一种QKD死时间防御措施的检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种QKD死时间防御措施检测装置及方法，QKD死时间防御措施检测装置包括：与若干探测模块电连接的分析模块，与激光器Ⅰ的同步时钟信号连接的延时模块，延时模块与光源模块电连接，光源模块与诱骗态调制模块光信号连接，人机交互模块与光源模块、延时模块及分析通讯通信连接。QKD死时间防御措施检测装置提供可调光强的光源输入，杜绝被测QKD在测试时在探测器前端伪造数据的可能性，当调节检测装置的光源模块的光强时，被测QKD的探测计数会有相应变化；同时，采用直接提取被测QKD探测器探测输出的物理信号进行自动分析，输出判定结果。

【技术实现步骤摘要】
一种QKD死时间防御措施的检测装置及方法
本专利技术属于量子密钥分配设备测试
，更具体地，本专利技术涉及一种QKD死时间防御措施的检测装置及方法。
技术介绍
死时间攻击利用QKD的探测器的死时间效应进行攻击。死时间效应指的是探测器在探测到一个信号之后的一段时间不能再对入射的光子响应的效应。此攻击不需要截取量子态，只需要在信号脉冲之前(与信号脉冲的时间间隔小于死时间)注入一个强脉冲，该强脉冲使得需要的探测器之外的其它探测器都能响应从而导致在有效窗口内不能探测，那么从没有处于死时间的探测器的响应结果就能获取全部的密钥信息。以BB84偏振编码为例，如果Eve随机选择的强脉冲光的偏振调制为|->，Bob被动选择测量基矢，那么系统中探测|H>，|V>，|->的探测器以很高的概率处于死时间而被致盲，Eve由此控制了接收端探测器的响应。而只有探测器|+>是有效的，那么如果Bob有探测到结果，那么Eve能以很高的准确性判断Bob的探测结果为|+>。该攻击几乎可以针对任何QKD系统，只要QKD系统用到的单光子探测器具有死本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种QKD死时间防御措施检测装置，被测QKD设备由QKD发送端及QKD接收端组成，QKD发送端由依次连接的激光器Ⅰ、诱骗态调制模块及编码模块组成，QKD接收端由依次连接的解码模块及与解码模块连接的n个探测模块，发送端与接收端之间通过量子信道连接，其特征在于，所述QKD死时间防御措施检测装置包括：/n与若干探测模块电连接的分析模块，与激光器Ⅰ的同步时钟信号连接的延时模块，延时模块与光源模块电连接，光源模块与诱骗态调制模块光信号连接，人机交互模块与光源模块、延时模块及分析模块通讯通信连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种QKD死时间防御措施检测装置，被测QKD设备由QKD发送端及QKD接收端组成，QKD发送端由依次连接的激光器Ⅰ、诱骗态调制模块及编码模块组成，QKD接收端由依次连接的解码模块及与解码模块连接的n个探测模块，发送端与接收端之间通过量子信道连接，其特征在于，所述QKD死时间防御措施检测装置包括：
与若干探测模块电连接的分析模块，与激光器Ⅰ的同步时钟信号连接的延时模块，延时模块与光源模块电连接，光源模块与诱骗态调制模块光信号连接，人机交互模块与光源模块、延时模块及分析模块通讯通信连接。


2.如权利要求1所述QKD死时间防御措施检测装置，其特征在于，人机交互模块用于输入测试的前置参数；
在被测QKD设备采用主动编码方式时，对接收被测QKD设备输入的同步信号延时处理后发送给光源模块，以使光源模块输入到被测QKD设备的光脉冲处于相位调制器调制电压的稳定区；
光源模块基于同步信号产生光信号，其生成的光信号与被测QKD设备激光器发出光信号的频率、脉宽及波长一致；
分析模块基于被测QKD设备的死时间参数，对被测QKD设备输入的探测输出信号进行时域分析，验证被测QKD设备是否做了死时间防御措施。


3.如权利要求1或2所述QKD死时间防御措施检测装置，其特征在于，光源模块包括：
MCU控制单元，人机交互模块的输出端与MCU控制单元的输出端连接，MCU控制单元的输出端分别与脉冲调制单元、温控单元及衰减单元通信连接，温控单元及脉冲调制单元的输出端与激光器Ⅱ的输入端连接，激光器Ⅱ的输出单元与衰减单元的输入端连接，衰减单元的输出端与诱骗态调制模块的输入端光信号连接。


4.如权利要求3所述QKD死时间防御措施检测装置，其特征在于，MCU控制单元将人机交互模块发来的...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋晨，刘婧婧，叶显钊，金蔚娴，宋欢欢，龚升，李蒙，朱唐文，王红雅，兰瑜，刘云，凌杰，吴飞，陈晓敏，刘杰杰，
申请(专利权)人：安徽问天量子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34