【技术实现步骤摘要】
反射面以及具有该反射面的紧缩场测量系统
本公开涉及紧缩场测量领域，尤其涉及一种反射面以及具有该反射面的紧缩场测量系统。
技术介绍
紧缩场测量系统可以在近距离内提供一个性能优良的准平面波测量区。紧缩场测量系统采用精密的反射面，将馈源天线发射的球面波在近距离内变换为平面波，从而满足远场测量要求。紧缩场测量系统就是能在较小的电波暗室里模拟远场的平面波电磁环境进行多项测量和研究，如可以获得待测天线方向图主瓣、旁瓣以及后瓣的分布等电磁特性，进而获得天线或终端的有源或者无源性能。若反射面为无限大的抛物面，馈源天线发射的球面电磁波理论上可以完全被转化成平面波并反射到测量区域中去。由于电波暗室内的反射面的尺寸都是有限的，其边缘会对入射球面波产生散射，所产生的散射会对静区产生不良影响。相关技术中，通常采用以下两种方式来降低反射面的边缘散射：第一种方式通过将反射面的边缘设为锯齿形结构，来实现对于边缘散射的重新定向，使散射波避开静区并反射到暗室吸波材料上；第二种方式通过在反射面的边缘设置外凸形的过渡卷边来消除散射。...
【技术保护点】
1.一种反射面，其特征在于，包括：/n工作面，所述工作面用于将馈源天线发射的球面电磁波经反射后转换为平面电磁波；/n吸波结构，所述吸波结构采用电磁波吸收材料，所述吸波结构设置在所述工作面的边缘，用于降低所述工作面的边缘散射。/n
【技术特征摘要】
1.一种反射面，其特征在于，包括：
工作面，所述工作面用于将馈源天线发射的球面电磁波经反射后转换为平面电磁波；
吸波结构，所述吸波结构采用电磁波吸收材料，所述吸波结构设置在所述工作面的边缘，用于降低所述工作面的边缘散射。
2.根据权利要求1所述的反射面，其特征在于，所述电磁波吸收材料的类型包括电阻片材料、介电材料和磁性材料。
3.根据权利要求2所述的反射面，其特征在于，所述电阻片材料的表面电阻取值为10～2000欧姆每平方面积；所述介电材料具有损耗性能，其损耗角正切大于0.05；所述磁性材料具有损耗性能，其损耗正切大于0.05。
4.根据权利要求1所述的反射面，其特征在于，所述吸波结构具有沿反射面的曲率方向设置的第一阻抗渐变部，所述第一阻抗渐变部设于所述工作面的侧面，或至少部分覆盖于所述工作面的边缘。
5.根据权利要求4所述的反射面，其特征在于，所述第一阻抗渐变部为多层阻抗渐变电磁波吸收材料，或为锯齿形电磁波吸收材料。
6.根据权利要求5所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：漆一宏，刘列，吴济宇，张颖，蔡张华，张辉彬，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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