【技术实现步骤摘要】
本技术涉及LRC测试仪及其测量技术。技术背景LRC测试仪是用于测量电容、电阻、电感元件的相应物理参数的仪器。与常用的万用表 相比较，LRC测试仪不但测量精度更高，而且可以测量元件的多种参数，比如阻抗、品质因 素等等。然而，由于现有的LRC测试仪仅仅只有一对测试头，因此， 一次只能与一个元件的 两极连接，也即一次只能测量一个元件的参数。而在工业生产过程中，很多时候都需要一次 对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量，以监控这些元件的参数变化， 从而判断系统工作是否正常。在这种情况下，现有的一次只能测量一个元件参数的这种LRC 测试仪就无法满足需要了。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是，提供一种能够一次对系统中的多个电容、电阻或者电 感元件的物理参数进行测量的LRC测试仪的通道扩展装置。解决所述技术问题的技术方案是这样一种LRC测试仪的通道扩展装置。它由一个CPLD 芯片为中心的逻辑控制单元、与该CPLD芯片的I/0 口分别连接的时钟输入单元、模拟开关 单元、通道选择输入单元和通道显示单元构成。其中，时钟输入单元的电路包括其输出端与 CPLD芯片的I...
【技术保护点】
一种ＬＲＣ测试仪的通道扩展装置，其特征在于，该通道扩展装置由一个ＣＰＬＤ芯片为中心的逻辑控制单元、与该ＣＰＬＤ芯片的Ｉ／Ｏ口分别连接的时钟输入单元（Ⅰ）、模拟开关单元（Ⅱ）、通道选择输入单元（Ⅲ）和通道显示单元（Ⅳ）构成；所述时钟输入单元（Ⅰ）的电路包括其输出端与ＣＰＬＤ芯片的Ｉ／Ｏ口相连的多谐振荡器，以及其一端通过各一个上拉电阻（Ｒ１、Ｒ２）与ＣＰＬＤ芯片的Ｉ／Ｏ口相连、另一端接地的两路拨键开关（ＳＷ－２）；所述模拟开关单元（Ⅱ）的电路包括各自的ＣＯＭ端分别与ＬＲＣ测试仪的两个测试头连接的两片相同的模拟开关芯片，这两片模拟开关芯片的各对相同编号的通道管脚连接在各个被测元件...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：曾浩，刘玲，李正周，陈世勇，邱晶，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：实用新型
国别省市：85[中国|重庆]
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