实现高光谱成像的方法技术

本发明专利技术涉及一种多光谱成像技术，具体地说是一种实现高光谱成像的方法。按照本发明专利技术提供的技术方案，所述实现高光谱成像的方法共有３种相近似的方案，通过物镜将被测目标成像于靶面位置，利用光阀类面阵成像元件对像素点光能量的控制作用，采用像素寻址扫描技术逐点打开（激活）指定的像素或像素群。从而将目标像的光能量逐点的送入光谱分析系统，由此进行逐点的像素光谱分析，并通过计算机图像处理技术将各点的光谱数据合成为包含二维空间图像与一维光谱信息的光谱成像三维信息集合。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种多光谱成像技术，具体地说是一种。技术背景多光谱成像技术作为一种面向资源调査、环境监测和伪装检査等领域的遥 感测量新技术，在世界范围内尤其是发达国家正得到日益广泛的应用。成像光学仪器获得物体的影像信息，光谱仪获得物质的连续光谱信息，这 两类光学技术均己有数百年的发展史，但在上世纪五十年代前，它们基本上是 属于独立发展的。一种可以同时获得影像信息与像元的光谱信息的成像系统，于上世纪八十 年代被科学家提出，这种多光谱成像系统在获得高空间分辨力影像的同时也获 得高分辨率的光谱信息，极大提高了系统对目标的识别与分析能力。随着光学成像技术、光谱分析技术、高分辨率高灵敏度图像传感器技术尤 其是计算机海量数据处理能力的高度发展，多光谱成像技术逐步进入实用化阶 段，并向高光谱分辨率及超高光谱分辨率方向发展，在遥感资源调查和军事侦 察等领域受到高度的重视。通常的高光谱以及超高光谱成像通过光谱分光元件在一个方向上将来自物 镜的一维线阵图像展宽成规定分辨率的光谱信息，并采用面阵图像传感器件予 以接收。见图1。通过推扫的方式扫描被测目标，将一维线阵图像信息扩展为二 维空间图像，与图像的光谱信息一道形成包含二维空间图像与一维光谱信息的 光谱成像三维信息集合。如图1所示物镜将目标视场成像至狭缝处，通过狭 缝限制推扫方向的视场宽度，使之形成一维空间图像。光谱仪将一维空间图像 展宽成带有光谱信息维的二维图像，成像于面阵图像传感器上，形成由一维空 间图像信息与一维光谱信息组成的二维信息集合。随着系统的推扫， 一系列一 维空间图像信息扫描出二维空间图像，从而形成加载着一维光谱信息和二维空 间图像信息的三维信息集合。利用计算机图像重组技术，即可获得任意光谱区 域的空间图象或任意像点的光谱分布信息。推扫式光谱成像技术由于受到推扫行为模式的限制，通常只能适用于机载、 星载等一些特定的场合，或者需要加装复杂的扫描机构才能用于固定机位状态 下的多光谱成像测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于设计一种，通过物镜将被测目标 成像于靶面位置，利用光阀类面阵成像元件对像素点光能量的控制作用，采用 像素寻址扫描技术逐点打开(激活)指定的像素或像素群。从而将目标像的光 能量逐点的送入光谱分析系统，由此进行逐点的像素光谱分析，并通过计算机 图像处理技术将各点的光谱数据合成为包含二维空间图像与一维光谱信息的光谱成像三维信息集合o按照i专利技术提供的技术方案，所述共有3种相近似 的方案，第一种方案是物镜将目标场景成像于数字微镜的靶面上；利用数字 微镜独立控制各像素光线反射方向的功能，将数字微镜作为像点扫描器件；通 过计算机控制对数字微镜的像素或像素集合进行寻址扫描，逐点激活所寻址的 像素或像素群，使得物镜投射到数字微镜靶面上的光能逐点反射到光谱仪；其 余像素接收到的光能被反射出光谱采集光路，落入暗阱被吸收；光谱仪将捕获 的光能展宽成该点的一维光谱信息，利用线阵CCD器件(电荷耦合器)件接收 并记录该点的光谱信息；随着计算机控制的数字微镜对空间图像逐点寻址扫描， 整幅二维空间图像的光谱信息被线阵CCD器件捕获和记录，从而形成一个包含 二维空间图像信息与一维光谱信息的三维信息集合；再利用计算机图像重组技 术，获得任意光谱段的空间图像或任意像点的光谱分布。第二种方案是物镜将目标场景成像于反射式液晶的靶面上，利用反射式 液晶作为像点扫描器件；在反射式液晶的前方安置偏振片；反射式液晶通过控 制经像素反射后光线的偏振态，来实现对象素的通断控制；经过物镜的成像光 束先通过偏振片的起偏作用，形成指定偏振方向的偏振光投射到反射式液晶的 耙面上，反射后的光线随着象素点的控制状态不同而表现出不同的偏振状态； 通过计算机控制对反射式液晶的像素或像素集合进行寻址扫描，被寻址激活的 像素或像素群保持反射光的偏振态不变，使得物镜投射到反射式液晶靶面上的 光能只有被寻址激活的像素点的反射光线可以通过偏振片的检偏进入到光谱 仪；其余像素反射的光能则由于偏振态的改变被偏振片的检偏作用而吸收；光 谱仪将捕获的光能展宽成该点的一维光谱信息，利用线阵CCD器件对该点的光 谱信息接收并记录；随着计算机控制的反射式液晶对二维空间图像逐点寻址扫 描，整幅二维空间图像的光谱信息被线阵CCD器件捕获和记录，从而形成包含二维图像信息与一维光谱信息的三维信息集合；再利用计算机图像重组技术获 得任意光谱段的空间图像或任意像点的光谱分布。第三种方案是物镜将目标场景成像于透射式液晶的靶面上；在透射式液 晶的前方加装作为起偏器的偏振片，以使入射到透射式液晶靶面上的成像光束 转变为指定偏振方向的偏振光，在透射式液晶的后方加装作为检偏器的偏振片， 依据偏振状态的不同对经透射式液晶出射的光束吸收或透过；透射式液晶与起 偏器和检偏器一道，利用控制通过像素后光线的偏振态变化来实现对象素的通 断控制；经过物镜的成像光束先通过起偏器起偏，以规定的偏振态入射到透射 式液晶的靶面上，出射后的光线随着象素点的控制状态不同而表现出不同的偏 振状态；通过计算机控制对透射式液晶的像素或像素集合进行寻址扫描，使得 物镜投射到透射式液晶靶面上的光能只有寻址扫描激活像素点的光线保持恰当 的偏振态，得以通过检偏器的检偏投射到光谱仪；其余像素出射的光能由于偏 振态的不同则被检偏器吸收。光谱仪将捕获的光能展宽成该点的一维光谱信息， 利用线阵CCD器件对该点的光谱信息接收并记录；随着计算机控制透射式液晶 对二维空间图像逐点寻址扫描，整幅二维空间图像的光谱信息被线阵CCD器件捕获和记录，从而形成包含二维空间图像信息与一维光谱信息的三维信息集合；再利用计算机图像重组技术获得任意光谱段的空间图像或任意像点的光谱分布。本专利技术的优点是通过计算机控制光阀类器件像素点的通、断实现寻址扫 描，在利用光谱仪产生像点光谱维信息的同时，以在X、 Y两个空间维的逐点 扫描获得二维空间图像信息，从而形成光谱成像的三维信息集合。避免了航拍 推扫方式的限制，不必加装复杂的扫描系统，从而使系统的结构可靠性和稳定 性有了较大程度的提高。系统的适用场合更加灵活，成本更低。方案二与方案 三由于工作在偏振状态下，需要利用偏振片对入射光线起偏，光能损耗会较大。 但对于存在水面、冰面等具有较强定向反射的场景，采用偏振光进行成像测量 有助于减轻定向反射造成的干扰，获得品质更好的图像。 附图说明图1是传统的光谱成像方法。图2是利用DMD器件进行寻址扫描的光谱成像方法。 图3是利用LCOS器件进行寻址扫描的光谱成像方法。 图4是利用LCD器件进行寻址扫描的光谱成像方法。具体实施方式方案一如图2所示物镜2将目标场景1成像于DMD (数字微镜3)器件 的耙面上。利用DMD器件独立控制各像素光线反射方向的功能，将其作为像 点扫描器件。通过计算机控制对DMD器件的像素或像素集合进行寻址扫描，逐 点激活所寻址的像素或像素群，使得物镜2投射到DMD靶面上的光能逐点的反 射到光谱仪5。其余像素接收到的光能则被反射出光谱采集光路4，落入暗阱被 吸收。光谱仪5将捕获的光能展宽成该点的一维光谱信息，利用线阵CCD器件 16对该点的光谱信息接收并记录。随着计算机控制的DMD器件对二维空间图 像逐点的寻址扫描，整本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实现高光谱成像的方法，其特征是：物镜（２）将目标场景（１）成像于数字微镜（３）的靶面上；利用数字微镜（３）独立控制各像素光线反射方向的功能，将数字微镜（３）作为像点扫描器件；通过计算机控制对数字微镜（３）的像素或像素集合进行寻址扫描，使得物镜（２）投射到数字微镜（３）靶面上的光能逐点反射到光谱仪（５）；其余像素接收到的光能被反射出光谱采集光路（４），落入暗阱被吸收；光谱仪（５）将捕获的光能展宽成该点的一维光谱信息，利用线阵ＣＣＤ器件（１６）对接收并记录该点的光谱信息；随着计算机控制的数字微镜（３）对二维空间图像逐点寻址扫描，整幅二维空间图像的光谱信息被线阵ＣＣＤ器件（１６）捕获和记录，从而形成一个包含二维空间图像信息与一维光谱信息的三维信息集合；再利用计算机图像重组技术，获得任意光谱段的空间图像或任意像点的光谱分布。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐毅刚，
申请(专利权)人：无锡市星迪仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]