一种物质分类系统和用于物质分类的射线能谱测定探测器技术方案

本发明专利技术提供了一种物质分类系统和用于物质分类的射线能谱测定探测器，属于物质分类技术领域。该射线能谱测定探测器包括探测器面板，所述探测器面板上覆盖有若干典型物质块，所述典型物质块用于测定射线能谱。本发明专利技术将典型物质块与探测器面板融为一体，形成一种能用来测定射线能谱的特殊探测器，使射线能谱的测定更加方便。

【技术实现步骤摘要】
一种物质分类系统和用于物质分类的射线能谱测定探测器
本专利技术涉及一种物质分类系统和用于物质分类的射线能谱测定探测器，属于物质分类

技术介绍
基于物质对不同能量的射线的吸收程度不同，基于X射线透视成像技术的检查系统可识别物质的等效原子序数，进一步将其分类为有机物或轻物质，混合物或轻金属，无机物或金属、重金属等。但是穿过物体的射线，其能量可能随加速器状态、光路状态等因素发生变化，这种变化会影响检查系统的物质分类精度，例如可能会导致在不同时刻对同种物质的分类结果存在差异，目前主要通过能量校准装置对检查系统中物质分类模型的参数进行校准来保持物质分类模型的准确性，进而保证检查系统的物质分类精度。现有的能量校准装置大都是在扫描开始前或结束后，或在特定时间点上，对几种特定物质进行扫描，从而校准物质分类模型中的参数，使物质分类模型保持准确性。这类校准装置的主要缺点在于它必须在没有扫描任务时进行校准，不能进行实时校准，对于扫描过程中射线能量的实时变化，只能靠经验和统计模型，或根据其他传感器来粗略的估计。目前也有能实现实时校准的能量校准装置，例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于物质分类的射线能谱测定探测器，包括探测器面板，其特征在于，所述探测器面板上覆盖有若干典型物质块，所述典型物质块用于测定射线能谱。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于物质分类的射线能谱测定探测器，包括探测器面板，其特征在于，所述探测器面板上覆盖有若干典型物质块，所述典型物质块用于测定射线能谱。


2.根据权利要求1所述的用于物质分类的射线能谱测定探测器，其特征在于，所述探测器面板上覆盖的各典型物质块的材质互不相同，所述典型物质块的材质为铝、石墨、钢、铅和钨中的一种。


3.根据权利要求1或2所述的用于物质分类的射线能谱测定探测器，其特征在于，所述探测器面板上覆盖的各典型物质块的厚度各不相同。


4.根据权利要求3所述的用于物质分类的射线能谱测定探测器，其特征在于，所述探测器面板上覆盖的各典型物质块呈阶梯状排布。


5.一种物质分类系统，包括射线发生装置和探测器阵列，其特征在于，所述探测器阵列中包含普通探测器和射...

【专利技术属性】
技术研发人员：王骞，王新奎，郑振吉，
申请(专利权)人：许昌瑞示电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41