本实用新型专利技术涉及半导体器件测试技术领域，特别地涉及一种测试装置及测试系统。本实用新型专利技术的测试装置将所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板，使得相邻所述测试插孔件之间相互靠近或远离，进而可灵活地改变测试插孔件的排序，可灵活地根据用户需要进行测试的半导体器件的管脚的排列方式，进而调整测试插孔件的排序使之与半导体器件的管脚的排列方式相对应，可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件。本实用新型专利技术提供的测试装置可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件，节约成本，提高工作效率。
【技术实现步骤摘要】
一种测试装置及测试系统
本技术涉及半导体器件测试
，特别地涉及一种测试装置及测试系统。
技术介绍
随着半导体器件技术的发展，半导体器件一直在往高性能、高可靠性和小型化的方向发展。为了确保器件能够满足性能需求、市场需求等，器件从研发到上市，需要比较长的研发周期，这一过程中需要经过很多次的测试，以确保器件能够达到研发要求。测试在整个占据着非常重要的地位，目前的测试装置在实际测试过程中使用非常不方便，每次测试都需要焊接跳线再进行测试，这一过程不仅耗时耗力，而且还可能会将元器件引脚焊接坏，影响实验结果。甚至可能损伤器件，拖延实验周期。
技术实现思路
本技术提供一种测试装置，所述测试装置的所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板，可有效地解决上述技术问题。本技术的测试装置，包括测试基板以及至少两个用于连接待测器件的测试插孔件；其中，所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板，以使相邻所述测试插孔件之间相互靠近或远离。在一个实施方式中，所述测试装置还包括至少两个测试组，所述测试组可活动地连接于所述测试基板，以使相邻所述测试组之间相互靠近或远离；所述测试插孔件设置于所述测试组内，并可随着所述测试组移动。在一个实施方式中，所述测试插孔件间隔连接于所述测试组，并沿着第一预设方向可选择地滑动；所述测试组间隔连接于所述测试基板，并沿着第二预设方向可选择地滑动；其中，所述第一预设方向与所述第二预设方向成夹角设置。在一个实施方式中，所述第一预设方向与所述第二预设方向之间的夹角设置为90°。<br>在一个实施方式中，所述测试插孔件包括插孔，所述插孔的内侧设置有用于夹持待测器件的管脚的夹持弹片。在一个实施方式中，所述夹持弹片包括至少一部分相互抵接的第一弹片以及第二弹片，所述第一弹片与所述第二弹片在待测器件管脚的压力作用下相互远离并积蓄弹性势能从而抵接于待测器件的管脚。在一个实施方式中，所述第一弹片与所述第二弹片关于两者的连接点对称且倾斜地设置，沿着向所述测试插孔件的插孔的延伸方向所述第一弹片与所述第二弹片之间的距离逐渐减小。在一个实施方式中，所述第一弹片设置为弯折状，所述第一弹片具备有相连的第一弯折部以及第二弯折部；所述第二弹片设置为弯折状，所述第二弹片具备有相连的第三弯折部以及第四弯折部；所述第一弯折部与所述第三弯折部相对设置，沿着所述测试插孔件的插孔的延伸方向，所述第一弯折部与所述第三弯折部之间的距离逐渐减小；所述第二弯折部与所述第四弯折部相对设置，沿着所述测试插孔件的插孔的延伸方向，所述第二弯折部与所述第四弯折部之间的距离逐渐减小。在一个实施方式中，所述第一弯折部与所述第三弯折部关于所述插孔的轴线对称设置；所述第二弯折部与所述第四弯折部关于所述插孔的轴线对称设置。在一个实施方式中，所述夹持弹片上上设置有测试导线，所述测试导线沿着所述插孔的延伸方向设置。在一个实施方式中，所述插孔的边缘处设置有绝缘胶。本技术还提供了一种测试系统，所述测试系统包括上述的测试装置。本技术提供的一种测试装置，与现有技术相比，至少具备有以下有益效果：本技术的测试装置将所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板，使得相邻所述测试插孔件之间相互靠近或远离，进而可灵活地改变测试插孔件的排序，可灵活地根据用户需要进行测试的半导体器件的管脚的排列方式，进而调整测试插孔件的排序使之与半导体器件的管脚的排列方式相对应，可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件。本技术提供的测试装置可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件，节约成本，提高工作效率。本技术提供的测试系统，由于包括上述的测试装置，因此也具备有上述的有益效果。附图说明在下文中将基于实施例并参考附图来对本技术进行更详细的描述。图1是本技术实施例的测试装置的整体结构示意图；图2是本技术实施例的测试装置的剖面示意图；图3是本技术实施例的测试装置以及待测器件的连接结构示意图；图4是本技术实施例在第一视角下的测试装置以及待测器件的连接剖面示意图；图5是本技术实施例在第二视角下的测试装置以及待测器件的连接剖面示意图。在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。附图标记：10-测试装置；11-测试基板；13-测试组；131-测试插孔件；133-测试导线；135-绝缘胶；15-夹持弹片；151-第一弹片；151a-第一弯折部；151b-第二弯折部；153-第二弹片；153a-第三弯折部；153b-第四弯折部。具体实施方式下面将结合附图对本技术作进一步说明。请参照图1至图5，本技术的测试装置10，包括测试基板11以及至少两个用于连接待测器件的测试插孔件131；其中，所述测试插孔件131可活动地连接于所述测试基板11，以使相邻所述测试插孔件131之间相互靠近或远离。本技术的测试装置10将所述测试插孔件131可活动地连接于所述测试基板11，使得相邻所述测试插孔件131之间相互靠近或远离，进而可灵活地改变测试插孔件131的排序，可灵活地根据用户需要进行测试的半导体器件的管脚的排列方式，进而调整测试插孔件131的排序使之与半导体器件的管脚的排列方式相对应，可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件。本技术提供的测试装置10可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件，节约成本，提高工作效率。在一个例子中，所述测试装置10还包括至少两个测试组13，所述测试组13可活动地连接于所述测试基板11，以使相邻所述测试组13之间相互靠近或远离；所述测试插孔件131设置于所述测试组13内，并可随着所述测试组13移动。。设置至少两个测试组13，所述测试组13可活动地连接于所述测试基板11，可使得相邻所述测试组13之间相互靠近或远离，也即可根据待测半导体器件多组管脚之间的间距调整测试组13与之相对应，便于实现灵活切换测试，增强测试装置10的测试匹配性。在一个例子中，所述测试插孔件131间隔连接于所述测试组13，并沿着第一预设方向可选择地滑动，所述测试组13间隔连接于所述测试基板11，并沿着第二预设方向可选择地滑动；其中，所述第一预设方向与所述第二预设方向呈夹角设置。将所述测试插孔件131构造为沿着第一预设方向可选择地滑动，将所述测试组13构造为沿着第二预设方向可选择地滑动；将所述第一预设方向与所述第二预设方向呈夹角设置，也即可实现测试组13与测试插孔件131沿着不同的方向滑动。具体地，在本实施例中，所述第一预设方向与所述第二预设方向之间的夹角设置为90°。也就是使得测试插孔件131沿着上下方向滑动，使得所述测试组13沿着左右的方向滑动(测试组13实现左右滑动也即设置于测试组13内的测试插孔件131也可实现左右运动)，即可使得测试插孔件131实现上下左右滑动，进而可根据用户的需求，灵活地重组测试插孔件131的排序，进而可实现测试本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括测试基板以及至少两个用于连接待测器件的测试插孔件；其中，所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板，以使相邻所述测试插孔件之间相互靠近或远离。/n
【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括测试基板以及至少两个用于连接待测器件的测试插孔件；其中，所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板，以使相邻所述测试插孔件之间相互靠近或远离。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括至少两个测试组，所述测试组可活动地连接于所述测试基板，以使相邻所述测试组之间相互靠近或远离；所述测试插孔件设置于所述测试组内，并可随着所述测试组移动。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试插孔件间隔连接于所述测试组，并沿着第一预设方向可选择地滑动；所述测试组间隔连接于所述测试基板，并沿着第二预设方向可选择地滑动；其中，所述第一预设方向与所述第二预设方向成夹角设置。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第一预设方向与所述第二预设方向之间的夹角设置为90°。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述测试插孔件包括插孔，所述插孔的内侧设置有用于夹持待测器件的管脚的夹持弹片。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述夹持弹片包括至少一部分相互抵接的第一弹片以及第二弹片，所述第一弹片与所述第二弹片在待测器件管脚的压力作用下相互远离并积蓄弹性势能从而抵接于待测器件的管脚。
【专利技术属性】
技术研发人员：黄梓弘，史波，陈治中，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，珠海零边界集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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