一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪制造技术

一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪，包括前置物镜、拉曼滤光片、带光阑的分束镜、第一准直物镜、第一反射光栅、第二准直物镜、第二反射光栅、第三准直物镜和面阵相机。第一准直物镜和第三准直物镜构成4f系统，第二准直物镜和第三准直物镜构成4f系统；由第一光栅、第二光栅反射的衍射光谱信号经过带光阑的分束镜后，只有有效衍射级次的光谱信号进入面阵相机；本发明专利技术的一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪能够有效抑制光栅无用级次杂散光，提高短波紫外拉曼光谱探测的信噪比与灵敏度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪
本专利技术涉及光学成像领域，具体涉及一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪。
技术介绍
拉曼光谱反映了分子内部结构和状态特性，具有“指纹”效应，是有机化合物结构解析的重要手段。在生物医学、化工分析、污染物监测等领域具有重要应用价值。空间外差拉曼光谱仪具有高通量、宽视场、结构紧凑等有限，是近年来发展起来的重要拉曼光谱测试方法。短波紫外拉曼光谱具有激发效率高、荧光信号弱、背景噪声低、共振增强等优点，是拉曼光谱重要的发展方向之一。然而，当探测短波紫外光谱(200nm～300nm)时，波长只有可见近红外光的1/3～1/2，使得光栅的无效衍射级次倍增，且相邻衍射级次间夹角减小，这就增加了系统杂散光，降低系统的探测灵敏度，同时可能出现光谱伪峰，影响拉曼光谱探测的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪以克服现有技术存在的问题。通过在现有的迈克尔逊空间外差干涉结构中设置4f系统，有效抑制光栅无效衍射级次杂散光，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪，其特征在于：包括延光路设置的前置物镜(1)、拉曼滤光片(2)、带光阑的分束镜(3)、第一准直物镜(4)、第一反射光栅(5)、第二准直物镜(6)、第二反射光栅(7)、第三准直物镜(8)和面阵相机(9)构成；其中带光阑的分束镜(3)的几何中心位于前置物镜的像面中心，同时也位于第一准直物镜(4)、第二准直物镜(6)和第三准直物镜(8)的前焦点位置；第一反射光栅(5)的几何中心位于第一准直物镜(4)的后焦点位置，第二反射光栅(7)的几何中心位于第二准直物镜(6)的后焦点位置，面阵相机(9)的光敏面位于第三准直物镜(8)的后焦面位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪，其特征在于：包括延光路设置的前置物镜(1)、拉曼滤光片(2)、带光阑的分束镜(3)、第一准直物镜(4)、第一反射光栅(5)、第二准直物镜(6)、第二反射光栅(7)、第三准直物镜(8)和面阵相机(9)构成；其中带光阑的分束镜(3)的几何中心位于前置物镜的像面中心，同时也位于第一准直物镜(4)、第二准直物镜(6)和第三准直物镜(8)的前焦点位置；第一反射光栅(5)的几何中心位于第一准直物镜(4)的后焦点位置，第二反射光栅(7)的几何中心位于第二准直物镜(6)的后焦点位置，面阵相机(9)的光敏面位于第三准直物镜(8)的后焦面位置。


2.根据权利要求1所述的一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪，其特征在于：所述第一准直物镜(4)与所述第二准直物镜(5)是相同镜片。


3.根据权利要求1所述的一种用于短波紫外拉曼光谱探测的低噪声空间外差光谱仪，其特征在于：所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟鑫，毛桂林，王静静，王丽，
申请(专利权)人：江苏师范大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32