检测和定位中性粒子的仪器和方法技术

本发明专利技术涉及一个用于对入射到一个板上的中性粒子流（１４）作一维分析的中性粒子检测器，这个检测器包括一个按掠射方式放置的平面固体变换器（１７），一个用于气体受激电离的栅状电荷放大丝（１８）和一个电荷收集导电条（１９），这些导电条位于最靠近变换器的一侧，它们的电位和变换器的电位相同，本发明专利技术适合于成象。（*该技术在2009年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术特别涉及一个检测和定位中性粒子流中的粒子的仪器，这些粒子从发射源发射后在由限制光栏所限定的围绕中心方向的立体角内传播，该仪器包括一个相对中心方向成掠射角度放置的基本上是平面的固体变换器，该变换器适于在该中性粒子的撞击下产生电荷。电荷放大组件，该组件用于使电荷的电位高于变换器的电位，而通过使周围的气体受激电离实现对电荷的放大作用。电荷收集组件，它包括多根相互间是绝缘的细长导体，这些导体之间以及同变换器是基本平行的，其中的每根导体的轴线同该粒子流的中心方向所构成的平面与变换器基本保持垂直。并且一个能允许中性粒子透过的外罩，它里面装有变换器，电荷放大组件，电荷收集组件和气体。公开号为0228933的欧洲专利申请公开了这种仪器。采用这种仪器使中性粒子源例如X射线光子，Y射线光子或中子照射放在中性粒子源和仪器之间，大尺寸、高密度物体，并进行扫描时，能够得到该物体的高质量的象。特别是用这种已有的仪器照射物体可以获得以前不能得到的对比度电位的象。为了使这个可以与其它的公知系统相匹对的仪器具有更好的性能，从事中性粒子检测的专业人员对这个仪器表现出特殊的兴趣，他们试图寻找最优化方案，然本文档来自技高网...

【技术保护点】
一个检测和定位中性粒子流中的粒子的仪器，这些粒子从发射源射出后在由限制光栏所限定的、围绕中心方向（１５）的立体角内传插。该仪器包括：一个相对于中心方向成掠射角放置的基本上是平面的固体变换器（１７），该变换器在中性粒子的撞击下易于产生电荷 ；电荷放大组件，该组件使电荷的电位高于变换器的电位，而通过使周围气体受激电离实现对电荷的放大作用；电荷收集组件，它包括多根相互间是绝缘的细长的导电体（１９），这些导电体彼此之间以及同变换器是基本平行的，并且，其中的每根细长导体的轴线 同该粒子流的中心方向所构成的平面都与变换器基本保持垂直；一个能允许中性粒子透过的外罩（１１），在其中装有变换...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾琳多利昂，塞尔焦梅特里让，马利奥鲁斯切夫，
申请(专利权)人：施卢默格工业公司，
类型：发明
国别省市：FR[法国]