OLED阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法技术方案

本发明专利技术公开了一种OLED阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法、计算机可读存储介质以及计算机设备。校正方法包括：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压；控制器发送测试指令以获取测量参数并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果；控制器根据判断结果渐进式调整阴极测试电压，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。本发明专利技术提供的实施例通过针对每个亮度等级根据测量参数确定判断结果，并根据判断结果渐进式调整阴极测试电压，从而确定每个亮度等级的阴极校正电压并存储，提高产品便捷性。

【技术实现步骤摘要】
OLED阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种OLED阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法、计算机可读存储介质以及计算机设备。
技术介绍
OLED显示模组产品在应用过程中，为了达到降低功耗的目的，越来越多的开始采用动态阴极电压(ELVSS)方案。ELVSS作为OLED产品工作时的阴极电压，数值通常为负值。当ELVSS电压越小时，OLED产品工作时的跨压越大，此时显示效果越好，但是也带来了功耗过高的问题。当ELVSS越大时，OLED产品工作时的跨压减小，功耗随之降低，但是此时OLED产品中的TFT器件有未工作在饱和区的风险，可能会带来画面显示偏黄，偏绿等显示异常问题。现有技术所应用的动态ELVSS方案，选取的方式通常都是预先设定一组ELVSS参数，以此参数作为所有产品的统一值。但是在前期设计验证阶段，由于样品数量有限等问题，经常会导致预先设定值不合理，无法达到预期的功耗降低的效果，严重时还会导致显示效果变差，甚至异常。同时，这种预设值的方式，要求后续主机(例如手机或者平板电脑等终端的CPU)在应用OLED产品时，要根据用户的不同设定，随时向OLED产品传递不同的ELVSS参数，造成主机端软件工作量大，通用性低。此外，由于OLED产品制作过程中的工艺波动，产品个体间会存在一定的差异。工艺波动越明显，个体间的差异越大，统一的预设参数就会造成部分的产品良率损失。
技术实现思路
为了解决上述问题至少之一，本申请第一方面提供一种OLED阴极电压的校正方法，包括：S11：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，阴极测试电压为预设置的阴极电压阈值；S12：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，测量参数为光学测量单元测量待测显示模组输出的测量参数；S13：控制器根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数；S14：判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级并跳转到S11。在一些可选的实施例中，S12进一步包括：S121：控制器按照预设调试时间向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数；S122：控制器根据测量参数进行判断，若测量参数满足预设显示阈值则控制器输出第一判断结果，否则控制器输出第二判断结果。在一些可选的实施例中，若判断结果为第一判断结果，S13进一步包括：S131：控制器以预设步进调整电压反向调整阴极测试电压为第一阴极测试电压并发送至待测显示模组；S132：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值，若满足则将阴极测试电压修改为第一阴极测试电压并跳转至S131，否则将阴极测试电压作为当前亮度等级的阴极校正电压；S133：控制器将阴极校正电压发送至待测显示模组，使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。在一些可选的实施例中，若判断结果为第二判断结果，S13进一步包括：S131′：控制器以预设步进调整电压正向调整阴极测试电压为第二阴极测试电压并发送至待测显示模组；S132′：控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值，若不满足则将阴极测试电压修改为第二阴极测试电压并跳转至S131′，否则将第二阴极测试电压作为当前亮度等级的阴极校正电压；S133′：控制器将所述阴极校正电压发送至待测显示模组，使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。本申请第二方面提供一种OLED阴极电压的校正系统，包括控制器和光学测量单元，其中：光学测量单元，被配置为响应于控制器的测试指令测量待测显示模组并输出测量参数；控制器，被配置为校正各亮度等级的阴极校正电压，包括：按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据测量参数判断待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，根据判断结果渐进式调整阴极测试电压并发送至待测显示模组，直至获得待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得待测显示模组存储亮度等级和对应于阴极校正电压的电压参数。本申请第三方面提供一种通过第一方面的校正方法校正的显示模组，显示模组包括驱动芯片、电源芯片和OLED显示面板，驱动芯片存储有各亮度等级和对应的电压参数；驱动芯片被配置为响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至OLED显示面板。在一些可选的实施例中，驱动芯片包括处理单元、指令接收单元、存储单元和电源控制单元，其中指令接收单元，被配置为接收亮度调整指令；存储单元，被配置为存储配置表，配置表包括亮度等级、亮度等级对应的电压参数和伽马曲线值；电源控制单元，被配置为将电压参数发送至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至OLED显示面板；处理单元，被配置为根据亮度调整指令确定亮度等级，根据亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数，通过电源控制单元将电压参数传输至电源芯片。本申请第四方面提供一种利用第三方面所述的显示模组的亮度调整方法，显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得电源芯片根据所述电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至OLED显示面板。在一些可选的实施例中，驱动芯片包括处理单元、指令接收单元、存储单元和电源控制单元，显示模组的驱动芯片响应于输入的亮度调整指令确定亮度等级并输出亮度等级对应的电压参数至电源芯片，以使得所述电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至OLED显示面板进一步包括：处理单元根据指令接收单元接收的亮度调整指令确定亮度等级；处理单元根据亮度等级查询存储单元并获取对应的电压参数；处理单元通过电源控制单元将电压参数传输至电源芯片，以使得电源芯片根据电压参数输出对应的阴极校正电压并加载至OLED显示面板。本申请第五方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面所述的校正方法；或者该程序被处理器执行时实现第四方面所述的亮度调整方法。本申请第六方面一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时实现第一方面所述的校正方法；或者处理器执行程序时实现第四方面所述的亮度调整方法。本专利技术的有益效果如下：本专利技术针对目前现有的问题，制定一种OLED阴极电压的校正方法及系统、显示模组、亮度调整方法、计算机可读存储介质以及计算机设备，通过设置阴极电压校正过程，针对芯片的每个亮度等级以预设置的阴极本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种OLED阴极电压的校正方法，其特征在于，包括：/nS11：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，所述阴极测试电压为预设置的阴极电压阈值；/nS12：所述控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据所述测量参数判断所述待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，所述测量参数为所述光学测量单元测量所述待测显示模组输出的测量参数；/nS13：所述控制器根据所述判断结果渐进式调整所述阴极测试电压并发送至所述待测显示模组，直至获得所述待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得所述待测显示模组存储所述亮度等级和对应于所述阴极校正电压的电压参数；/nS14：判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级并跳转到S11。/n

【技术特征摘要】
1.一种OLED阴极电压的校正方法，其特征在于，包括：
S11：控制器按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，所述阴极测试电压为预设置的阴极电压阈值；
S12：所述控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据所述测量参数判断所述待测显示模组是否满足预设显示阈值并输出判断结果，所述测量参数为所述光学测量单元测量所述待测显示模组输出的测量参数；
S13：所述控制器根据所述判断结果渐进式调整所述阴极测试电压并发送至所述待测显示模组，直至获得所述待测显示模组在当前亮度等级的阴极校正电压，并使得所述待测显示模组存储所述亮度等级和对应于所述阴极校正电压的电压参数；
S14：判断是否还有未校正的亮度等级，若有则调整亮度等级并跳转到S11。


2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述S12进一步包括：
S121：所述控制器按照预设调试时间向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数；
S122：所述控制器根据所述测量参数进行判断，若所述测量参数满足预设显示阈值则所述控制器输出第一判断结果，否则所述控制器输出第二判断结果。


3.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，若所述判断结果为第一判断结果，所述S13进一步包括：
S131：所述控制器以预设步进调整电压反向调整所述阴极测试电压为第一阴极测试电压并发送至所述待测显示模组；
S132：所述控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据所述测量参数判断所述待测显示模组是否满足预设显示阈值，若满足则将所述阴极测试电压修改为所述第一阴极测试电压并跳转至S131，否则将所述阴极测试电压作为当前亮度等级的阴极校正电压；
S133：所述控制器将所述阴极校正电压发送至所述待测显示模组，使得所述待测显示模组存储所述亮度等级和对应于所述阴极校正电压的电压参数。


4.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，若所述判断结果为第二判断结果，所述S13进一步包括：
S131′：所述控制器以预设步进调整电压正向调整所述阴极测试电压为第二阴极测试电压并发送至所述待测显示模组；
S132′：所述控制器向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据所述测量参数判断所述待测显示模组是否满足预设显示阈值，若不满足则将所述阴极测试电压修改为所述第二阴极测试电压并跳转至S131′，否则将所述第二阴极测试电压作为当前亮度等级的阴极校正电压；
S133′：所述控制器将所述阴极校正电压发送至所述待测显示模组，使得所述待测显示模组存储所述亮度等级和对应于所述阴极校正电压的电压参数。


5.一种OLED阴极电压的校正系统，其特征在于，包括控制器和光学测量单元，其中：
所述光学测量单元，被配置为响应于所述控制器的测试指令测量待测显示模组并输出测量参数；
所述控制器，被配置为校正各亮度等级的阴极校正电压，包括：按照一个亮度等级向待测显示模组发送图像测试信号和阴极测试电压，向光学测量单元发送测试指令以获取测量参数，并根据所述测量参数判断所述待测显示模组是否满...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴宝云，郭泽邦，赵辉，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11