地震剖面成像方法、装置和电子设备制造方法及图纸

技术编号:26477631 阅读:48 留言:0更新日期:2020-11-25 19:21
本申请提供了一种地震剖面成像方法、装置和电子设备,其中,该方法包括:对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集;根据倾角道集得到成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合;根据初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集;根据常Q扫描道集生成等效Q值模型;基于等效Q值模型校正成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合,以得到成像空间的各个成像点的第二偏移孔径集合;基于预设偏移速度模型、等效Q值模型、第二偏移孔径集合,对初始共偏移距叠前数据集进行高精度衰减成像处理,得到偏移剖面和叠前道集。通过本实施例中的方法能够解决关于地震资料分辨率低的问题。

【技术实现步骤摘要】
地震剖面成像方法、装置和电子设备
本申请涉及地震数据分析
,具体而言,涉及一种地震剖面成像方法、装置和电子设备。
技术介绍
地震勘探中,提高地震资料对地下构造的分辨能力是地球物理学家研究目标。但是由于地质内部的不确定性导致地震资料对地下构造的分辨能力降低。其中,造成地震资料分辨率降低的主要因素是大地介质对地震波的吸收。
技术实现思路
有鉴于此,本申请实施例的目的在于提供一种地震剖面成像方法、装置和电子设备。能够解决关于地震资料分辨能力低的问题。第一方面,本申请实施例提供了一种地震剖面成像方法,包括:对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集;根据所述倾角道集得到成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合;根据所述初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集;根据所述常Q扫描道集生成等效Q值模型;基于所述等效Q值模型校正所述成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合,以得到所述成像空间的各个成像点的第二偏移孔径集合;基于预设偏移速度模型、所述等效Q值模型、所述第二偏移孔径集本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种地震剖面成像方法,其特征在于,包括:/n对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集;/n根据所述倾角道集得到成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合;/n根据所述初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集;/n根据所述常Q扫描道集生成等效Q值模型;/n基于所述等效Q值模型校正所述成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合,以得到所述成像空间的各个成像点的第二偏移孔径集合;/n基于预设偏移速度模型、所述等效Q值模型、所述第二偏移孔径集合,对所述初始共偏移距叠前数据集进行高精度衰减成像处理,得到偏移剖面和叠前道集。/n

【技术特征摘要】
1.一种地震剖面成像方法,其特征在于,包括:
对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集;
根据所述倾角道集得到成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合;
根据所述初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集;
根据所述常Q扫描道集生成等效Q值模型;
基于所述等效Q值模型校正所述成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合,以得到所述成像空间的各个成像点的第二偏移孔径集合;
基于预设偏移速度模型、所述等效Q值模型、所述第二偏移孔径集合,对所述初始共偏移距叠前数据集进行高精度衰减成像处理,得到偏移剖面和叠前道集。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集,包括:
根据所述初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得的主测线方向的倾角道集;
根据所述初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得的联络测线方向的倾角道集。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述主测线方向的倾角道集表示为:



所述联络测线方向的倾角道集表示为:



其中,表示主测线方向的倾角道集,表示联络测线方向的倾角道集,T0=2T表示成像点(x,y,T)处的垂直双程旅行时,f′m表示地震道的半导数,N表示输入的所述初始共偏移距叠前数据集的总道数,(xs,ys)表示第m地震道对应的炮点坐标,(xg,yg)表示第m地震道对应的检波点坐标,τs表示炮点到成像点的走时,τg表示检波点到成像点的走时,与所述走时相关的倾角与表示为:






其中,Vrms表示成像点(x,y,T)处的均方根速度。


4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集,包括:
根据预设的等效Q值序列构建常Q模型;
根据所述常Q模型,对所述初始共偏移距叠前数据集进行反Q滤波处理,得到第二共偏移距叠前数据集;
基于介质吸收后的地震波传播群速度,对所述第二共偏移距叠前数据集应用常规叠前时间偏移流程进行处理,以得到常Q扫描道集。


5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述常Q扫描道集生成等效Q值模型,包括:
基于所述常Q扫描道集,根据分析时窗内不同等效Q值对应的偏移剖面的分辨率,确定分析时窗处的等效Q值取值,以建立等效Q值模型。


6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二偏移孔径集合表示为:



所述第一偏移孔径集合表示为:
其中,所述第二偏移孔径集合ApertureQ与所述第一偏移孔径集合Aperture的对应关系表示为:















其中,(x,y,T)表示成像点的坐标,表示主测线方向偏移孔径的左边界,表示主测线方向偏移孔径的右边界,表示联络测线方向偏移孔径的左边界,表示联络测线方向偏移孔径的右边界,f表示初始共偏移距叠前数据集的主频,fQ...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘礼农张江杰李正伟许宏桥高红伟张剑锋
申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1