一种用于采样器件的间接测温方法及结构技术

技术编号:26476301 阅读:47 留言:0更新日期:2020-11-25 19:18
本发明专利技术公开了一种用于采样器件的间接测温方法及结构,方法包括以下步骤:电流确定的情况下,采集至少两次采样器件的电阻区以及导电区的电压,将得到的至少四个电压值进行数学计算处理,并根据电流以及电阻率温度系数计算出温差;如预先对某一温度下电压、电阻及温度的数值作配对,则结合配对结果将实际温差换算成实际温度。本发明专利技术的实质性效果包括:基于采样器件自身材料的温度特性,通过采集电参数的形式,以计算的方式得到温度,而不是直接采用传感器测量,可以防止因为热传导导致的温度差异,从而提高测温的精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于采样器件的间接测温方法及结构
本专利技术涉及测温领域,特别涉及一种用于采样器件的间接测温方法及结构。
技术介绍
电能表等电子设备,在某些场合使用的时候,如发生接线异常等情况,温升会比较高,而传统的温度检测方式都是打孔后设置温度传感器探头。如授权公告号CN107271068B的专利技术公开了一种智能电能表接插件的温度检测装置,包括温度测量组件,将测温传感头埋于金属表尾孔中,温度测量时可以与电能表接插件充分接触。但这种方式局限性较大,一方面探头与被测材料之间热传递有差别,另一方面需要对部件进行打孔等改动,制作方式繁琐。因此现在急需一种测量方式简便且测温更准确的方案。其中电子设备中各种金属或合金使用较多,而某块固体材料的电阻的表示方式可以是某温度下的电阻值加上温差乘以电阻率温度系数,而不同材料之间的电阻率温度系数差异巨大,当温度变化时,有些材料电阻变化会比较明显,因此可以利用这一特性进行测温。
技术实现思路
针对现有技术测温方式繁琐且误差较大的问题,本专利技术提供了一种用于采样器件的间接测温方法及结构,通过多次采集本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于采样器件的间接测温方法,其特征在于,包括以下步骤:电流确定的情况下,采集至少两次采样器件的电阻区以及导电区的电压,将得到的至少四个电压值进行数学计算处理,并根据电流以及电阻率温度系数计算出温差;如预先对某一温度下电压、电阻及温度的数值作配对,则结合配对结果将实际温差换算成实际温度。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于采样器件的间接测温方法,其特征在于,包括以下步骤:电流确定的情况下,采集至少两次采样器件的电阻区以及导电区的电压,将得到的至少四个电压值进行数学计算处理,并根据电流以及电阻率温度系数计算出温差;如预先对某一温度下电压、电阻及温度的数值作配对,则结合配对结果将实际温差换算成实际温度。


2.根据权利要求1所述的一种用于采样器件的间接测温方法,其特征在于,所述电阻区为锰铜,导电区为紫铜。


3.根据权利要求1所述的一种用于采样器件的间接测温方法,其特征在于,所述电阻区表面加设导热罩,所述导热罩与电阻区的接触面设置在电阻区中间以及四周,导热罩其余部分架空。


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【专利技术属性】
技术研发人员:赵洛阳孟娟陈高
申请(专利权)人:浙江瑞银电子有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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