一种反射阵列天线及其设计方法技术

技术编号:26481430 阅读:72 留言:0更新日期:2020-11-25 19:27
本发明专利技术属于反射阵列天线技术领域,具体地说,涉及一种反射阵列天线,其特征在于,所述反射阵列天线包括:馈源(3)和反射阵列;所述反射阵列包括多个呈等间隔周期排列的阵元;每个阵元的高度可调节,使各个阵元的高度呈不规则地增加或减小,且各个阵元的上端面处于不同平面上。

【技术实现步骤摘要】
一种反射阵列天线及其设计方法
本专利技术属于反射阵天线
,具体地说,涉及一种反射阵列天线及其设计方法。
技术介绍
反射阵列天线一般包括:馈源和反射阵列。其中,馈源可采用任意天线形式,馈源辐射的电磁波照射在反射阵列上,经过反射阵列反射后,在反射阵列的口面上,形成不同的幅度和相位分布。反射阵列天线可以类比抛物面天线,即馈源的摆放位置应位于反射阵的“焦点”或“焦线”上。反射阵与抛物面天线均包括馈源和阵面。可以理解为反射阵的阵面替代了抛物面,反射阵的馈源与抛物面天线的馈源一样位于抛物面的焦点或焦线上。虽然,抛物面天线可以形成高增益的波束,但是,抛物面天线的体积太大,不利于小型化。反射阵列天线相比于抛物面天线,可以降低天线的剖面,还可以利用折叠、可展开的方式,便于天线的小型化设计。现有的反射阵列天线中的反射阵列主要通过调节阵元自身的尺寸,或调节介质材料层的介电常数来实现波束的赋形,波束扫描、波束重构以及多波束;传统的反射阵天线的口面相位分布不易改变,口面相位改变代价很大。
技术实现思路
>为解决现有技术存在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种反射阵列天线,所述反射阵列天线包括:馈源(3)和反射阵列;其特征在于,所述反射阵列包括多个呈等间隔周期排列的阵元;每个阵元的高度可调节,使各个阵元的高度呈不规则地增加或减小,且各个阵元的上端面处于不同平面上。/n

【技术特征摘要】
1.一种反射阵列天线,所述反射阵列天线包括:馈源(3)和反射阵列;其特征在于,所述反射阵列包括多个呈等间隔周期排列的阵元;每个阵元的高度可调节,使各个阵元的高度呈不规则地增加或减小,且各个阵元的上端面处于不同平面上。


2.根据权利要求1所述的反射阵列天线,其特征在于,所述阵元为柱状结构或立方体结构,其表面为矩形、方形或圆形的辐射结构,所述阵元包括:薄片结构(1)和阵元位置控制层(2);薄片结构(1)位于阵元位置控制层(2)之上,且贴合在阵元位置控制层(2)的顶部表面;
其中,阵元位置控制层(2)为柱状结构或立方体结构的高度可控材料层,采用电压控制、磁控制或温度控制方式,控制每个阵元中的薄片结构(1)在三维坐标系XYZ中的Z方向的坐标,从而改变每个阵元的高度。


3.根据权利要求2所述的反射阵列天线,其特征在于,所述薄片结构(1)上刻蚀不同形状的薄片;薄片结构(1)为薄金属片或微带贴片。


4.根据权利要求1所述的反射阵列天线,其特征在于,所述馈源(3)和反射阵列的组成形式为正馈或偏馈。


5.根据权利要求1所述的反射阵列天线,其特征在于,所述阵元位置控制层(2)内设置微电机,每个阵元上的薄片结构布设在该微电机上,利用可编程芯片控制每个微电机,从而控制每个阵元的上升高度和下降高度,每个阵元的高度调节范围为-λ~λ;其中,λ为电磁波的波长。


6.一种权利要求1-5任一项所述的反射阵天线的设计方法,其特征在于,所述设计方法包括:
步骤1)根据焦距、天线口面尺寸和阵列单元数量N,设置反射阵列的平面排布方式为等间隔周期排列,并根据设置的平面排布方试,建立三维坐标系XYZ,获得第i个阵元的中心坐标(xi,yi,zi);其中,i=1,2,...,N;xi为每个阵元在x轴方向上的位移;yi为每个阵元在y轴方向上的位移;zi为每个阵元的高度;
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【专利技术属性】
技术研发人员:陈雪刘鹏陈博王宏建易敏刘广
申请(专利权)人:中国科学院国家空间科学中心
类型:发明
国别省市:北京;11

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