X射线检查装置制造方法及图纸

技术编号:26695214 阅读:45 留言:0更新日期:2020-12-12 02:54
利用重复进行在使载台朝向与从X射线源朝着X射线检测器的X射线的光轴垂直的任意位置移动了(+x,+y)脉冲后使载台从此处移动(‑x,‑y)脉冲的往复动作时的随机偏差(重复定位误差),来获取彼此平行移动的图像群,图像处理部求出图像间的偏移量,获取具有子像素级的偏移量的输入图像群。并且,图像处理部使用具有子像素级的偏移量的输入图像群来执行重建处理,生成超分辨率图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】X射线检查装置
本专利技术涉及一种进行用于超分辨率图像重建处理的X射线摄影的X射线检查装置。
技术介绍
作为非破坏地观察工业产品等的内部结构的装置,以往已知有用于对被检体照射X射线以获得透视像的工业用X射线透视装置、或者用于获得被检体的断层像的工业用X射线计算机断层摄影(ComputedTomography,CT)装置(参照专利文献1)。X射线检测器具有规定大小的受光区域及像素数,其输出为具有各像素的像素值的数字数据。显示于显示装置的图像的视野与分辨率是由X射线检测器的尺寸与检测元件间距(像素间距)及图像的放大率而定,图像的放大率是由将[从X射线源直至X射线检测器为止的距离]除以[从X射线源直至被检体为止的距离]所得的值即几何放大率而定。另外,图像解析度(分辨率)能够通过下述方式来鉴定,即,在几何放大率为最大时,确定显示在显示装置的画面上的解析度图的线图案中能够识别的最小的线图案。现有技术文献专利文献专利文献1:日本专利特开2006-317249号公报
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题]本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线检查装置,包括X射线源、载置被检体的平台、对从所述X射线源照射并透过所述被检体的X射线进行检测的X射线检测器、以及显示通过X射线摄影而获取的图像的显示部,所述X射线检查装置的特征在于包括:/n移动机构,通过使所述X射线源、所述X射线检测器或所述平台移动,从而变更所述X射线源、所述X射线检测器与所述被检体的相对位置关系;以及/n控制部,具有移动控制部、X射线控制部、图像处理部及显示控制部,所述移动控制部控制所述移动机构,所述X射线控制部控制所述X射线源,所述图像处理部导入所述X射线检测器的输出而构建所述被检体的X射线图像,所述显示控制部将由所述图像处理部所获得的图像显示于所述显示部...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种X射线检查装置,包括X射线源、载置被检体的平台、对从所述X射线源照射并透过所述被检体的X射线进行检测的X射线检测器、以及显示通过X射线摄影而获取的图像的显示部,所述X射线检查装置的特征在于包括:
移动机构,通过使所述X射线源、所述X射线检测器或所述平台移动,从而变更所述X射线源、所述X射线检测器与所述被检体的相对位置关系;以及
控制部,具有移动控制部、X射线控制部、图像处理部及显示控制部,所述移动控制部控制所述移动机构,所述X射线控制部控制所述X射线源,所述图像处理部导入所述X射线检测器的输出而构建所述被检体的X射线图像,所述显示控制部将由所述图像处理部所获得的图像显示于所述显示部,
所述图像处理部在进行了使所述X射线源、所述X射线检测器、所述平台中的任一者在获取最初的X射线图像时的X射线摄影位置与任意位置之间往复移动的定位后,重复执行X射线摄影的动作而获取多个X射线图像,
利用重复进行所述定位时的重复定位误差,获取从所述多个X射线图像彼此具有子像素级的位置偏移量的图像来作为用于超分辨率图像重建处理的输入图像群,
通过对所述输入图像群执行超分辨率图...

【专利技术属性】
技术研发人员:岩尾快彦
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:日本;JP

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