一维综合孔径微波辐射计制造技术

本实用新型专利技术涉及一种一维综合孔径微波辐射计，包括依次连接的天线阵列、接收机阵列、相关器单元、控制和数据处理单元，所述控制和数据处理单元与计算机或数据接口连接；其特征在于，所述天线阵列是一维天线阵列，该天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。本实用新型专利技术具有如下技术效果：实现了一维综合孔径的全极化测量；实现了综合孔径辐射计等入射角测量；实现了综合孔径微波辐射计的两点定标；本实用新型专利技术的一维孔径综合的技术复杂度低于二维孔径综合；本实用新型专利技术的单通道接收机极化切换模式满足了轻量化和低功耗的要求；本实用新型专利技术的双通道接收机模式实现了高灵敏度辐射测量。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于微波遥感
，具体地说，本技术涉及用于极 化测量的孩l波辐射计。
技术介绍
自20世纪80年代后期，以ESTAR的试飞成功为标志， 一直用于射电天 文领域的被动微波孔径综合技术成功应用于对地观测领域。特别是对于较低 频率的对地孩i:波遥感系统来i兌，实孔径孩吏波辐射计对天线的设计、加工、运 载和在轨扫描都提出苛刻的要求。与之相反，综合孔径樣i波辐射计采用稀疏 阵列和相关处理，同时获得视场内所有像素的辐射亮温，不需要天线的机械 扫描。由于采用一定数目的小天线单元代替了大的天线单元，而小天线单元 阵列在发射过程中可以折叠，从而也避免了大天线研制和运载的技术难题。 ESTAR是一种一维综合孔径微波辐射计，采用波导缝隙天线作为单元天 线，交轨方向为宽波束，通过孔径综合技术提高空间分辨率；顺轨方向为窄 波束，通过平台本身的运动实现推扫成像。但是ESTAR是一种单一极化微波 辐射计，这是由于波导缝隙天线本身的局限性所造成(可参考C. S. Ruf， C. T. Swift, A. B. Tanner, and D. M. Le Vine,"Interferometric synt本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种一维综合孔径微波辐射计，包括依次连接的天线阵列、接收机阵列、相关器单元以及控制和数据处理单元，所述控制和数据处理单元能与计算机或数据接口连接，其特征在于，所述天线阵列是一维天线阵列，所述天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴季，阎敬业，马纽埃尔马丁尼拉，
申请(专利权)人：中国科学院空间科学与应用研究中心，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]