【技术实现步骤摘要】
一种存储设备的容量分析方法及相关装置
本申请涉及存储设备管理
，特别涉及一种存储设备的容量分析方法；还涉及一种存储设备的容量分析装置、设备以及计算机可读存储介质。
技术介绍
对于存储设备的管理，容量指标是众多指标中最为重要的指标之一。监控容量指标通常是采样一段时间内连续性的容量数据。若采集频率高，则采集到的容量数据会存在大量重复的数据，对于管理多个存储设备的系统来说，高频采集会增加系统的负担。若采集频率低，则会导致采集的数据量少，致使展示效果差。例如，通过曲线展示容量使用趋势时，由于采集的数据少会使容量使用趋势显得陡峭。并且，在分析预测容量时，数据量不足通常会导致预测结果不准确，不具备参考性。因此，如何在降低系统压力的同时，保障数据展示效果与容量预测准确性已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种存储设备的容量分析方法，能够在降低系统压力的同时，保障数据展示效果与容量预测准确性。本申请的另一个目的是提供一种存储设备的容量分析装置、设备以及计算机可读存储介质...
【技术保护点】
1.一种存储设备的容量分析方法，其特征在于，包括：/n根据预设采集周期采集预设容量指标的容量数据；/n对采集的所述容量数据进行插值处理；/n分析采集的所述容量数据以及插值处理所插入的数据，得到并展示所述预设容量指标的使用趋势和/或对所述预设容量指标进行预测。/n
【技术特征摘要】
1.一种存储设备的容量分析方法，其特征在于，包括：
根据预设采集周期采集预设容量指标的容量数据；
对采集的所述容量数据进行插值处理；
分析采集的所述容量数据以及插值处理所插入的数据，得到并展示所述预设容量指标的使用趋势和/或对所述预设容量指标进行预测。
2.根据权利要求1所述的容量分析方法，其特征在于，所述对采集的所述容量数据进行插值处理，包括：
分析所述容量数据的变化率，并对变化率不同的所述容量数据采用不同的插值算法进行插值处理。
3.根据权利要求2所述的容量分析方法，其特征在于，所述分析所述容量数据的变化率，并对变化率不同的所述容量数据采用不同的插值算法进行插值处理，包括：
计算相邻时间点所采集的所述容量数据的差值，并计算各所述差值的方差；
比较所述差值与所述方差的大小；
对大于或等于所述方差的所述差值对应的所述容量数据，采用第一插值算法进行插值处理；
对小于所述方差的所述差值对应的所述容量数据，采用第二插值算法进行插值处理。
4.根据权利要求3所述的容量分析方法，其特征在于，所述第一插值算法为三次样条插值算法，所述第二插值算法为平均值插值算法。
5.根据权利要求4所述的容量分析方法，其特征在于，采用所述第一插值算法或所述第二插值算法对所述容量数据进行插值处理前还包括：
遍历所述插值，将大于或等于所述方差的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王祥，郭坤，
申请(专利权)人：北京浪潮数据技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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