分析方法技术

本公开包含一种量化和/或评估洁齿剂中的金属离子的方法，其中所述方法包括使所述洁齿剂经受X射线吸收光谱法(XAS)，并且其中所述XAS用于测量和/或评估所述洁齿剂中的所述金属离子。还公开了基于洁齿剂的金属离子含量的评估和量化而选择和筛选洁齿剂的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分析方法
技术介绍
牙膏通常含有锡(Sn)和锌(Zn)化合物以提供抗微生物功能。虽然已充分确定了牙膏配方中的金属的初始化学形式(例如SnF2、ZnO)，但是尚不清楚它们是否能按原样保留在最终产品中。原始组成的变化是与牙膏中存在的许多化合物(包括甘油、磨料、稳定剂、多糖和磷酸盐)相互作用的结果。当糊剂被口腔内部的唾液稀释时，金属的化学形态会发生进一步变化。X射线吸收光谱法(XAS)是一种强大的结构工具，用于探测多种样品类型中的金属的局部配位环境。简而言之，XAS使用高能X射线(由同步辐射源生成)来激发特定原子的核心电子。吸收曲线提供了有关氧化态、配位几何形状和与附近原子的埃级距离的信息。无论样品的物理状态如何，都可以使用XAS，并且不需要在分析前进行掺伪或准备。XAS常用于环境科学中，其中关注的是原始环境样品中的金属形态。当前，需要一种技术来更好地分析洁齿剂配制品中的金属离子，因为与最终洁齿剂配制品相比，在实验室环境中测试的配制品可能有所变化。
技术实现思路
申请人已惊讶地发现，可以使用X射线吸收光谱(XAS)检测技术以便分析洁齿剂组合物中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种量化和/或评估洁齿剂中的金属离子源的方法，其中所述方法包括使所述洁齿剂经受X射线吸收光谱法(XAS)，并且其中所述XAS用于量化和/或评估所述洁齿剂中的所述金属离子。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171218 US 62/599,8241.一种量化和/或评估洁齿剂中的金属离子源的方法，其中所述方法包括使所述洁齿剂经受X射线吸收光谱法(XAS)，并且其中所述XAS用于量化和/或评估所述洁齿剂中的所述金属离子。


2.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括以下步骤：将XAS结果与水性和/或矿物质标准品(例如，与氟化物、葡萄糖酸盐、磷酸盐和水解产物的络合物)进行比较。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述方法用于预测金属离子种类(例如Sn(II)种类)的平衡分布。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中所述标准品来源于密度泛函理论(DFT)分析。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中在使用XAS之前，将所述金属离子种类(例如，Sn(II))氧化。


6.根据前述方法中任一项所述的方法，其中所述洁齿剂的结构组分使用XAS测量、DFT和热力学平衡计算的组合分析。


7.根据前述方法中任一项所述的方法，其中基于对所述洁齿剂的所述分析来测量口腔内部的稀释和氧化作用。


8.根据前述方法中任一项所述的方法，其中在15秒到10分钟(例如30秒、1分钟、5分钟、10分钟)之间获得分析结果。


9.根据前述方法中任一项所述的方法，其中所述XAS用于确定各种试剂在表面周围的分布(例如，所述试剂是否均匀分布)。


10.根据前述方法中任一项所述的方法，其中所述XAS与计算机可读介质结合使用。


11.根据前述方法中任一项所述的方法，其中所述洁齿剂是牙膏。

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔·菲茨杰拉德，伊拉克利斯·帕帕斯，让弗朗索瓦·加亚尔，马尔科·阿尔西纳科尔巴兰，
申请(专利权)人：高露洁棕榄公司，西北大学，
类型：发明
国别省市：美国;US