半导体放射线检测器、放射线检测模块及核医学诊断装置制造方法及图纸

技术编号:2657489 阅读:213 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种能量分辨能力及时间精度优良的放射线半导体检测器、放射线检测模块及核医学诊断装置。半导体放射线检测器(21)具有将碲化镉的板状元件(211)和金属制的导电部件(22、23)利用导电性粘接剂(21A)粘接,并将碲化镉的板状元件(211)和导电部件(22、23)交替叠层的构造,其特征在于:导电性粘接剂(21A)的纵弹性模量是350MPa~1000MPa,且导电部件(22、23)由其线膨胀系数在5×10↑[-6]/℃~7×10↑[-6]/℃的范围的材料构成。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具备半导体放射线检测元件的半导体放射线检测器、放射线检测模块以及使用这些的核医学诊断装置。
技术介绍
近几年,应用放射线计测技术的机器广泛普及。特别是在医疗领域其倾向是显著的,其代表性的装置是阳电子发射型断层摄影装置(PET摄像装置)、单光子发射型断层摄影装置(SPECT装置)、γ辐射室等。在这些机器中主要使用的放射线检测器是将闪烁器和光电倍增管组合而成的检测器。闪烁器在放射线入射时就发光,并用光电倍增管将其微弱的光放大,以检测放射线。另一方面,在放射线的计测中也可以不使用闪烁器,而使用用了如碲化镉(以下记为CdTe)之类的化合物半导体的半导体放射线检测器。半导体在放射线入射时,由于光电效应就生成称为空穴及电子的电荷,这些电荷在因施加于半导体上的外部电压而产生的电场中移动。由于该电荷量与放射线的能量成比例,所以通过准确地测量电荷量便可以准确地知道放射线的能量。上述CdTe,在半导体中由于有效的原子序数大而灵敏度高,虽然由于带隙大到1.4V而有室温动作的可能,但由于在上述闪烁器中原子序数也大,因此为了与此对抗希望进一步提高CdTe的灵敏度。所以,可考虑加大CdTe的体本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体放射线检测器,是将碲化镉用作主材料的半导体放射线检测器,具有将上述碲化镉的板状元件和金属制的导电部件利用导电性粘接剂粘接,并将上述碲化镉的板状元件和上述金属制的导电部件交替叠层的结构,其特征在于:上述导电性粘接剂的纵弹性模 量是350MPa~1000MPa,且上述金属制的导电部件由其线膨胀系数在5×10↑[-6]/℃~7×10↑[-6]/℃的范围的材料构成。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:清野知之柳田宪史高井俊明依田智子松岛直树
申请(专利权)人:株式会社日立制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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