一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种基于标准边界扫描电路的SIP器件，用于测试集成电路管芯，其特征在于，第二复用器连接第一测试访问端口控制器以及第一复用器，第三复用器连接第二复用器，第一数据寄存器连接第一测试访问端口控制器、第一测试数据输入以及第三复用器，第一指令寄存器连接第一测试数据输入、第一测试访问端口控制器、以及第二复用器，第一测试访问端口控制器用于响应第一指令寄存器，其中第一测试数据输入将多个第一指令值其中之一传送至第一指令寄存器，传送第一指令值至第一指令译码器，并对应第一数据寄存器，测试模式端口连接第一数据寄存器以及第一复用器，经由测试模式端口决定是否将第一数据寄存器接入旁路。

【技术实现步骤摘要】
一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统
本专利技术涉及一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统。本专利技术还涉及一种用于测试多个集成电路管芯的基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统。本专利技术还涉及一种以测试模式端口决定是否旁路移位寄存器之基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统。
技术介绍
随着电子电路技术的日新月异的更新，集成电路芯片越来越复杂，使用传统的万用表测试硬件电路越来越无法满足如今大规模集成电路故障芯片的测试需求。如何弥补传统测试的缺陷，为复杂的集成电路提供高效的测试方法已经成为当前电路测试领域的相关研究课题之一。扫描技术是实现数字系统可测试性的关键技术，它包括边界扫描、全扫描、部分扫描。边界扫描技术一开始是为了测试芯片之间的简单互连（即导线直接连接）。由于系统芯片(SystemInPackage；SIP)的设计是基于IP核的设计，IP核之间的互连也可以采用边界扫描技术来实现。边界扫描测试技术在降低产品测试成本，提高产品质量和可靠性以及缩短产品上市时间等方面有显着的优点。所以，边界扫描技术一提出就受到电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统，用于测试一集成电路管芯，其特征在于，包含：/n一测试模式选择信号、一测试时钟信号、一第一测试数据输入以及一第一测试数据输出；/n一第一测试访问端口控制器，连接该测试模式选择信号以及该测试时钟信号；/n一第一复用器，连接该第一测试数据输出；/n一第一正反器，连接该第一复用器；/n一第二复用器，连接该第一测试访问端口控制器、该第一复用器以及该第一正反器；/n一第一反向器，连接该第一正反器以及该第一测试访问端口控制器，该第一测试访问端口控制器传送该测试时钟信号至该第一反向器，该第一反向器传送该测试时钟信号至该第一正反器；/n一第三复用器，连接该第二复...

【技术特征摘要】
1.一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统，用于测试一集成电路管芯，其特征在于，包含：
一测试模式选择信号、一测试时钟信号、一第一测试数据输入以及一第一测试数据输出；
一第一测试访问端口控制器，连接该测试模式选择信号以及该测试时钟信号；
一第一复用器，连接该第一测试数据输出；
一第一正反器，连接该第一复用器；
一第二复用器，连接该第一测试访问端口控制器、该第一复用器以及该第一正反器；
一第一反向器，连接该第一正反器以及该第一测试访问端口控制器，该第一测试访问端口控制器传送该测试时钟信号至该第一反向器，该第一反向器传送该测试时钟信号至该第一正反器；
一第三复用器，连接该第二复用器；
一第一数据寄存器，连接该第一测试访问端口控制器、该第一测试数据输入以及该第三复用器；
一第一指令寄存器，连接该第一测试数据输入、该第一测试访问端口控制器、以及该第二复用器，该第一测试访问端口控制器用于响应该第一指令寄存器，其中该第一测试数据输入将多个第一指令值其中之一传送至该第一指令寄存器；
一第一指令译码器，连接该第一指令寄存器、该第三复用器以及该第一数据寄存器，该第一指令寄存器传送该第一指令值至该第一指令译码器，该第一指令值经该第一指令译码器译码并对应该第一数据寄存器；以及
一测试模式端口，连接该第一数据寄存器以及该第一复用器；
其中，经由该测试模式端口决定是否将第一数据寄存器接入旁路。


2.如权利要求1所述的SIP器件测试系统，其特征在于，其中该第一数据寄存器包含:
一第一旁路寄存器，连接一第四复用器、该第一测试数据输入以及该第一测试访问端口控制器，该测试模式选择信号使该第一测试访问端口控制器处于一传送指令状态，该第一指令值经该第一指令译码器译码一第一旁路指令，该第一旁路指令从而对应到该第一旁路寄存器，该测试模式选择信号使该第一测试访问端口控制器处于一传送数据状态，使该第一测试数据输入经该第一旁路寄存器送一第一资料值到该第一测试数据输出；以及
一第一标示寄存器，连接该第一测试数据输入以及一第五复用器，该测试模式选择信号使该第一测试访问端口控制器于该传送指令状态，该第一指令值经该第一指令译码器译码一第一辨识指令，该第一辨识指令从而对应到该第一标示寄存器，该测试模式选择信号使该第一测试访问端口控制器于该传送数据状态，使该第一测试数据输入经该第一标示寄存器送一第二资料值到该第一测试数据输出；
其中，该测试模式端口决定是否旁路该第一旁路寄存器以及该第一标示寄存器。


3.如权利要求2所述的SIP器件测试系统，其特征在于，其中该第一数据寄存器还包含:
一第一系统逻辑；
一第一边界扫描寄存器；
该第四复用器，连接该第三复用器、该第一测试数据输入以及该测试模式端口；以及
该第五复用器，连接该第三复用器、该第一测试数据输入、该测试模式端口以及该第一边界扫描寄存器。


4.如前述权利要求1至3中任一项该SIP器件测试系统，其特征在于，其中该第一复用器、该第二复用器、该第三复用器、该第四复用器、该第五复用器、该第一指令寄存器、该第一指令译码器以及该第一边界扫描寄存器符合IEEE1149.1标准；以及
其中，该第一测试访问端口控制器用于控制该测试模式选择信号、该测试时钟信号以及该第一测试数据输入。


5.一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统，用于测试多个集成电路管芯，该多个集成电路管芯包含一第一集成电路管芯以及一第二集成电路管芯，该第一集成电路管芯包含:
一测试模式选择信号、一测试时钟信号、一第一测试数据输入、一第一测试数据输出、一第二测试数据输入以及一第二测试数据输出，该第一测试数据输出连接该第二测试数据输入；
一第一测试访问端口控制器，连接该测试模式选择信号以及该测试时钟信号；
一第一复用器，连接该第一测试数据输出；
一第一正反器，连接该第一复用器；
一第二复用器，连接该第一测试访问端口控制器、该第一复用器以及该第一正反器；
一第一反向器，连接该第一正反器以及该第一测试访问端口控制器，该第一测试访问端口控制器传送该测试时钟信号至该第一反向器；
一第三复用器，连接该第二复用器；
一第一数据寄存器，连接该第一测试访问端口控制器、该第一测试数据输入以及该第三复用器；
一第一指令寄存器，连接该第一测试数据输入、该第一测试访问端口控制器、以及该第二复用器，该第一测试访问端口控制器用于响应该第一指令寄存器，其中该第一测试数据输入将多个第一指令值其中之一传送至该第一指令寄存器；
一第一指令译码器，连接该第一指令寄存器、该第三复用器以及该第一数据寄存器，该第一指令寄存器传送该第一指令值至该第一指令译码器，该第一指令值经该第一指令译码器译码并对应该第一数据寄存器；
一测试模式端口，连接该第一数据寄存器以及该第一复用器；
该第二集成电路管芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑春祥，张铭桐，杨涛，
申请(专利权)人：创意电子南京有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32