具有对位校准图样的面板装置制造方法及图纸

本发明专利技术的面板装置以及对面板装置取得对位校准偏移量的方法，应用在两个板件贴合时的对位公差，分别在两层板件上各设置上不同的图样，利用图样间的变化来判断板件的偏移量。当板件层叠起来时，其中一板件的金属层遮住大部分线条，仅局部线条会在金属层上的狭缝中露出。若完全对位重叠，则狭缝中完全不会露出线条。当沿某一方向偏移时，会逐渐开始出现线条，并且数量越多则偏移量越大，由此依据狭缝中露出的线条数量快速准确地判断两板件叠合后的偏移量。

【技术实现步骤摘要】
具有对位校准图样的面板装置
本专利技术有关一种面板装置，尤指一种在两片板件上设置对位校准图样的面板装置。
技术介绍
一般触控面板或显示面板通常是由两层或是两层以上的玻璃器件或电路器件堆叠起来的结构，不同层的器件在堆叠组装时必须彼此对位才能正常运作。目前现有的作法是在其中一层器件设置第一校准部(例如一个圆圈的图样)，在另一层器件对应的位置设置第二校准部(例如一个穿孔)，当两层器件在堆叠时，以肉眼检查圆圈图样的第一校准部是否有落在第二校准部的穿孔里(或者是否可通过穿孔看到圆圈图样)，以判别此两层器件是否有对位。很显然地，此种对位校准的方式精确度不高，无法明确得知每一堆叠成品的偏移量(Shiftamount)的变化，也就无法有效进行统计制造工艺控制(SPC)，以及对制造工艺能力进行监督。目前在品管检查中，实际上仅能执行上述这种简单的肉眼判断，并无法在讲求效率的前提下进行更加精确的偏移量测。相对地，若要进行统计制造工艺控制(SPC)以及对制造工艺能力进行监督，那么以光学显微镜去作更精确的偏移量测检查虽可达到此目的，但却因耗时过长，往往仅能以抽检的方式进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具有对位校准图样的面板装置，其特征在于，包含有：/n一第一板件；/n一第二板件，与所述第一板件对位叠合以形成所述面板装置；以及/n一第一对位组，包含一第一图样以及一第二图样，所述第一图样设置于所述第一板件的一角落，所述第一图样包含沿一第一方向等间隔分布的多个线条，所述第二图样设置于所述第二板件对应所述第一板件的所述角落处，所述第二图样包含沿所述第一方向等间隔分布的多个狭缝；/n其中当所述第二板件与所述第一板件叠合时，所述多个线条沿所述第一方向于所述多个狭缝露出的数量决定所述第二板件相对所述第一板件沿所述第一方向所产生的偏移量。/n

【技术特征摘要】
20190604 TW 1081193951.一种具有对位校准图样的面板装置，其特征在于，包含有：
一第一板件；
一第二板件，与所述第一板件对位叠合以形成所述面板装置；以及
一第一对位组，包含一第一图样以及一第二图样，所述第一图样设置于所述第一板件的一角落，所述第一图样包含沿一第一方向等间隔分布的多个线条，所述第二图样设置于所述第二板件对应所述第一板件的所述角落处，所述第二图样包含沿所述第一方向等间隔分布的多个狭缝；
其中当所述第二板件与所述第一板件叠合时，所述多个线条沿所述第一方向于所述多个狭缝露出的数量决定所述第二板件相对所述第一板件沿所述第一方向所产生的偏移量。


2.如权利要求1所述的面板装置，其特征在于，所述第一板件的周围具有不透光的一深色涂层，所述多个线条为在所述深色涂层上的白色线条，且所述多个白色线条沿所述第一方向的宽度相等于所述多个白色线条彼此之间的间隔；其中所述第二板件的周围具有一金属涂层，所述多个狭缝为所述金属涂层上的镂空狭缝。


3.如权利要求1所述的面板装置，其特征在于，所述多个线条的数量为Nw，所述多个狭缝的数量为Ns，且Nw＝Gb/R+2-Gs以及Ns＝Gb/R+1-Gs；
其中Gb为相邻两个所述线条的间隔，Gs为相邻两个所述狭缝的间隔，R为所述第二板件相对所述第一板件产生的偏移量的设定解析度。


4.如权利要求3所述的面板装置，其特征在于，所述第一图样的等效长度为Lw，且Lw＝2Gb2/R-2GbGs+3Gb。


5.如权利要求4所述的面板装置，其特征在于，所述第一对位组由多个子区段组成，所述多个子区段沿垂直于所述第一方向的方向横向排列，其中任一子区段内含的所述第一图样中的前两个线条与前一子区段内含的所述第一图样中的最后两个线条为同样的两个线条，任一子区段内含的所述第二图样中的前两个狭缝与前一子区段内含的所述第二图样中的最后两个狭缝为同样的两个狭缝。

【专利技术属性】
技术研发人员：黄功杰，苏家正，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71