用于粒子的质谱分析的装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于粒子的质谱分析的装置和对应的方法，所述装置包括：第一辐照单元(4)，所述第一辐照单元(4)被配置为利用电磁辐射辐照粒子(1)以使粒子(1)的成分从粒子(1)分离，特别是解吸、消融和/或蒸发，粒子(1)的分离的成分(2)位于粒子(1)的残留芯(3)的附近；第二辐照单元(14‑16、19)，所述第二辐照单元(14‑16、19)被配置为基本上同时地利用电磁辐射的第一射束(17)辐照i)分离的成分(2)的至少一部分、以及可选地粒子(1)的残留芯(3)，以引起分离的成分(2)的至少一部分的电离，并且利用电磁辐射的第二射束(18)辐照ii)粒子(1)的残留芯(3)的至少一部分，以引起粒子(1)的残留芯(3)的成分的至少一部分的电离，电磁辐射的第一射束(17)表现出第一强度，电磁辐射的第二射束(18)表现出第二强度，第二强度优选地大于第一强度；以及质谱仪，所述质谱仪包括离子源区域(5)、第一检测通道(6)、以及可选地第二检测通道(9)，离子源区域(5)被配置为容纳分离的成分(2)和/或残留芯(3)的成分的正离子(+)和/或负离子(‑)，第一检测通道(6)被配置为检测正离子(+)，第二检测通道(9)被配置为检测负离子(‑)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于粒子的质谱分析的装置和方法
本专利技术涉及一种用于粒子的质谱分析的装置和对应的方法。
技术介绍
单个气载粒子的在线研究表示气溶胶化学中的要求高的挑战。帮助揭开地球气候中的周围环境的气溶胶的作用并且评定来自空气污染的局部的和特定的健康风险的新的技术是高度期望的。特别相关的是多环芳烃(PAH)和它们的来自燃烧过程的、氧-PAH和硝基-PAH的形式的衍生物，这些衍生物与急性健康影响和长期健康影响这二者相关联。此外，含有(过渡)金属的粒子(铁、钒、镍铅等)已知诱导严重的健康影响。这些粒子类的在线测量通常用单粒子质谱法(SP-MS或气溶胶飞行时间质谱法，ATOF-MS)来实现，SP-MS或ATOF-MS也揭示了粒子系综中的物质的混合状态。通常，SP-MS在质谱仪中应用激光解吸/电离(LDI)，从而通过正离子和负离子这二者的检测来揭示元素组成和有限的分子信息。用于从单个的粒子检测PAH的方法已经被开发，但是使得可以进行粒子分类和源解析的来自LDI的元素信息在这种情况下丧失。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于粒子的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于粒子的质谱分析的装置，所述装置包括：/n第一辐照单元(4)，所述第一辐照单元(4)被配置为利用电磁辐射辐照粒子(1)以使粒子(1)的成分从粒子(1)分离，特别是解吸、消融和/或蒸发，粒子(1)的分离的成分(2)位于粒子(1)的残留芯(3)的附近；/n第二辐照单元(14-16、19)，所述第二辐照单元(14-16、19)被配置为基本上同时地/n-利用电磁辐射的第一射束(17)辐照分离的成分(2)的至少一部分、以及可选地粒子(1)的残留芯(3)，以引起分离的成分(2)的至少一部分的电离，电磁辐射的第一射束(17)表现出第一强度；并且/n-利用电磁辐射的第二射束(18)辐照粒子(1)的残...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180509 EP 18171596.21.一种用于粒子的质谱分析的装置，所述装置包括：
第一辐照单元(4)，所述第一辐照单元(4)被配置为利用电磁辐射辐照粒子(1)以使粒子(1)的成分从粒子(1)分离，特别是解吸、消融和/或蒸发，粒子(1)的分离的成分(2)位于粒子(1)的残留芯(3)的附近；
第二辐照单元(14-16、19)，所述第二辐照单元(14-16、19)被配置为基本上同时地
-利用电磁辐射的第一射束(17)辐照分离的成分(2)的至少一部分、以及可选地粒子(1)的残留芯(3)，以引起分离的成分(2)的至少一部分的电离，电磁辐射的第一射束(17)表现出第一强度；并且
-利用电磁辐射的第二射束(18)辐照粒子(1)的残留芯(3)的至少一部分，以引起粒子(1)的残留芯(3)的成分的至少一部分的电离，电磁辐射的第二射束(18)表现出第二强度，第二强度优选地大于第一强度；以及
质谱仪，所述质谱仪包括离子源区域(5)、第一检测通道(6)、以及可选地第二检测通道(9)，所述离子源区域(5)被配置为容纳分离的成分(2)和/或残留芯(3)的成分的正离子(+)以及可选地负离子(-)，所述第一检测通道(6)被配置为检测所述正离子(+)，并且所述第二检测通道(9)被配置为检测所述负离子(-)。


2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第二辐照单元(14-16、19)包括第一辐照源(14)、特别是第一激光源以及第二辐照源(19)、特别是第二激光源，所述第一辐照源(14)被配置为产生电磁辐射的第一射束(17)，所述第二辐照源被配置为产生电磁辐射的第二射束(18)。


3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一辐射源(14)被配置为产生第一波长的或第一波长范围内的电磁辐射，所述第二辐射源(19)被配置为产生第二波长的或第二波长范围内的电磁辐射，其中，所述第一波长大于所述第二波长，和/或所述第一波长范围位于比所述第二波长范围高的波长处。


4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第二辐照单元(14-16)包括辐照源(14)，特别是单个激光源、以及光学元件(16)，所述辐照源(14)被配置为产生电磁辐射的第一射束(17)，所述光学元件(16)被配置为产生电磁辐射的第二射束(18)。


5.根据前述任一权利要求所述的装置，其中，电磁辐射的第一射束(17)是基本上平行的射束。


6.根据权利要求4或5所述的装置，其中，所述光学元件(16)是被配置为通过使第一射束(17)的至少一部分聚焦来产生电磁辐射的第二射束(18)的聚焦光学元件。


7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述第二辐照单元(14-16、19)被布置为使得电磁辐射的第一射束(17)撞击在分离的成分(2)和/或粒子(1)的残留芯(3)的第一侧，并且所述光学元件(16)包括聚焦镜，所述聚焦镜安置在分离的成分(2)和/或粒子(1)的残留芯(3)的第二侧，其中所述第二侧与所述第一侧相对。


8.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述第二辐照单元(14-16、19)被配置为使得利用第一射束(17)辐照分离的成分(2)以及可选地粒子(1)的残留芯(3)与利用第二射束(18)辐照粒子(1)的残留芯(3)之间的时间差小于20ns，优选地小于5ns，特别是小于1ns。


9.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中，所述电磁辐射...

【专利技术属性】
技术研发人员：拉尔夫·齐默尔曼，约翰内斯·帕西格，斯文·埃勒特，
申请(专利权)人：健康与环境慕尼黑德国研究中心赫姆霍茨中心有限公司，相片技术有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE