一种带辅助装置的读数显微镜结构制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种带辅助装置的读数显微镜结构，属于测量仪器改造技术领域。它包括读数显微镜本体（1），所述读数显微镜本体（1）安装在测量座（2）上；所述测量座（2）包括立杆（2.1）、横支架（2.2）、纵向连杆（2.3）和底座（2.4）；所述横支架（2.2）设置在立杆（2.1）上，所述横支架（2.2）的端部还设置有纵向连杆（2.3），所述纵向连杆（2.3）上安装有光源（4）；所述底座（2.4）由固定座（2.4.1）和V型块（2.4.2）组成。本实用新型专利技术能够更好地固定样管，实现对涡流探伤样管方便快捷、准确可靠的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种带辅助装置的读数显微镜结构
本技术涉及一种带辅助装置的读数显微镜结构，属于测量仪器改造

技术介绍
现有技术下，涡流探伤样管是用于校准涡流探伤设备的对比试样，应与被检钢管的公称尺寸相同、化学成分、表面状态、热处理状态相似。使用穿过式线圈涡流擦伤技术时，对比试样上的人工缺陷为通孔。通孔的直径及间隔位置应符合GB/T7735的规定。通孔尺寸的测量方法应符合YB/T145的规定。该规定中对通孔尺寸的测量方法有两种：一是使用塞规通止端进行合格判断；二是使用读数显微镜进行直接测量。由于样管规格品种较多，相对应的通孔尺寸也比较杂，需要配备多种规格的塞规，且使用频繁易磨损，溯源性差，投入成本较高。读数显微镜使用方便，示值稳定，重复性好，溯源性好，投入成本底。但使用读数显微镜测量时，由于样管表面为曲面，不利于固定，影响测量准确度，因此未能得到广泛应用。例如专利公开号为CN203310711U的中国专利公开了一种读数显微镜测量台。所述读数显微镜测量台包括支架、悬臂机构、悬臂支撑件和底座，其中，所述支架垂直安装在底座上；所述悬臂本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带辅助装置的读数显微镜结构，包括读数显微镜本体（1），其特征在于：所述读数显微镜本体（1）安装在测量座（2）上；/n所述测量座（2）包括立杆（2.1）、横支架（2.2）、纵向连杆（2.3）和底座（2.4）；/n所述横支架（2.2）设置在立杆（2.1）上，所述横支架（2.2）的端部还设置有纵向连杆（2.3），所述纵向连杆（2.3）上安装有光源（4）；/n所述底座（2.4）由固定座（2.4.1）和V型块（2.4.2）组成。/n

【技术特征摘要】
1.一种带辅助装置的读数显微镜结构，包括读数显微镜本体（1），其特征在于：所述读数显微镜本体（1）安装在测量座（2）上；
所述测量座（2）包括立杆（2.1）、横支架（2.2）、纵向连杆（2.3）和底座（2.4）；
所述横支架（2.2）设置在立杆（2.1）上，所述横支架（2.2）的端部还设置有纵向连杆（2.3），所述纵向连杆（2.3）上安装有光源（4）；
所述底座（2.4）由固定座（2.4.1）和V型块（2.4.2）组成。

【专利技术属性】
技术研发人员：袁华燕，张斌，董盈钧，
申请(专利权)人：江阴市计量测试检定所，
类型：新型
国别省市：江苏;32