【技术实现步骤摘要】
一种用于薄膜检测的微米级调节装置
本技术涉及薄膜检测
,具体涉及一种用于薄膜检测的微米级调节装置。
技术介绍
为了确保薄膜生产高效、经济、高质量,生产中物理参数的动态测量非常重要。传统生产中薄膜物理参量动态监测使用两种方法检测,一种是辐射法,另一种是光学法。辐射法会对环境造成辐射污染,对生产人员造成伤害,生产成本增加;光学法虽无污染,但是检测范围和精度受限,很难满足生产需要。如何高效、经济、安全的满足薄膜生产中物理参数的动态测量,是制约薄膜生产的一项关键技术。尤其是满足智能生产需求尤为迫切。微波可以用于薄膜物理参数动态测量早有定论,而且很多文献报道,但用于生产实际中仅只有微波水份检测产品,其他未见报道。薄膜生产中,人们第一关心的物理参量是厚度或单位平方的重量,第二是水份浓度,目前薄膜生产中厚度的动态测量主要采用辐射法少量采用光学法,薄膜厚度和水份浓度使用同一装置完成动态测量未见报道。采用微波谐振腔方法同时测量薄膜厚度和水份浓度精度高,范围广,但是对上下两个端面的平行度和上下两部分间隙提出很高的精度要求,上下间隙变化0.1mm,被测薄膜厚度变化20%;同轴度变化0.1mm,被测薄膜厚度变化15%,但现有装置很难实现如此高精度的调节。
技术实现思路
本技术针对现有技术的不足,提出了一种用于薄膜检测的微米级调节装置,具体技术方案如下:一种用于薄膜检测的微米级调节装置,包括传输框架、设置在传输框架顶端的上固定架以及设置在传输框架底端的下固定架;上固定架包括设置在传输框架顶端并与传 ...
【技术保护点】
1.一种用于薄膜检测的微米级调节装置,其特征在于,包括传输框架(1)、设置在传输框架(1)顶端的上固定架(2)以及设置在传输框架(1)底端的下固定架(3);/n所述上固定架(2)包括设置在传输框架(1)顶端并与传输框架(1)滑动连接的上安装板(21)、设置在上安装板(21)底侧的多组上支架板(22)、设置在上支架板(22)上并与上支架板(22)铰接的上挂耳板(23)、设置在上挂耳板(23)底侧的上导纸板(24)以及设置在上导纸板(24)内侧的上谐振腔(25);/n所述上支架板(22)上设有多组呈弧形分布的上角度调节孔(4),所述上角度调节孔(4)的旋转圆心与上支架板(22)和上挂耳板(23)的铰接点重合,所述上支架板(22)上设有多组与上角度调节孔(4)对应的上固定孔(41),所述上固定孔(41)内设有上固定螺栓(42),所述上固定螺栓(42)依次穿过上角度调节孔(4)和上固定孔(41)并将上支架板(22)和上挂耳板(23)的位置固定。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于薄膜检测的微米级调节装置,其特征在于,包括传输框架(1)、设置在传输框架(1)顶端的上固定架(2)以及设置在传输框架(1)底端的下固定架(3);
所述上固定架(2)包括设置在传输框架(1)顶端并与传输框架(1)滑动连接的上安装板(21)、设置在上安装板(21)底侧的多组上支架板(22)、设置在上支架板(22)上并与上支架板(22)铰接的上挂耳板(23)、设置在上挂耳板(23)底侧的上导纸板(24)以及设置在上导纸板(24)内侧的上谐振腔(25);
所述上支架板(22)上设有多组呈弧形分布的上角度调节孔(4),所述上角度调节孔(4)的旋转圆心与上支架板(22)和上挂耳板(23)的铰接点重合,所述上支架板(22)上设有多组与上角度调节孔(4)对应的上固定孔(41),所述上固定孔(41)内设有上固定螺栓(42),所述上固定螺栓(42)依次穿过上角度调节孔(4)和上固定孔(41)并将上支架板(22)和上挂耳板(23)的位置固定。
2.根据权利要求1所述的用于薄膜检测的微米级调节装置,其特征在于,所述上安装板(21)包括设置在传输框架(1)顶端并与传输框架(1)滑动连接的上连接板(211)、设置在上连接板(211)与上支架板(22)之间的上箱底板(212)以及设置在上连接板(211)与上箱底板(212)之间的上高度调节螺杆(213),所述上高度调节螺杆(213)上并位于上箱底板(212)底侧设有上限位块(214)。
3.根据权利要求1所述的用于薄膜检测的微米级调节装置,其特征在于,所述上导纸板(24)上并位于进纸侧和出纸侧均设有上导纸棍(5)。
4.根据权利要求1所述的用于薄膜检测的微米级调节装置,其特征在于,所述上挂耳板(23)的两侧设有上弧形销(6),所述上支架板(22)上设有与上弧形销(6)对应且形状为弧形的上销孔(61)。
5.根据权利要求1所述的用于薄膜检测的微米级调节装置,其特征在于,所述下固定架(3)包括设置在传输框架...
【专利技术属性】
技术研发人员:张杨,徐程松,刘伟雄,曾来荣,肖伟,
申请(专利权)人:绵阳人众仁科技有限公司,
类型:新型
国别省市:四川;51
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