确定检测器清单的不均匀性的方法技术

确定检测器清单的不均匀性的方法。使得清单的每一个检测器经受完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像，根据所述辐射图像确定总体场分布并且在所述图像中抵消所述场分布，接下来计算所述不均匀性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数字放射线摄影系统的质量保证。更具体来说，本专利技术涉及与用在数字放射线摄影系统中的一组检测器相关的质量保证，该组检测器被称作检测器清单(detector inventory )。
技术介绍
所设想的检测器可以是粉末磷光体屏幕或针图像板(needle IP)、 直接放射线摄影检测器(被设置成用于直接放射线摄影的无定形硅、 无定形硒、Cmos、磷光体检测器等等)或类似检测器。通过把所述检测器(也被称作"平板")啄光于X射线场而在该 检测器上记录辐射图像。在所谓的读出系统(也被称作"数字化器，，) 中读出由该检测器临时存储的所述辐射图像，在该读出系统中利用具 有适当波长的光对所膝光的检测器进行扫描，其中检测到由该检测器 在受到激励时发射的经过图像方面调制的光并且将其转换成表示所述 辐射图像的数字图像信号。磷光体屏幕或针图像板通常被放置在盒带中，并且不是所述读出 系统的一部分。这意味着需要对于每一个检测器评估该检测器的均匀 性。均匀性的概念指的是所述检测器在该检测器表面的每一点处相对 于平均灵敏度的灵敏度。这一概念被称作固有均匀性。其对于该检测 器表面的每一点处的恒定剂量被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测参与在检测器清单测试中的各辐射检测器的不均匀性的方法，包括以下步骤：　　　　－使得每一个所述检测器经受基本上完全相同的平场曝光，以便在每一个所述检测器中产生辐射图像；　　　　－对于每一个所述检测器产生表示在预定义数目的感兴趣区域（ＲＯＩ）处的所述辐射图像的多个ＲＯＩ信号；　　　　－对于每一个所述检测器，通过相对于参考ＲＯＩ信号表示所述ＲＯＩ信号而产生ＲＯＩ信号比值，其中所述参考ＲＯＩ信号是在被取作参考感兴趣区域的其中一个所述感兴趣区域内检测到的；　　　　－在参与到所述清单测试中的各检测器上对相应的ＲＯＩ信号比值求平均，以便提取所述辐射曝光的不均匀特性；　　　　－对于参与在所述检测器清单...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：M克勒森斯，W埃克塞尔曼斯，
申请(专利权)人：爱克发医疗保健公司，
类型：发明
国别省市：BE[比利时]