双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器及测量方法技术

本发明专利技术涉及一种波长调频连续波激光干涉压力测量传感器及测量方法，其克服了现有技术中存在的压力精度低，压力量程小，无法绝对测量，压力测量易受环境影响的问题。本发明专利技术包括两路光纤调频连续波激光干涉压力子系统，第一光纤调频连续波激光干涉压力子系统包括第一半导体激光器，第一半导体激光器与第一光纤环行器连接，第一光纤环行器与光纤准直器连接，第一光纤环形器的与第一光电探测器相连；第二激光干涉压力子系统包括第二半导体激光器，第二半导体激光器与第二光纤环行器连接，第二光纤环行器与光纤准直器连接，第二光纤环形器与第二光电探测器相连；光纤准直器后设置膜片式珐珀腔机构。

【技术实现步骤摘要】
双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器及测量方法
：本专利技术属于压力传感
，涉及一种双波长调频连续波激光干涉高精度压力绝对测量仪器，尤其是涉及一种双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器及测量方法。
技术介绍
：光纤压力传感器具有精度高，响应速度快，耐高温，防燃、防爆，抗电磁干扰等很多优点，因此受到各领域的广泛关注。但是因为光纤压力传感器其测量原理是基于将压力形变转化为光强，波长，相位等光学参量实现测量。这些光学参量的特点是变化具有周期性，因此压力测量的量程一般会限制在光学参量变化范围的一个周期内，如果光学参量超过一个变化周期就会出现周期缠绕问题，通常解决的办法是周期数累加，这种测量方式存在的问题是要求压力变化缓慢且需要连续测量，如果压力变化速率过快或者中途断电等特殊情况时干涉级周期累加数就会错误或丢失，导致压力测量结果发生错误，造成重大的生产，监测等安全隐患问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器及测量方法，其克服了现有技术中存在的压力精度低，压力量程小，无法绝对测量，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其特征在于：包括两路光纤调频连续波激光干涉压力子系统，第一光纤调频连续波激光干涉压力子系统包括第一半导体激光器(1)，第一半导体激光器(1)与第一光纤环行器(2)端口一连接，第一光纤环行器(2)端口二通过单模光纤与光纤准直器(5)连接，第一光纤环形器(2)的端口三与第一光电探测器(3)相连；第二光纤调频连续波激光干涉压力子系统包括第二半导体激光器(10)，第二半导体激光器(10)与第二光纤环行器(11)端口一连接，第二光纤环行器(11)端口二通过单模光纤与光纤准直器(5)连接，第二光纤环形器(11)的端口三与第二光电探测器(12)相连；光纤准直器...

【技术特征摘要】
1.一种双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其特征在于：包括两路光纤调频连续波激光干涉压力子系统，第一光纤调频连续波激光干涉压力子系统包括第一半导体激光器(1)，第一半导体激光器(1)与第一光纤环行器(2)端口一连接，第一光纤环行器(2)端口二通过单模光纤与光纤准直器(5)连接，第一光纤环形器(2)的端口三与第一光电探测器(3)相连；第二光纤调频连续波激光干涉压力子系统包括第二半导体激光器(10)，第二半导体激光器(10)与第二光纤环行器(11)端口一连接，第二光纤环行器(11)端口二通过单模光纤与光纤准直器(5)连接，第二光纤环形器(11)的端口三与第二光电探测器(12)相连；光纤准直器(5)后设置膜片式珐珀腔机构。


2.根据权利要求1所述的双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其特征在于：膜片式珐珀腔机构包括部分反射镜(6)和弹性膜片(7)，弹性膜片(7)设置在部分反射镜(6)后侧，弹性膜片(7)粘贴于充气腔机构端面上。


3.根据权利要求2所述的双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其特征在于：第一光纤环形器(2)与第二光纤环形器(11)的出射端同时与压力传感头(4)连接，压力传感头(4)中包括第一光纤准直器和第二光纤准直器，部分反射镜(6)以及金属弹性膜片(7)。


4.根据权利要求2所述的双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其特征在于：第一光纤环形器(2)、第二光纤环形器(11)与光纤准直器(5)之间设置有偏振分束器(8)。


5.根据权利要求2所述的双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其特征在于：第一光纤环形器(2)、第二光纤环形器(11)与光纤准直器(5)之间设置有双路波分复用器(9)。


6.根据权利要求3、4或5所述的双波长调频连续波激光干涉压力测量传感器，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑刚，白浪，郭媛，聂梦笛，盛启明，韩园，
申请(专利权)人：西安工业大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61