一种DC/DC模块老化测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及一种ＤＣ／ＤＣ模块老化测试电路，被测试的ＤＣ／ＤＣ模块的输出端通过回馈电路连接到输入端。实施本实用新型专利技术的ＤＣ／ＤＣ模块老化测试电路电能利用率高，设备成本低，且回馈效率高。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及老化测试电路，更具体地说，涉及一种DC/DC模块老化 测试电路。
技术介绍
目前电源产品的老化测试一般用电阻或回馈模块作为电源产品的负载来 老化，但电阻做负载的缺点是老化成本高，电能完全损耗掉，回馈模块做负载 的缺点是设备成本高，且回馈效率低。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种 DC/DC模块老化测试电路。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是构造一种DC/DC模块 老化测试电路，被测试的DC/DC模块的输出端通过回馈电路连接到输入端。在本技术所述的DC/DC模块老化测试电路中，所述回馈电路是一可 调电阻，所述可调电阻连接在所述DC/DC模块的正输出端和正输入端之间或 连接在所述DC/DC模块的负输出端和负输入端之间。所述可调电阻包括:MOS 管和控制电路；所述MOS管的源极与所述DC/DC模块的正输出端相连、漏 极连接到所述DC/DC模块的正输入端、栅极连接到所述控制电路；或所述 MOS管的源极与DC/DC模块的负输出端相连、漏极连接到DC/DC模块的负 输入端、栅极连接到所述控制电路。在本技术所述的DC/DC模块老化测试电路中，所述回馈电路是可调 电阻，所述可调电阻的第一输入端与所述DC/DC模块的正输出端连接、第一 输出端与所述DC/DC模块的正输入端连接，第二输入端与所述DC/DC模块 的负输出端连接、第二输出端与所述DC/DC模块的负输入端连接。所述可调 电阻包括:第一、二MOS管和控制电路;所述第一MOS管的源极与所述DC/DC 模块的正输出端相连、漏极连接到所述DC/DC模块的正输入端、栅极连接到 所述控制电路；所述第二 MOS管的源极与所述DC/DC模块的负输出端相连、 漏极连接到所述DC/DC模块的负输入端、栅极连接到所述控制电路。在本技术所述的DC/DC模块老化测试电路中，所述回馈电路是固定 电阻，所述固定电阻连接在所述DC/DC模块的正输出端和正输入端之间，在 电源的正输入端和所述DC/DC模块的正输入端之间连接有可调电阻；或所述 固定电阻连接在所述DC/DC模块的负输出端和负输入端之间，在电源的负输 入端和所述DC/DC模块的负输入端之间连接有所述可调电阻。所述可调电阻 包括MOS管和控制电路，所述MOS管的源极与电源正输入端连接、漏极与 所述DC/DC模块的正输入端连接、栅极连接到所述控制电路；或所述MOS 管的源极与电源负输入端连接、漏极与所述DC/DC模块的负输入端连接、栅 极连接到所述控制电路。在本技术所述的DC/DC模块老化测试电路中，所述回馈电路包括第 一、二固定电阻；所述第一固定电阻连接在所述DC/DC模块的正输出端和所 述DC/DC模块的正输入端之间，所述第二固定电阻连接在所述DC/DC模块 的负输出端和所述DC/DC模块的负输入端之间；在电源的输入端和所述 DC/DC模块的输入端之间连接有可调电阻。所述可调电阻包括第一、二MOS 管和控制电路；所述第一 MOS管的源极与电源正输入端连接、漏极与所述 DC/DC模块的正输入端连接、栅极连接至+所述控伟l他路；所述第二MOS管的 源极与电源负输入端连接、漏极与所述DC/DC模块的负输入端连接、栅极连 接到所述控制电路。在本技术所述的DC/DC模块老化测试电路中，所述DC/DC模块包 括一个DC/DC变换器或串联连接的至少两个DC/DC变换器。实施本技术的DC/DC模块老化测试电路，具有以下有益效果电能 利用率高，设备成本低，且回馈效率高。附图说明下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中图1是本技术DC/DC模块老化测试电路第一实施例的逻辑框图2是本技术DC/DC模块老化测试电路第二实施例的逻辑框图3是本技术DC/DC模块老化测试电路第三实施例的逻辑框图4是本技术DC/DC模块老化测试电路第四实施例的逻辑框图5是本技术DC/DC模块老化测试电路第五实施例的逻辑框图6是本技术DC/DC模块老化测试电路第六实施例的逻辑框图-,具体实施方式如图1、 2、 3、 4、 5、 6所示，在本技术的DC/DC模块老化测试电 路中，被测试的DC/DC模块1的输出端通过回馈电路2连接到输入端。如图1所示的实施方式中，所述回馈电路2是一可调电阻，所述可调电阻 连接在所述DC/DC模块1的正输出端和正输入端之间。所述可调电阻包括 MOS管和控制电路；所述MOS管的源极与所述DC/DC模块1的正输出端相 连、漏极连接到所述DC/DC模块1的正输入端、栅极连接到所述控制电路。如图2所示的实施方式中，所述回馈电路2是一可调电阻，所述可调电阻 连接在所述DC/DC模块1的负输出端和负输入端之间。所述可调电阻包括 MOS管和控制电路；所述MOS管的源极与DC/DC模块1的负输出端相连、 漏极连接到DC/DC模块1的负输入端、栅极连接到所述控制电路。如图3所示的实施方式中，进一步地，所述回馈电路2是可调电阻，所述 可调电阻的第一输入端与所述DC/DC模块1的正输出端连接、第一输出端与 所述DC/DC模块1的正输入端连接，第二输入端与所述DC/DC模块1的负 输出端连接、第二输出端与所述DC/DC模块1的负输入端连接。所述可调电 阻包括第一、二 MOS管和控制电路；所述第一 MOS管的源极与所述DC/DC 模块1的正输出端相连、漏极连接到所述DC/DC模块1的正输入端、栅极连 接到所述控制电路；所述第二 MOS管的源极与所述DC/DC模块1的负输出 端相连、漏极连接到所述DC/DC模块1的负输入端、栅极连接到所述控制电 路。如图4所示的实施方式中，所述回馈电路2是固定电阻，所述固定电阻连接在所述DC/DC模块1的正输出端和正输入端之间，在电源的正输入端和所 述DC/DC模块1的正输入端之间连接有可调电阻；所述可调电阻包括MOS 管和控制电路，所述MOS管的源极与电源正输入端连接、漏极与所述DC/DC 模块1的正输入端连接、栅极连接到所述控制电路。如图5所示的实施方式中，所述固定电阻连接在所述DC/DC模块1的负 输出端和负输入端之间，在电源的负输入端和所述DC/DC模块1的负输入端 之间连接有所述可调电阻。所述可调电阻包括MOS管和控制电路，所述MOS 管的源极与电源负输入端连接、漏极与所述DC/DC模块1的负输入端连接、 栅极连接到所述控制电路。如图6所示的实施方式中，进一步地，所述回馈电路2包括第一、二固定 电阻；所述第一固定电阻连接在所述DC/DC模块1的正输出端和所述DC/DC 模块1的正输入端之间，所述第二固定电阻连接在所述DC/DC模块1的负输 出端和所述DC/DC模块1的负输入端之间；在电源的输入端和所述DC/DC 模块1的输入端之间连接有可调电阻。所述可调电阻包括第一、二MOS管和 控制电路；所述第一MOS管的源极与电源正输入端连接、漏极与所述DC/DC 模块l的正输入端连接、栅极连接到所述控制电路；所述第二MOS管的源极 与电源负输入端连接、漏极与所述DC/DC模块1的负输入端连接、栅极连接 到所述控制电路。在本技术所述的DC/DC模块老化测试电路中，所述DC/DC模块1 包括一个DC/本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＤＣ／ＤＣ模块老化测试电路，其特征在于，被测试的ＤＣ／ＤＣ模块（１）的输出端通过回馈电路（２）连接到输入端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：田志文，
申请(专利权)人：艾默生网络能源有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]