)、探测器支架(13)、底座(14)，其特征在于，所述固定底板(1)的顶端表面安装有高压电源(4)，所述高压电源(4)的一端设置有5V灯丝低压输出端(3)，所述高压电源(4)的另一端设置有高压输出端(5)，所述高压电源(4)的一侧设置有底座(14)，所述底座(14)的顶端一侧通过杯头内六角螺丝固定安装有探测器支架(13)，所述探测器支架(13)的顶端安装有X射线探测器(2)，所述准直狭缝架(12)通过沉头内六角螺丝(20)固定在于底座(14)的顶端，所述X射线焦点瞄准微调滑台(...

【技术特征摘要】
1.一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置，包括固定底板(1)、X射线焦点瞄准微调滑台(11)、准直狭缝架(12)、探测器支架(13)、底座(14)，其特征在于，所述固定底板(1)的顶端表面安装有高压电源(4)，所述高压电源(4)的一端设置有5V灯丝低压输出端(3)，所述高压电源(4)的另一端设置有高压输出端(5)，所述高压电源(4)的一侧设置有底座(14)，所述底座(14)的顶端一侧通过杯头内六角螺丝固定安装有探测器支架(13)，所述探测器支架(13)的顶端安装有X射线探测器(2)，所述准直狭缝架(12)通过沉头内六角螺丝(20)固定在于底座(14)的顶端，所述X射线焦点瞄准微调滑台(11)的通过杯头内六角螺丝固定于底座(14)的顶端另一侧，所述X射线焦点瞄准微调滑台(11)的顶端安装有X射线发射器(10)，所述X射线发射器(10)的一侧设置有灯丝电压(8)，所述灯丝电压(8)的一端设置有线缆(9)，且线缆(9)与高压电源(4)电性连接，所述底座(14)的顶端表面安装有步进电机电缸滑台(6)，所述步进电机电缸滑台(6)的顶端安装有样品架(7)，且样品架(7)设置有样品夹。


2.根据权利要求1所述的一种剖面密度检测的X射线准直狭缝架及瞄准装置，其特征在于，所述准直狭缝架(12)包括一体式U形座(15)、第一垫片(16)、第二垫片(17)、狭缝夹紧块(18)和长内六角螺栓(19)，所述第一垫片(16)和第二垫片(17)分别位于一体式U形座(15)的两侧，所述狭缝夹紧块(18)的数量...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡志宇，杜凯，吴福霖，王秋硕，
申请(专利权)人：武汉功大智控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42