一种电成像测井图全井壁复原方法技术

一种电成像测井图全井壁复原方法，属于测井技术数据处理领域，专利分类号：Ｇ０１Ｖ　　１／４０。使用电阻率扫描测定仪，扫描测井；采用以下方法进行图像数据计算处理〈１〉输入电阻率扫描成像测井极板数据，〈２〉计算未测点的空间位置，〈３〉选择待算点的影响范围，〈４〉计算每个影响点系数，〈５〉计算该点数值，〈６〉重复上述第〈３〉步到第〈５〉步直到全部未测点，〈７〉出图；采用上述方法可使得全井壁的图像复原，覆盖率达１００％，有效地改善图像的质量，为测井资料的后续图像处理奠定基础，更清楚地反应地下地质结构，使复原过程简化，降低重复测井作业风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，属于测井技术数据处理领域；专利分类号G01V 1/40。
技术介绍
在测井过程中，通常使用电阻率扫描测井仪测量并制成的测井图，由于井身结构和电阻率扫描测井仪结构上的原因，在测量时，仪器处于张开状态，造成在沿井壁扫描时候，有部分井壁未能测量，覆盖率不能达到100％，在电成像测井图上产生白色条带，影响了图像的质量，如图5所示，在计算处理过程中带来麻烦。可补救的方法是在相同井深位置，将电阻率扫描测井仪转动不同角度，重复测量多次，用以弥补原成像测井图上产生的白色条带，即未测数据部分。缺点是工作过程复杂化，并浪费时间，增加施工作业投入和风险。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供，使用已测井壁部分得到的数据，估算未测井壁部分数据，使全井壁图像数据复原，使井壁图像覆盖率达到100％，可有效地改善和提高图像质量；使处理过程简化，节省时间；为测井资料的后续图像处理奠定基础，更清楚地反应地下地质的结构。本专利技术的的技术方案是在测井时采用电阻率成像测井仪扫描井壁，其特征在于，按以下方法进行图像数据计算处理。<1>输入电阻率扫描成像测井仪极板数据；<2>计算已测点和未测点的空间位置<3>选择待算未测点的已测影响点范围； <4>计算每个已测影响点系数即每个已测数据点对此未测点的贡献的大小；<5>计算该未测点数值为所有影响的已测点数值乘以系数之和；<6>重复第<3>步至第<5>步，至全部未测点算完；<7>将已测点和计算后的未测点的数据显示在显示器上，或打印出图。其输入电阻率扫描成像测井极板数据可以是4个～36个极板数据。计算每个影响数点的系数即每个数据点对此点的贡献的大小的计算方法，可用克里金算法、拉格郎日算法、反距离加权等数学算法。通过上述全井壁复原方法处理的测井图，消除了图像上白色条带部分，使井壁覆盖率达到100％，图像质量明显提高，为测井资料的后续图像处理奠定了基础，更清楚地反映了地下地质的结构。不必重复进行测量，使后续处理过程简化，节省时间，降低成本，减小测井作业风险。附图说明图1是本专利技术的的程序框图。图2是电阻率成像测井仪器一个极板上纽扣结构示意图。图3是电阻率成像测井仪器测量时仪器极板结构图。图4是本专利技术的一种电原像测井图处理前的一个深度点，未测数据和已测数据分布示意图，图中白色点代表未测数据，黑色点代表已测数据，图中在某一深度处有6×6个已测点，6×4个未测点。图5是本实施例中，已测点和未测点的分布说明示意图。图中深度点为400个，已测数据为6×24×400个，未测数据为6×10×400个。图6是本专利技术的的处理前，图5数据的效果图，图中每点的灰度正比于电阻率，即黑色点代表低电阻率，浅色点代表高电阻率。图7是采用本专利技术的计算处理后，测井图全井壁复原的效果图，图中白色条带部分被消除，覆盖率达到100％。图8是本专利技术的实施例中的影响范围点示意图，黑点为选择的影响范围点，白点为待算的未测点，阴影点为本实施例计算的未测点。具体实施例方式以下结合附图和实施例，对本专利技术的，进行详细描述。在使用电阻率扫描测定仪成像测井时，由于井身结构和电阻率扫描仪结构上的原因，仪器在测量时处于张开状态，造成在沿井壁扫描时候，有部分井壁未能测量(图3所示的纽扣间部分)，覆盖率不能达到100％，在成像图上产生白色条带，(如图6所示)，直接影响了图像的质量。图4中黑色表示已测数据，白色表示未测数据。采用本专利技术的计算方法(如图1所示)，可复原全井壁电成像测井图，其方法是1.输入电阻率扫描成像测井极板数据；将用电阻率扫描测井仪测井的极板数据输入；本实施例输入六条电阻率扫描曲线p1btn～p6btn，分别为400行24列的矩阵数据，即每个曲线有9600个采样点。2.计算未测点的空间位置此实施例中，仪器结构和井径参数分别为，纽扣为两排，每排12个纽扣电极，间距为0.2英时。仪器有6个极板，仪器测量井壁范围为0.2×12.5×6＝15英时，12为一排纽扣长度，因为两排纽扣上下交错，如图2所示，所以总长度为12.5，6为6个极板。图2中1表示纽扣第一行，2表示纽扣第二行，图2是示意图，一排只显示了8个。图3中3表示一个极板，4表示另一个极板，图中只显示了两个极板。井径为6.7英时，故插值为6个400行10列的数据。取此例中一部分进行描述如图8所示。图8中所有点依次为xx … x x x… …… ………… …… ………… …… ………xx … x x xxx … x x x其中第一行x～x分别代表极板1的第22～24列数据，x～x代表极板2的第1～3列数据，中间x～x10列为未测数据。第二行依次类推。图8中，黑色表示已测数据，白色表示未测数据。此例所要计算的有60个点，位置如图所示。此图为平面展开图，实际为立体圆柱状图，为了简化计算过程，本例近似采用平面坐标计算。3.选择此待算点的影响范围假设要计算第四行第一个白点的数值(图8中阴影点)，可选择影响范围点为全图中的36个黑点；也可以只第四行，第三个黑点一个数据点，本例中选择全部黑点。4.计算每个影响数点的系数即每个数据点对此点的贡献的大小。计算的方法，可用克里金算法、拉格郎日算法、反距离加权等。本实施例采用反距离加权法。输入所影响范围的参数，选择计算系数的数学算法。例如对x点的计算，影响点为x～x和x～x36个点。采用反距离加权算法计算系数的方法。x到x的距离为，(1-4)2+(1-4)2≈4.24]]>x到x的距离为，(1-4)2+(2-4)2≈3.60······]]>x到x的距离为，(6-4)2+(16-4)2≈12.16]]>。对各个距离求倒数得到0.23，0.27……0.08，然后除以36个距离倒数和(0.23+0.27+……+0.08)，得到系数矩阵λ λ … λ λ λ……… … … ………… … … ………… … … …λ λ … λ λ λλ λ … λ λ λ根据不同情况，也可以采用由反距离加权法衍生的如距离的平方等方法，计算系数λ。在计算每个影响数点的系数时，也可采用拉格朗日插值算法，公式如下λ=(x4,4-x1,1)···(x4,4-x4,3)(x4,4-x4,5)···(x4,4-x6,16)(xj,i-x1,1)···(xj,i-x4,3)(xj,i-x4,5)&am本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电成像测井图全井壁复原方法：在测井时采用电阻率成像测井仪扫描井壁，其测井资料处理的特征在于，按以下方法进行测井图像数据计算处理；〈１〉输入电阻率扫描成像测井仪极板数据；〈２〉计算已测点和未测点的空间位置； 〈３〉选择待算未测点的已测影响点范围；〈４〉计算每个已测影响点系数：即每个已测数据点对此未测点的贡献的大小；〈５〉计算该未测点数值：为所有影响的已测点数值乘以系数之和；〈６〉重复第〈３〉步至第〈５〉步，至全部未测点算 完；〈７〉将已测点和计算后的未测点的数据显示在显示器上，或打印出图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：康晓泉，周正志，贺维胜，范乐元，杨春顶，
申请(专利权)人：中油测井技术服务有限责任公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]