实现高光谱成像的方法技术

技术编号:2651061 阅读:244 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种多光谱成像技术,具体地说是一种实现高光谱成像的方法。按照本发明专利技术提供的技术方案,所述实现高光谱成像的方法共有3种相近似的方案,通过物镜将被测目标成像于靶面位置,利用光阀类面阵成像元件对像素点光能量的控制作用,采用像素寻址扫描技术逐点打开(激活)指定的像素或像素群。从而将目标像的光能量逐点的送入光谱分析系统,由此进行逐点的像素光谱分析,并通过计算机图像处理技术将各点的光谱数据合成为包含二维空间图像与一维光谱信息的光谱成像三维信息集合。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种多光谱成像技术,具体地说是一种。技术背景多光谱成像技术作为一种面向资源调査、环境监测和伪装检査等领域的遥 感测量新技术,在世界范围内尤其是发达国家正得到日益广泛的应用。成像光学仪器获得物体的影像信息,光谱仪获得物质的连续光谱信息,这 两类光学技术均己有数百年的发展史,但在上世纪五十年代前,它们基本上是 属于独立发展的。一种可以同时获得影像信息与像元的光谱信息的成像系统,于上世纪八十 年代被科学家提出,这种多光谱成像系统在获得高空间分辨力影像的同时也获 得高分辨率的光谱信息,极大提高了系统对目标的识别与分析能力。随着光学成像技术、光谱分析技术、高分辨率高灵敏度图像传感器技术尤 其是计算机海量数据处理能力的高度发展,多光谱成像技术逐步进入实用化阶 段,并向高光谱分辨率及超高光谱分辨率方向发展,在遥感资源调查和军事侦 察等领域受到高度的重视。通常的高光谱以及超高光谱成像通过光谱分光元件在一个方向上将来自物 镜的一维线阵图像展宽成规定分辨率的光谱信息,并采用面阵图像传感器件予 以接收。见图1。通过推扫的方式扫描被测目标,将一维线阵图像信息扩展为二 维空间图像,与图像的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实现高光谱成像的方法,其特征是:物镜(2)将目标场景(1)成像于数字微镜(3)的靶面上;利用数字微镜(3)独立控制各像素光线反射方向的功能,将数字微镜(3)作为像点扫描器件;通过计算机控制对数字微镜(3)的像素或像素集合进行寻址扫描,使得物镜(2)投射到数字微镜(3)靶面上的光能逐点反射到光谱仪(5);其余像素接收到的光能被反射出光谱采集光路(4),落入暗阱被吸收;光谱仪(5)将捕获的光能展宽成该点的一维光谱信息,利用线阵CCD器件(16)对接收并记录该点的光谱信息;随着计算机控制的数字微镜(3)对二维空间图像逐点寻址扫描,整幅二维空间图像的光谱信息被线阵CCD器件(16)捕获和记录,从而...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐毅刚
申请(专利权)人:无锡市星迪仪器有限公司
类型:发明
国别省市:32[中国|江苏]

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