一种小型离轴三反电离层成像仪框架结构制造技术

本发明专利技术涉及空间光学遥感器技术领域，具体涉及一种小型离轴三反电离层成像仪框架结构，解决由于光学系统长焦距宽视场造成的结构长宽比大而导致的框架结构刚度低、杂光抑制不足的问题，主要包括前盖板、后盖板、离轴三反镜组件、主框架、探测器组件、T型狭缝结构、桁架杆、消杂光陷阱、遮光筒Ⅰ、遮光筒Ⅱ和探测器光阑。所述离轴三反镜组件包括主镜组件、次镜组件和三镜组件；所述主框架包括入光口板、主镜基板、次镜基板、三镜基板、探测器基板、顶板、底板、支撑板Ⅰ、支撑板Ⅱ、挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ、和挡光板Ⅲ。本发明专利技术结构空间利用率高、比刚度高、能够对离轴三反系统的杂散光进行全路径的抑制，有效提高光学系统的成像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种小型离轴三反电离层成像仪框架结构
本专利技术涉及空间光学遥感
，具体地涉及一种小型离轴三反电离层成像仪框架结构，该结构空间利用率高、高比刚度，且可全光路有效抑制杂散光。
技术介绍
地球的电离层是近地卫星和空间站运行的重要场所，通过对电离层特性参量的监测可以有效保障空间飞行器安全。电离层成像仪是用于监测电离层特性参数的科学仪器，其通过对远紫外辐射的测量获得电离层空间环境参量。离轴三反的光学系统由于具有大视场与高分辨率等优点被广泛应用于空间光学遥感领域。由于离轴三反系统无中心遮挡，进入光学系统的一次杂光、二次杂光和场内杂光会降低系统传递函数，对光学系统的成像质量造成不利影响。为了保证严格控制杂散光，目前结构上常用的杂散光抑制方法是外遮光罩与内挡光板组合使用，但是在成像质量要求高且内部空间有限的电离层成像仪结构中，该消杂散光系统难以满足使用要求。在现有的技术中，离轴三反空间光学系统多采用桁架杆式、承力筒式和框架式主支撑结构。桁架杆式包络尺寸大，不利于批量化生产，主承力筒式设计过程繁琐，镜子组件的光学装调复杂，传统的框架式结构本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.小型离轴三反电离层成像仪框架式结构，包括：前盖板、后盖板、离轴三反镜组件、主框架、探测器组件、T型狭缝结构、桁架杆、消杂光陷阱、遮光筒Ⅰ、遮光筒Ⅱ和探测器光阑，其特征在于，所述离轴三反镜组件包括主镜组件、次镜组件和三镜组件；所述主框架包括一体成型的入光口板、主镜基板、次镜基板、三镜基板、探测器基板、顶板、底板、支撑板Ⅰ、支撑板Ⅱ、挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ和挡光板Ⅲ；所述挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ和挡光板Ⅲ的一端采用Y型连接，挡光板Ⅲ另一端与探测器基板连接，挡光板Ⅱ的另一端与支撑板Ⅰ连接，挡光板Ⅰ另一端与主镜基板连接；挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ和挡光板Ⅲ将主框架分为主镜舱、次镜舱和三镜舱；所述主镜组件安装在主镜基...

【技术特征摘要】
1.小型离轴三反电离层成像仪框架式结构，包括：前盖板、后盖板、离轴三反镜组件、主框架、探测器组件、T型狭缝结构、桁架杆、消杂光陷阱、遮光筒Ⅰ、遮光筒Ⅱ和探测器光阑，其特征在于，所述离轴三反镜组件包括主镜组件、次镜组件和三镜组件；所述主框架包括一体成型的入光口板、主镜基板、次镜基板、三镜基板、探测器基板、顶板、底板、支撑板Ⅰ、支撑板Ⅱ、挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ和挡光板Ⅲ；所述挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ和挡光板Ⅲ的一端采用Y型连接，挡光板Ⅲ另一端与探测器基板连接，挡光板Ⅱ的另一端与支撑板Ⅰ连接，挡光板Ⅰ另一端与主镜基板连接；挡光板Ⅰ、挡光板Ⅱ和挡光板Ⅲ将主框架分为主镜舱、次镜舱和三镜舱；所述主镜组件安装在主镜基板；所述次镜组件安装在次镜基板上；所述三镜组件安装在三镜基板上；所述探测器组件安装在探测器基板上；所述挡光板Ⅱ设置T型狭缝结构；所述遮光筒Ⅰ安装在入光口板上，遮光筒Ⅱ和探测器光阑安装在探测器基板上；在三镜基板和探测器基板的安装脚上分别均设置桁架杆；所述底板设有独立安装的消杂光陷阱；所述前盖板和后盖板固定在主框架的两个端面，靠近主镜舱、次镜舱和三镜舱内一侧均设有一体成型的消杂光陷阱；所述顶板两端分别与入光口板和主镜基板相连；所述支撑板Ⅱ两端分别与次镜基板和探测器基板相连。


2.根据权利要求1所述的小型离轴三反电离层成像仪框架结构，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：白雪松，付利平，付建国，贾楠，王天放，李睿智，肖思，彭如意，江芳，
申请(专利权)人：中国科学院国家空间科学中心，
类型：发明
国别省市：北京;11