一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法技术

本发明专利技术公开了一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，公开了一种峰值功率测量领域。微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，通过基于FPGA的数字触发技术和软件的插值算法快速的处理采样数据，并对处理后的数据采用统计算法求取时间参数，采用该方法可以将时间参数的测量速度缩短为10ms以为，从而满足了用户对时间参数快速测量的需求。一个测量周期就可以完成所有时间参数的测量，与随机取样的方法相比较，测量速度由原先的2s多，缩短到10ms以内，提高了200倍，测量速度更快。

【技术实现步骤摘要】
一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法
本专利技术公开了一种峰值功率测量领域，具体涉及一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法。
技术介绍
在进行峰值功率测量时，需要测量各种时间参数，为了保证时间参数测量的精度和准确度，要通过一定的技术重建信号，与本专利技术最接近的方案是采用硬件电路的随机取样技术来重建信号，最后软件上再对重建的信号进行各种运算来求取时间参数。由于随机取样是通过多个重复的脉冲信号恢复出真实的测量波形，这就导致了要完全重现脉冲包络信号需要N个测量周期，测量时间太长，最差的情况超过了2s。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述不足，提出了一种基于FPGA的数字触发和软件的插值算法实现时间参数的快速测量的微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法。本专利技术具体采用如下技术方案：一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，包括以下步骤：(1)基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿；(2)基于软件的插值算法重建脉冲包络信号沿。优选地，基于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿；/n(2)基于软件的插值算法重建脉冲包络信号沿。/n

【技术特征摘要】
1.一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿；
(2)基于软件的插值算法重建脉冲包络信号沿。


2.如权利要求1所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，其特征在于，基于FPGA的数字触发捕捉脉冲包络信号沿时，首先在FPGA内部建立数字比较器，将采样ADC数据与设置的标准触发电平对应的ADC进行比较；
当采样ADC值大于标准触发电平对应的ADC值时，脉冲时间计数器和脉冲周期计数器开始对采样时钟进行计数；
当采样ADC值小于触发电平对应的ADC值时，脉冲时间计数器停止计数，进而得到脉冲宽度N1；
当采样ADC再次大于触发电平对应的ADC值时，脉冲周期计数器停止计数，进而得到脉冲周期N2。


3.如权利要求1所述的一种微波峰值功率测量中提高时间参数测量速度的方法，其特征在于，重建脉冲包络信号沿采用取样函数插值法或线性插值...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘元商，苏发，李强，徐达旺，李金山，冷朋，陈兴腾，殷大鹏，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37