【技术实现步骤摘要】
杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法
本专利技术涉及一种对准装置及方法，具体涉及一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。
技术介绍
平行光管是光学装校与检测中最基本的光学仪器，平行光管与光源配合可提供无穷远准直目标，用于模拟不同特征的空间目标，比如在杂散光测试(即点源透过率杂散光测试，简称杂光测试)中，由于点源透过率曲线为待测光机系统杂散光的角度分布函数，故需要将平行光管与光源光轴对准，来配合模拟无穷远杂光(杂散光)辐射，而后标定(引出)平行光管的光轴，使得平行光管的光轴与待测光机系统的光轴对准。将平行光管光轴与待测光机系统光轴进行对准时，通常要求待测光机系统提供基准平面镜(即基准平面镜)将自身光轴引出，对准中，常用的读准方法有自准直瞄准法，立方镜间接引出光轴法和待测系统聚焦判断法三种。自准直瞄准法的精度可达秒级(1°/3600)，而杂光测试的对准精度只要达到0.1°即可，并且这种方法需要在平行光管光路中增加分束镜、测量目镜、分化板和复位结构等附件，这会增加光源系统的结构复杂性和...
【技术保护点】
1.一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特征在于：包括结构框(1)、水平线激光器(2)、竖直线激光器(3)、接收屏(4)、以及沿光路依次设置的干涉仪(5)、平面折轴镜(6)和抛物面镜(7)；/n所述平面折轴镜(6)和抛物面镜(7)组成平行光管；/n所述平行光管设置于结构框(1)内；/n所述干涉仪(5)设置于平行光管的焦点处；/n所述结构框(1)的出射端面上开设有出射口(11)，出射口(11)处标记有光轴水平位置标记线(12)和光轴竖直位置标记线(13)；/n所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)均安装于结构框(1)出射端面上；/n所述水平线激光器(2)和...
【技术特征摘要】
1.一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特征在于：包括结构框(1)、水平线激光器(2)、竖直线激光器(3)、接收屏(4)、以及沿光路依次设置的干涉仪(5)、平面折轴镜(6)和抛物面镜(7)；
所述平面折轴镜(6)和抛物面镜(7)组成平行光管；
所述平行光管设置于结构框(1)内；
所述干涉仪(5)设置于平行光管的焦点处；
所述结构框(1)的出射端面上开设有出射口(11)，出射口(11)处标记有光轴水平位置标记线(12)和光轴竖直位置标记线(13)；
所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)均安装于结构框(1)出射端面上；
所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)出射激光束在正前方分别呈现为一字型的水平激光线和竖直激光线，水平激光线和竖直激光线分别经待测光机系统(8)出射端面上自带的X轴基准平面镜(81)和Y轴基准平面镜(82)反射，得到水平反射激光线和竖直反射激光线；
所述接收屏(4)为可透过性接收屏(4)，设置于水平激光线和竖直激光线与水平反射激光线和竖直反射激光线的公共区域中。
2.根据权利要求1所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特征在于：所述接收屏(4)位于待测光机系统(8)与平行光管之间靠近平行光管一侧区域。
3.根据权利要求2所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特征在于：所述接收屏(4)设置于水平激光线和竖直激光线与水平反射激光线和竖直反射激光线的交点处。
4.根据权利要求3所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特征在于：所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)的激光波长范围均选取可见光范围。
5.根据权利要求4所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特征在于：所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)出射激光的线宽不超过2mm。
6.一种利用权利要求1至5任一所述杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，进行杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准的方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)平行光管光轴标定
1.1)平行光管调试
打开干涉仪(5)，干涉仪(5)出射的光束依次经过平面折轴镜(6)反射、抛物面镜(7)反射、...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈钦芳，薛要克，马占鹏，沈阳，林上民，刘美莹，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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