【技术实现步骤摘要】
本专利技术乃是一个对中子进行检测和二维定位的装置。它应用于图像显示，尤其是用来进行非破坏性的工业检验、非破坏性安全检验。或者更具体地说应用用于对金属结构的腐蚀性检测。众所周知，许多装置可通过粒子流显示出物体的图像，这些粒子包括X光子、γ光子、粒子或者质子。在欧洲专利申请说明书EP0228933和EP0368694中叙述了把一待检测物体放置于中性粒子源和检测装置之间，这种检测器，一般来说包括一个能够产生致电离粒子的光电图像变换器(变像器)。更确切说，通过中性粒子的撞击，使光电图像变换器产生快速的电子。这些快速电子可电离一种气体，并因此产生了电子-正离子对。这样形成的电子被称为一次电子。可以通过一些装置激起“汤森雪崩”现象。让一次电子在强电场的作用下得到加速，以便使其得到的动能可以超过气体分子或者原子的电离能。在该条件下，这些一次电子能够在其周围形成被称为二级电子的其他电子，它们本身参与了雪崩现象。这些二级电子被延伸型(线状或者带状)的检测元件所组成的装置收集，并结合成一系列的象元(素)(每一个象元相对应所形成的象点)。然而，人们借助于上述的这些装置，只能得到线...
【技术保护点】
用于对入射中子进行检测和二维定位的装置，其中包括接受中子的入射表面，其特征在于它包括：－经入射中子的敲击能产生电荷的装置（１６）；－电荷放大装置（１７、１９、２３），该装置在放大过程中发射光子；－用于使发射光子聚焦的装置（２８）；－装置（２９），它适用于使聚焦光子在出口表面上释放出光脉冲，每个光脉冲相对应于入射表面上的各粒子的撞击；这些分布在出口表面上的光脉冲与在入射表面上各粒子的撞击分布相对应，并使其放大直至饱和，以便能获得校准的光脉冲；－由上述出口表面发射的校准的光脉冲的定位和计数装置（５８、６０、６２）。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：F阿里奥力，S梅特琼恩，I多利翁，
申请(专利权)人：施卢默格工业公司，
类型：发明
国别省市：FR[法国]
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