玻璃棒钻孔设备校准装置以及夹具水平校验方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及玻璃棒加工设备技术领域，提供一种玻璃棒钻孔设备校准装置以及夹具水平校验方法，其中的玻璃棒钻孔设备校准装置包括：百分表、加长杆、磁力支架和活动支架；加长杆水平设置，磁力支架和活动支架竖直设置，百分表的测针向下；加长杆分别与百分表的上部以及磁力支架的上部连接；活动支架设置于百分表和磁力支架之间；活动支架的上部与加长杆滑动连接，活动支架的上部与加长杆的相对滑动方向沿加长杆的轴向。玻璃棒钻孔设备校准装置通过加长杆连接百分表，能够增加百分表的支撑距离，适应玻璃棒钻孔设备校准的需求。加长杆同时由磁力支架和活动支架进行支撑，能够保证加长杆的稳定性，使测量结果准确。

【技术实现步骤摘要】
玻璃棒钻孔设备校准装置以及夹具水平校验方法
本专利技术涉及玻璃棒加工设备
，尤其涉及一种玻璃棒钻孔设备校准装置以及夹具水平校验方法。
技术介绍
现在实际生产作业过程中，玻璃棒的钻孔机床定心轴夹具上与产品接触的夹具部件使用ABS材质的零部件，因ABS长时间使用变形现象比较大，所以需要定期对工装夹具进行打表校验是否符合生产标准。不打表校验会导致工件装夹不在水平轴线上，不能及时发现夹具是否存在变形。利用伸出刀杆和塞尺检验的办法校验夹具，由于刀杆伸出的越长稳定性越差，检验误差太大，因此需要通过百分表进行校验。机床在主轴与夹具之间有导向套和支撑套，机床主轴受行程限制不能靠近夹具校验，而常规的百分表支架长度不够，无法完成测量，而单纯的增加百分表的支架长度又会降低稳定性，增加检验误差。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种玻璃棒钻孔设备校准装置，包括：百分表、加长杆、磁力支架和活动支架；所述加长杆水平设置，所述磁力支架和所述活动支架竖直设置，所述百分表的测针向下；所述加长杆分别与所述百分表的上部以及所述磁力支架的上部连接；所述活动支架设置于所述百分表和所述磁力支架之间；所述活动支架的上部与所述加长杆滑动连接，所述活动支架的上部与所述加长杆的相对滑动方向沿所述加长杆的轴向。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述加长杆与所述磁力支架的连接位置以及所述加长杆与所述活动支架的连接位置的高度可调。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述磁力支架包括磁性座和竖向支撑杆，所述磁性座用于吸附固定在玻璃棒钻孔设备上，所述竖向支撑杆下端与所述磁性座连接，所述竖向支撑杆通过十字扣件与所述加长杆连接。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述活动支架包括底座、升降杆和安装块，所述升降杆的长度可调，所述升降杆一端与所述底座连接，另一端与所述安装块连接，所述安装块上设置有安装通孔，所述加长杆穿过所述安装通孔并通过所述安装通孔与所述安装块滑动连接。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述升降杆包括内杆和外套管，所述内杆上设置有外螺纹，所述外套管上设置有内螺纹，所述内杆与所述外套管螺纹连接，所述内杆一端与所述底座固定连接，所述外套管与所述安装块固定连接。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述升降杆包括内滑杆、外套筒和锁定件，所述内滑杆滑动连接于所述外套筒，所述内滑杆一端连接安装块，所述外套筒一端连接底座，所述锁定件用于使所述升降杆的长度固定。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述百分表通过十字扣件与所述加长杆连接。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，玻璃棒钻孔设备校准装置还包括水平尺，所述水平尺用于校验所述加长杆是否水平。根据本专利技术一个实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，所述水平尺固定在所述加长杆上，所述水平尺的气泡管沿所述加长杆的轴线方向。本专利技术实施例还提供一种使用如上所述玻璃棒钻孔设备校准装置的夹具水平校验方法，包括以下步骤：将磁力支架吸附固定在玻璃棒钻孔设备的主轴导杆支撑套上，并将活动支架支撑在玻璃棒钻孔设备的支撑套上；调整所述磁力支架和所述活动支架的高度使加长杆轴线水平；调整百分表在加长杆上的位置，使百分表的测针抵接在夹具的工作面上；驱动玻璃棒钻孔设备的主轴沿轴向移动，以带动所述磁力支架沿驱动玻璃棒钻孔设备的主轴的轴向移动；观察百分表上的指针跳动，并根据观察结果调整夹具。本专利技术实施例提供的玻璃棒钻孔设备校准装置以及夹具水平校验方法，通过加长杆连接百分表，能够增加百分表的支撑距离，适应玻璃棒钻孔设备校准的需求。加长杆同时由磁力支架和活动支架进行支撑，能够保证加长杆的稳定性，使测量结果准确。加长杆与磁力支架的连接位置以及加长杆与活动支架的连接位置的高度可调，能够消除玻璃棒钻孔设备对加长杆水平度的影响，便于将加长杆调整至水平，保证测量准确性。通过玻璃棒钻孔设备校验装置校验夹具时，通过将磁力支架吸附固定在玻璃棒钻孔设备的主轴导杆支撑套上，主轴沿轴向移动时可带动百分表水平移动。由于主轴的导轨支撑套始终为水平移动，因此能够保证磁力支架对加长杆的支撑高度不变，进而保证测量结果准确。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一个实施例提供的一种玻璃棒钻孔设备校准装置整体结构示意图；图2是本专利技术一个实施例提供的一种玻璃棒钻孔设备校准装置使用状态图；图3是本专利技术一个实施例提供的一种玻璃棒钻孔设备校准装置中活动支架结构示意图；图4是本专利技术另一个实施例提供的一种玻璃棒钻孔设备校准装置中活动支架结构示意图；图5是本专利技术另一个实施例提供的一种玻璃棒钻孔设备校准装置整体结构示意图。附图标记：100、百分表；200、加长杆；300、磁力支架；310、磁性座；320、竖向支撑杆；400、活动支架；410、底座；420、升降杆；421、内杆；422、外套管；423、内滑杆；424、外套筒；425、锁定件；430、安装块；431、安装通孔；500、主轴；600、支撑套；700、夹具；800、十字扣件；900、水平尺。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。下面结合图1和图2描述本专利技术实施例的玻璃棒钻孔设备校准装置，玻璃棒钻孔设备校准装置包括：百分表100、加长杆200、磁力支架300和活动支架400。加长杆200水平设置，磁力支架300和活动支架400竖直设置，百分表100的测针向下；加长杆200分别与百分表100的上部以及磁力支架300的上部连接，并且百分表100设置在加长杆200靠近其中一端的位置，磁力支架300设置在靠近加长杆200另一端的位置。当磁力支架300竖直固定时，加长杆200对百分表100进行支撑，便于进行测量。活动支架400设置于百分表100和磁力支架300之间，活动支架400的上部与加长杆200滑动连接，活动支架400的上部与加长杆200的相对滑动方向沿加长杆200的轴向。活动支架400能够对加长杆200起到辅助支撑的作用，避免加长杆200由于长度较长受自身及百分表100重力影响下弯，能有效提高检测准确度。当应用于玻璃棒钻孔设备时，将磁力支架300吸附在玻璃棒钻孔设备的主轴500导杆支撑套600上，并将活动支架本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种玻璃棒钻孔设备校准装置，其特征在于，包括：百分表、加长杆、磁力支架和活动支架；/n所述加长杆水平设置，所述磁力支架和所述活动支架竖直设置，所述百分表的测针向下；/n所述加长杆分别与所述百分表的上部以及所述磁力支架的上部连接；/n所述活动支架设置于所述百分表和所述磁力支架之间；所述活动支架的上部与所述加长杆滑动连接，所述活动支架的上部与所述加长杆的相对滑动方向沿所述加长杆的轴向。/n

【技术特征摘要】
1.一种玻璃棒钻孔设备校准装置，其特征在于，包括：百分表、加长杆、磁力支架和活动支架；
所述加长杆水平设置，所述磁力支架和所述活动支架竖直设置，所述百分表的测针向下；
所述加长杆分别与所述百分表的上部以及所述磁力支架的上部连接；
所述活动支架设置于所述百分表和所述磁力支架之间；所述活动支架的上部与所述加长杆滑动连接，所述活动支架的上部与所述加长杆的相对滑动方向沿所述加长杆的轴向。


2.根据权利要求1所述的玻璃棒钻孔设备校准装置，其特征在于，所述加长杆与所述磁力支架的连接位置以及所述加长杆与所述活动支架的连接位置的高度可调。


3.根据权利要求1所述的玻璃棒钻孔设备校准装置，其特征在于，所述磁力支架包括磁性座和竖向支撑杆，所述磁性座用于吸附固定在玻璃棒钻孔设备上，所述竖向支撑杆下端与所述磁性座连接，所述竖向支撑杆通过十字扣件与所述加长杆连接。


4.根据权利要求1所述的玻璃棒钻孔设备校准装置，其特征在于，所述活动支架包括底座、升降杆和安装块，所述升降杆的长度可调，所述升降杆一端与所述底座连接，另一端与所述安装块连接，所述安装块上设置有安装通孔，所述加长杆穿过所述安装通孔并通过所述安装通孔与所述安装块滑动连接。


5.根据权利要求4所述的玻璃棒钻孔设备校准装置，其特征在于，所述升降杆包括内杆和外套管，所述内杆上设置有外螺纹，所述外套管上设置有内螺纹，所述内杆与所述外套...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁应龙，
申请(专利权)人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42