一种红外探测器测温定标方法及测温定标装置制造方法及图纸

技术编号:26687625 阅读:29 留言:0更新日期:2020-12-12 02:33
本发明专利技术公开了一种红外探测器测温定标方法及测温定标装置,其包括如下步骤:通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记;红外探测器获取多个不同温度黑体的黑体图像,并剔除掉黑体图像中的异常定标点,并获取温度定标模型;以及通过红外探测器采集的黑体温度值和黑体真实温度值获得温度补偿模型,并根据所述温度补偿模型进行温度修正。

【技术实现步骤摘要】
一种红外探测器测温定标方法及测温定标装置
本专利技术涉及红外数据采集领域,具体为一种适合批量生产的红外探测器测温定标方法及测温定标装置。
技术介绍
红外模组因其体积小、功耗低、价格便宜而被广泛关注和使用,其生产制造过程中需要对每个模组进行测温定标,以获取探测器响应函数、非均匀性校正参数以及温漂模型系数等信息,以实现红外模组的精确测温。目前采用的红外模组测温定标方案主要是利用红外探测器实测多个面源黑体的数据,进一步分析探测器的响应值与辐射强度关系,对模型参数进行回归分析来确定定标模型。为提高定标效率,目前对上述方法进行了如下改进:1、通过简化定标模型、减少面源黑体的数量来提高定标效率,但是要求根据测温范围对黑体温度进行非等距列排序,然后依次采集不同温度点的黑体图像进行数据分析与模型求解,其会降低模型的拟合能力,不能全面反映模组探测器的辐射响应关系,对测温精度影响较大;2、通过减少采集次数,即一帧图像里采集多个黑体图像来提高辐射标定效率,其要求根据测温范围对相近温度点的黑体进行密集排列,以实现多个黑体分布在图像中心,防止非均匀性对定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外探测器测温定标方法,其特征在于,包括如下步骤:/n通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记;/n红外探测器获取多个不同温度黑体的黑体图像,并剔除掉黑体图像中的异常定标点,并获取温度定标模型;/n以及通过红外探测器采集的黑体温度值和黑体真实温度值获得温度补偿模型,并根据所述温度补偿模型进行温度修正。/n

【技术特征摘要】
1.一种红外探测器测温定标方法,其特征在于,包括如下步骤:
通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记;
红外探测器获取多个不同温度黑体的黑体图像,并剔除掉黑体图像中的异常定标点,并获取温度定标模型;
以及通过红外探测器采集的黑体温度值和黑体真实温度值获得温度补偿模型,并根据所述温度补偿模型进行温度修正。


2.如权利要求1所述的定标方法,其特征在于,通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记的过程包括如下步骤:
通过红外探测器获取黑体本底图像,且将所述本底图像中的像素点记为P(i,j),其中,i为像素点所在行,j为像素点所在列,i、j均为正整数;
判断每一行的首列像素点是否为坏点,若认定为坏点,则对其进行标记。


3.如权利要求2所述的定标方法,其特征在于,判断每一行的首列像素点是否为坏点,若认定为坏点,则对其进行标记的过程包括如下步骤:
判断首行首列像素点P(1,1)是否为坏点,若认定像素点P(1,1)为坏点,则对其进行标记,并对其灰度值进行修改,使其符合正常点的灰度值要求。


4.如权利要求3所述的定标方法,其特征在于,判断每一行的首列像素点是否为坏点,若认定为坏点,则对其进行标记的过程还包括如下步骤:
像素点P(1,1)的灰度值符合正常点的灰度值要求后,从第二行像素开始,依次逐行获取当前行首列像素点P(i+1,1)与上一行首列像素点P(i,1)之间的灰度差值;
若当前行首列像素点P(i+1,1)与上一行首列像素点P(i,1)之间的灰度差值满足预设的第一阈值条件,则将当前行首列像素点P(i+1,1)标记为坏点,且将其灰度值修改至与上一行首列像素点P(i,1)一致。


5.如权利要求2所述的定标方法,其特征在于,通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记的过程还包括如下步骤:
分别获取当前像素点P(i,j)与同一行中两个相邻像素点P(i,j-1)、P(i,j+1)之间的灰度差值,本步骤中,i为大于或等于1的正整数,j为大于或等于2的正整数;
若当前像素点P(i,j)与同一行中两个相邻像素点P(i,j-1)、P(i,j+1)之间的灰度差值的任一个满足预设的第二阈值条件,则认定当前像素点P(i,j)是坏点,并对其进行标记。


6.如权利要求5所述的定标方法,其特征在于,通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记的过程还包括如下步骤:
若当前像素点P(i,j)与同一行中两个相邻像素点P(i,j-1)、P(i,j+1)之间的灰度差值中的任一个均不满足预设的第二阈值条件时,则分别获取当前像素点P(i,j)与3×3范围内的4邻域像素点P(i,j-1)、P(i,j+1)、P(i-1,j)、P(i+1,j)之间的灰度差值;
若当前像素点P(i,j)与3×3范围内的4邻域像素点P(i,j-1)、P(i,j+1)、P(i-1,j)、P(i+1,j)之间的灰度差值均满足预设的第三阈值条件,则认定当前像素点P(i,j)是坏点,并对其进行标记。


7.如权利要求6所述的定标方法,其特征在于,通过红外探测器获取的黑体本底图像中、相邻像素点之间的灰度差值来检测出坏点位置并标记的过程还包括如下步骤:
若当前像素点P(i,j)与3×3范围内的4邻域像素点P(i,j-1)、P(i,j+1)、P(i-1,j)、P(i+1,j)之间的灰度差值中的任意一个不满足预设的第三阈值条件,则分别获取当前...

【专利技术属性】
技术研发人员:田鹏谢威崔昌浩柳龙飞黄晟王鹏周汉林李林
申请(专利权)人:武汉高德智感科技有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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