一种提高测试架测试精准度的方法技术

本发明专利技术属于线路板加工技术领域，提供一种提高测试架测试精准度的方法，通过以下参数控制实现：测试针种针选点的控制；管位针的选择；测试架面板平整度控制。所述测试针种针选点的控制，具体为：撒针斜率小于300mil种针选防焊开窗PAD中心，撒针斜率大于300mil的BGA位置种针适当偏移，测试时扎针偏移刚好偏移扎到防焊开窗PAD的中心位置。本发明专利技术通过控制测试针选点种针位置、管位针选用、面板平整度控制，确保测试架测试时扎针位置与种针位置不出现偏差，测试架测试时PCB板无摆动偏移。本发明专利技术可以有效提高测试架扎针精准度，减少测试人员调试测试架时间，提高测试一次通过率和生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种提高测试架测试精准度的方法
本专利技术属于线路板加工
，具体涉及一种提高测试架测试精准度的方法。
技术介绍
随着电子产品行业的高速发展，电子产品更新速度日新月异，相对应PCB产能的需求也急剧增长，我司目前电子测试生产时由于测试架测试精准度问题，导致测试针扎偏，测试一次通过率不高，影响生产效率和产能产出。如何提高测试架测试精准度，提高生产效率一直是业内需要解决的重要问题。现有技术中，通用测试机配置密度为四倍密（50mil），测试架结构为12层测试架，测试架高度93mm，测试针长度95.25mm，制作测试资料时对于高密集BGA位置部分撒针斜率会超出300mil，斜率大测试针漏出长度短，测试时经常会出现扎偏扎不到焊盘情况，导致测试通过率低，影响生产效率。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种提高测试架测试精准度的方法，本专利技术通过控制测试针选点种针位置、管位针选用、面板平整度控制，确保测试架测试时扎针位置与种针位置不出现偏差，测试架测试时PCB板无摆动偏移。本专利技术可以有效提高测试架扎针精准度，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高测试架测试精准度的方法，其特征在于，通过以下参数控制实现：/n测试针种针选点的控制；/n管位针的选择；/n测试架面板平整度控制。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高测试架测试精准度的方法，其特征在于，通过以下参数控制实现：
测试针种针选点的控制；
管位针的选择；
测试架面板平整度控制。


2.根据权利要求1所述的提高测试架测试精准度的方法，其特征在于，所述测试针种针选点的控制，具体为：撒针斜率小于300mil种针选防焊开窗PAD中心，撒针斜率大于300mil的BGA位置种针适当偏移，测试时扎针偏移刚好偏移扎到防焊开窗PAD的中心位置。


3.根据权利要求2所述的提高测试架测...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍超，蒋善刚，文国堂，贺波，
申请(专利权)人：奥士康精密电路惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44