一种具有自动曝光控制功能的平板探测器及控制方法技术

技术编号:26502804 阅读:40 留言:0更新日期:2020-11-27 15:29
本发明专利技术公开了一种具有自动曝光控制功能的平板探测器及控制方法,平板探测器包括:第一光转换层;第一光传感器;第一扫描读取芯片;用于自动曝光控制的采集控制组件,控制方法:a.曝光开始之前,设置DAEC激活像素以及目标灰度值V,打开曝光开关,曝光开始;b.DAEC层快速不间断的重复扫描读出M×N个像素的灰度值,每一次扫描,求出DAEC激活像素的平均灰度值,将每次求出平均值进行累加;c.当累加和大于等于设置的目标值V时,高压发生器停止曝光,完成自动曝光控制。能提高采集控制组件的扫描和读出时间,实现DAEC的高速、稳定且精准的响应。

【技术实现步骤摘要】
一种具有自动曝光控制功能的平板探测器及控制方法
本专利技术涉及X光探测仪成像领域,尤其涉及一种具有自动曝光控制功能的平板探测器及控制方法。
技术介绍
自动曝光控制AEC技术广泛应用于X射线成像系统,其基本原理是以达到临床诊断需求水平的图像质量为依据,设定相应的剂量阈值来控制曝光结束。目前主要包含两种实现方式,即传感器(电离室)剂量检测法和二次曝光法。电离室剂量法利用电离室等器件接收X射线或X射线转换的可见光,并转换为电信号。AEC模块对电信号做积分处理,随着曝光时间的增加,积累的电压值增大,当达到某一个阈值电压时,AEC模块控制高压发生器停止曝光。二次曝光法主要采用两次曝光,在第一次曝光时采用低剂量,在计算机上对低剂量曝光图像进行处理,按照一定的比值关系,调整管电流或曝光时间,得到二次曝光需要的剂量,然后实施二次曝光获取最终图像。以上两种实现方式都存在一定的缺陷:对于电离室剂量检测法,首先电离室制作复杂、成本高。其次,电离室覆盖于探测器前表面,造成X射线衰减,影响电离室覆盖区域的探测器单元对X射线的捕获;对于二次曝光法,缺点在于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具有自动曝光控制功能的平板探测器,其包括:/n第一光转换层,其用于采集并将X光转换为可见光;/n第一光传感器,其用于吸收可见光并将其转换为电信号;/n第一扫描读取芯片,其与所述光传感器相电连接,用于将所述电信号转换为数字信号;/n其特征在于:所述平板探测器还包括用于自动曝光控制的采集控制组件,其用于同步采集X光、将X光转换为可见光、将可见光转换为电信号并将电信号读取转换为数字信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种具有自动曝光控制功能的平板探测器,其包括:
第一光转换层,其用于采集并将X光转换为可见光;
第一光传感器,其用于吸收可见光并将其转换为电信号;
第一扫描读取芯片,其与所述光传感器相电连接,用于将所述电信号转换为数字信号;
其特征在于:所述平板探测器还包括用于自动曝光控制的采集控制组件,其用于同步采集X光、将X光转换为可见光、将可见光转换为电信号并将电信号读取转换为数字信号。


2.根据权利要求1所述的具有自动曝光控制功能的平板探测器,其特征在于:所述采集控制组件为探测器DAEC层,其包括第二光转换层、第二光传感器、第二扫描读取芯片。


3.根据权利要求1所述的具有自动曝光控制功能的平板探测器,其特征在于:所述第二光传感器为低空间分辨率的光传感器,所述分辨率范围为0.1-15mm。


4.根据权利要求3所述的具有自动曝光控制功能的平板探测器,其特征在于:所述分辨率的范围为1-10mm。


5.一种基于权利要求1-4中任一所述平板探测器的控制方法,其特征在于,其包括以下步骤;
a.曝光开始之前,设置探测器DAEC层激活像素以及目标灰度值V,;
b.X射线源开始曝光后,探测器DAEC层快速不...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈健徐永刘建强
申请(专利权)人:江苏康众数字医疗科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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