一种测试电路、测试方法及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种测试电路、测试方法及显示装置，涉及显示技术领域。本发明专利技术通过第一开关模块控制信号线与第一引线的通断，第二开关模块控制第一引线与第二引线的通断，第三开关模块控制第二引线与第三引线的通断，测试端子根据接收到的电流信号，检测信号线、第一引线、第二引线和第三引线中是否存在短路以及发生短路的线路。通过对一整条线路进行分段，并通过第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块控制各个分段后的线路导通或断开，根据接收到的电流信号，检测信号线、第一引线、第二引线和第三引线中是否存在短路以及发生短路的线路，因此，无需采用光学镜头就可找到短路位置，减少人力物力的消耗。

【技术实现步骤摘要】
一种测试电路、测试方法及显示装置
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种测试电路、测试方法及显示装置。
技术介绍
在显示面板的生产过程中，由于其生产过程较为复杂，任何工艺出现异常都有可能使得产品出现不良，如发生线路短路等不良，并且，生产过程中颗粒物的影响也会导致显示面板中的线路发生短路。目前，在制作得到显示面板之后，需要采用测试设备对显示面板中的线路进行测试，以确定是否存在短路。但是，目前采用测试设备检测短路时，仅能确定这一整条线路是否发生短路，但是无法给出这一整条线路中发生短路的具体位置，因此，通常需要通过光学镜头来人为查找线路中发生短路的具体位置，然而通过光学镜头来查找，需要耗费人力物力，并且，由于外围区的线路较为密集，很难通过光学镜头找到发生短路的具体位置，此外，对于静电造成的短路，大部分情况下在光学镜头下是查找不到的。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试电路、测试方法及显示装置，以解决现有的测试设备无法检测出线路中发生短路的具体位置，而通过光学镜头寻找发生短路的具体位置，需要消耗人力物力，且很难本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路，其特征在于，应用于显示面板，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的外围区；所述测试电路包括多个测试子电路，每个所述测试子电路均包括：第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块；/n所述第一开关模块，分别与第一控制信号端、位于所述显示区内的信号线以及位于所述外围区内的第一引线连接，被配置在所述第一控制信号端的控制下导通或关闭，以控制所述信号线与所述第一引线的通断；/n所述第二开关模块，分别与第二控制信号端、所述第一引线以及位于所述外围区内的第二引线连接，被配置为在所述第二控制信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第一引线与所述第二引线的通断；/n所述第三开关模块，分别与第三控制信...

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，应用于显示面板，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的外围区；所述测试电路包括多个测试子电路，每个所述测试子电路均包括：第一开关模块、第二开关模块和第三开关模块；
所述第一开关模块，分别与第一控制信号端、位于所述显示区内的信号线以及位于所述外围区内的第一引线连接，被配置在所述第一控制信号端的控制下导通或关闭，以控制所述信号线与所述第一引线的通断；
所述第二开关模块，分别与第二控制信号端、所述第一引线以及位于所述外围区内的第二引线连接，被配置为在所述第二控制信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第一引线与所述第二引线的通断；
所述第三开关模块，分别与第三控制信号端、所述第二引线以及位于所述外围区内的第三引线连接，被配置为在所述第三控制信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第二引线与所述第三引线的通断；
其中，所述第三引线还与测试端子连接，所述测试端子，被配置为在所述第一开关模块、所述第二开关模块和所述第三开关模块的作用下，根据接收到的电流信号，检测所述信号线、所述第一引线、所述第二引线和所述第三引线中是否存在短路以及发生短路的线路。


2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，第一开关模块包括第一晶体管；
所述第一晶体管的栅极与所述第一控制信号端连接，所述第一晶体管的第一极与所述信号线连接，所述第一晶体管的第二极与所述第一引线连接。


3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，第二开关模块包括N个开关单元，所述第二引线包括N个子引线，所述N为大于或等于1的正整数；
其中，当所述N大于1时，相邻两个所述开关单元之间通过所述子引线连接。


4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述第二开关模块包括第一开关单元、第二开关单元、第三开关单元、第四开关单元、第五开关单元和第六开关单元，所述第二引线包括第一子引线、第二子引线、第三子引线、第四子引线、第五子引线和第六子引线；
所述第一开关单元，分别与第一控制子信号端、所述第一引线和所述第一子引线连接，被配置为在所述第一控制子信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第一引线与所述第一子引线的通断；
所述第二开关单元，分别与第二控制子信号端、所述第一子引线和所述第二子引线连接，被配置为在所述第二控制子信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第一子引线与所述第二子引线的通断；
所述第三开关单元，分别与第三控制子信号端、所述第二子引线和所述第三子引线连接，被配置为在所述第三控制子信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第二子引线与所述第三子引线的通断；
所述第四开关单元，分别与第四控制子信号端、所述第三子引线和所述第四子引线连接，被配置为在所述第四控制子信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第三子引线与所述第四子引线的通断；
所述第五开关单元，分别与第五控制子信号端、所述第四子引线和所述第五子引线连接，被配置为在所述第五控制子信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第四子引线与所述第五子引线的通断；
所述第六开关单元，分别与第六控制子信号端、所述第五子引线和所述第六子引线连接，被配置为在所述第六控制子信号端的控制下导通或关闭，以控制所述第五子引线与所述第六子引线的通断。


5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述第一开关单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极与所述第一控制子信号端连接，所述第二晶体管的第一极与所述第一引线连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡丹，巫浩，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，绵阳京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11