提供一种普通单色光测距的系统和方法，该系统包括用于发射光信号的发光器件、涂有具有回归反光特性高反射率材料的被测物体、用于接收反射光信号的光电器件、以及一个通过光的传播时间测量光路长度的电路系统。其中，所述发光器件将电路系统提供的电信号转换成光信号，并将光信号发射向被测物体；所述被测物体上涂有的具有回归反光的特性的高反射率材料使光信号主要沿原路返回；所述光电器件将接收反射的光信号转变成电信号；所述电路系统通过测量光信号从发光器件发出到光电器件接受到的时间差，计算出光路的距离。其大大地提高了测距的准确度。通过普通单色光测距，可以降低系统的实现成本，还可以极大地改进其性能。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种普通单色光测距的系统和方法，特别涉及所述系统和方 法在石油钻井工程中测大钩高度的应用。
技术介绍
在以光波为信号测距的系统中，目前广泛采用的测距方法主要是激光测 距法。激光测距是利用激光的单色性和相干性好、方向性强等特点，实现对 距离的高精度测量。根据测量方法的不同，激光测距仪通常可分为脉冲式和 连续波相位式两种测量形式。脉冲式激光测距原理与雷达测距相似，测距仪向目标发射激光信号，碰 到目标就要被反射回来，由于光的传播速度是已知的，所以只要记录下光信号的往返时间，用光速(30万千米/秒)乘以往返时间的二分之一，就是所 要测量的距离。光以速度c在空气中传播，如果在A、 B两点间往返一次所 需时间为"则A、 B两点间距离Z)可用下列表示(1)2式中Z)——测站点A、 B两点间距离； c——光在大气中传播的速度； f——光往返A、 B—次所需的时间。 由上式可知，要测量A、 B距离实际上是要测量光传播的时间f。 连续波相位式激光测距是用连续调制的激光波束照射被测目标，从测量 光束往返中造成的相位变化，可换算出被测目标的距离。在实际运用中，例如在石油钻井工程中测大钩高度时，井场的工作环境 恶劣，安全系数低，需要现场的工作人员越少越好，而激光测距需要技术人员时刻在现场将激光对准被测物体，不适宜恶劣的石油钻井工程环境。
技术实现思路
本专利技术的核心的内容是，对现有的激光测距系统进行改进，在被测物体 表面涂上具有回归反光特性的高反射率材料，将激光测距系统中的小波束角 激光换成大波束角的普通单色光。优化的实施方案包括使用环频法测量。本专利技术的专利技术目的是针对上述现有的激光测距的系统和方法存在的由于 对操作的要求过高而导致的上述缺点和不足，提供一种可以避免上述缺点和 不足的普通单色光测距的系统和方法。本专利技术的另一目的是提供所述普通单 色光测距的系统和方法在石油钻井工程中测量大钩高度的应用。现有的激光测距法是利用发送端向被测物体发射激光信号，激光信号碰 到被测物体反射回来被接收器接收的，系统通过测量激光从发射到接收之间 的旅行时间来求得被测物体的距离。本专利技术的专利技术人通过研究现有的激光测 距法，提出了一种与之不同的普通单色光测距法。激光测距的缺点是激光波束角小，几乎等于o，因此当被测物体移动时须精细调整发射端，以保证狭窄的激光波束准确地照射到被测物体上。本专利技术 针对该缺点提出普通单色光测距法，具体的实施方式是将被测物体涂上具有 回归反光特性的高反射率材料，使照射到被测物体上的光信号大部分原路返 回，这样只要将接收端与发射端安装在一起，并保证发射光以较大的波束角 大致照向被测物体，不必精细调整测量系统，就能很稳定地接收到足够强度 的从被测物体表面反射回来的光信号。本系统和方法适合在恶劣的石油钻井 工程现场应用。针对光信号从发射到接收之间的传播时间过短，测量困难的情况，本发 明的优化实施方案提出采用环频法测量光信号在空间的旅行时间。在本专利技术 的系统中设计了一个反馈系统，信号通过反馈系统从光电器件反馈给发光器件，反馈系统中利用自动增益放大电路放大信号，使该系统只自激在基频上， 当被测物体移动时自激频率也随之改变，因此可通过频率仪测量自激频率达 到测量距离的目的。在反馈系统中对信号进行处理，减小外界的干扰，从而 本系统和方法大大提高了测量的精确性。本专利技术所提供的普通单色光测距的系统包括用于发射光信号的发光器 件、涂有具有回归反光特性高反射率材料的被测物体、用于接收反射光信号 的光电器件、以及一个通过光的传播时间测量光路长度的电路系统。其中， 所述发光器件将电路系统提供的电信号转换成光信号，并将光信号发射向被 测物体；所述被测物体上涂有的具有回归反光的特性的高反射率材料使光信 号主要沿原路返回；所述光电器件将接收反射的光信号转变成电信号；所述 电路系统通过测量光信号从发光器件发出到光电器件接受到的时间差，计算 出光路的距离。本专利技术所提供的普通单色光测距的方法通过在被测物体上涂上具有回归 反光特性的高反射率材料，使被测物体更易于和背景区分。优化的实施方案 包括使用环频法测量。环频法测量包括以下步骤利用发光器件将光信号向 被测物体发射，被测物体使光信号返回，光电器件将接收到的反射光信号转 变成电信号，通过反馈系统将信号反馈给发光器件，使系统自激在环路中产 生相位差为2Np (N为整数)的频率信号上，采用技术手段使系统只自激在 基频，保证系统在不同被测距离时自激在不同频率上，通过频率仪测量自激 频率达到测量距离的目的。附图说明图1是普通单色光测距系统的工作原理图2是本专利技术所提供的普通单色光测距的系统装置的模型。具体实施例方式下面通过具体实施方式并结合附图对本专利技术作进一步详细的描述。 本专利技术中涉及一种具有回归反光的特性的具有回归反光特性的高反射率 材料，这种材料目前被广泛用于交通标牌之上。这种材料的主要机理是，反 光材料制品采用高折射率玻璃微珠后半表面镀铝作为后向反射器，具有极强的逆向回归反射性能，能将85%的光线直接反射回光源处。本专利技术所提供的这种普通单色光测距的系统可以应用在各个领域，并不局限于下面的实施方式中所详细说明的领域。下面选取典型的领域对普通单色光测距的系统详细说明本专利技术的具体实施方式。普通单色光测距的系统具体实施方式很多，比如脉冲式普通单色光测距、连续波相位式普通单色光测距、环频法普通单色光测距等，本专利技术中使用环频法普通单色光测距作为优化的实施方案，但不局限于这一优化的实施方案。如图1所示，环频法普通单色光测距系统包括用于发射、接受以及反馈 信号的系统装置1和使光信号反射的涂有具有回归反光特性高反射率材料的 被测物体2;如图2所示，上述系统装置包括用于发射光信号的发光器件7、 用于接收反射光信号的光电器件4、用于将接收反射的信号反馈给发光器件 的反馈系统(由带通滤波器5和自动增益放大电路6组成)以及用于测量频 率的频率仪8。其中，所述发光器件7将光信号向被测物体2发射，所述被 测物体2使光信号反射，所述光电器件4接收反射的光信号转变成电信号， 电信号通过所述反馈系统反馈给发光器件，使该系统自激在某频率上，所述 频率仪8测量其自激频率。所述系统装置1是用于发射、接受以及反馈信号的电路系统部分和用于 对光信号选频的光学透镜组成，为了避免由于被测距离太短导致自激频率过 高，还可以延长光信号传输距离，如图l所示在发光器件端利用光导纤维3传输，但它并不局限于安装在发光器件端，也可以安装在光电器件端。如图2所示即为系统装置1的电路系统部分，下面将以模块化阐述；光学透镜用于选定载波的频率，通过选频使载波成为单频率波，即光束为单色光，避开其他频率载波的干扰，它并不局限于如图1所示安装在反射光路上，也可以安装在入射光路上或者两路上同时安装。对于所述被测物体2不作特别限定。为了使光信号原路返回可以在被测物体2上涂具有回归反光特性的高反射率材料。所述光电器件4可以是各种将光信号转变成电信号的器件，如光电二极管等。所述光电器件4通过光信号的强度改变而使电信号的强度改变。 所述反馈系统包括带通滤波器5和自动增益放大电路6。所述带通滤波器 5和自动增益放大电路6的构成均为本领域人员所公知。例如，可以采用图 2中所示的带通滤波器5使本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种通过普通单色光测距的系统，该系统包括用于发射光信号的发光器件、涂有具有回归反光特性高反射率材料的被测物体、用于接收反射光信号的光电器件、以及一个通过光的传播时间测量光路长度的电路系统，其中，所述发光器件将电路系统提供的电信号转换成光信号，并将光信号发射向被测物体；所述被测物体上涂有的具有回归反光的特性的高反射率材料使光信号主要沿原路返回；所述光电器件将接收反射的光信号转变成电信号；所述电路系统通过测量光信号从发光器件发出到光电器件接受到的时间差，计算出光路的距离。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李代甫，
申请(专利权)人：李代甫，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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