一种双线阵光谱探测装置及泵浦探测系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例公开了一种双线阵光谱探测装置及泵浦探测系统。其中，该双线阵光谱探测装置，包括：第一分束器，用于将原始探测光分成两束光，分别作为目标探测光和参考光；样品，目标探测光与泵浦光照射到样品的同一位置，参考光与泵浦光照射到样品的位置不同；色散模块；双线阵光学探头，经色散模块色散处理后的目标探测光和参考光分别照射至双线阵光学探头的位置不同的两个感光区；处理模块，与双线阵光学探头连接，处理模块用于根据双线阵光学探头探测到的参考光光谱和目标探测光光谱，获取样品的扣除探测光波动后的泵浦探测光谱。本实用新型专利技术实施例提供的技术方案可以扣除泵浦探测光谱中目标探测光自身的波动，从而提高信噪比。

【技术实现步骤摘要】
一种双线阵光谱探测装置及泵浦探测系统
本技术涉及光学测量
，尤其涉及一种双线阵光谱探测装置及泵浦探测系统。
技术介绍
超快激光光谱学，是应用光谱学的理论和方法探究超短极限时间尺度内物质运动和变化过程的一门学科。瞬态吸收光谱、二维电子光谱等是超快光谱学的典型应用形式。它们的应用非常广泛，被越来越多的科研单位与企业掌握。在超快激光光谱的测量中，一般采用泵浦探测的方法，一般需要一束或多束泵浦光激发样品，用探测光以外差检测的方法检测信号，使用与激光器同步的光谱仪检测样品被泵浦光激发和未被激发时，透过样品或样品反射的探测光的变化，以获得样品的激发态的动力学信息。在实际测量时，超快激光光谱信号中会伴随噪声，其最主要来源为探测光的波动。由于脉冲光源出光的光强和方向的波动，光学参量放大时的波动，空气的扰动，光学元件的振动等，探测光中会产生一定的波动，为测量引入噪声。为了减小噪声，超快激光光谱一般采用相邻脉冲检测的方式。泵浦光的重复频率为探测光重复频率的一半，使用与探测光频率同步的光谱仪依次探测每一个探测光脉冲。由于相邻的两个探测光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双线阵光谱探测装置，其特征在于，包括：/n第一分束器，用于将原始探测光分成两束光，分别作为目标探测光和参考光；/n样品，所述目标探测光与泵浦光照射到所述样品的同一位置，所述参考光与所述泵浦光照射到所述样品的位置不同；/n色散模块，用于同时对照射至所述样品后透过或反射的目标探测光和参考光分别进行色散；/n双线阵光学探头，包括位置不同的第一感光区和第二感光区，经所述色散模块色散处理后的目标探测光照射至所述第一感光区，经所述色散模块色散处理后的参考光照射至第二感光区；/n处理模块，与所述双线阵光学探头连接，所述处理模块用于根据所述双线阵光学探头探测到的色散处理后的参考光光谱和目标探测光光谱，...

【技术特征摘要】
1.一种双线阵光谱探测装置，其特征在于，包括：
第一分束器，用于将原始探测光分成两束光，分别作为目标探测光和参考光；
样品，所述目标探测光与泵浦光照射到所述样品的同一位置，所述参考光与所述泵浦光照射到所述样品的位置不同；
色散模块，用于同时对照射至所述样品后透过或反射的目标探测光和参考光分别进行色散；
双线阵光学探头，包括位置不同的第一感光区和第二感光区，经所述色散模块色散处理后的目标探测光照射至所述第一感光区，经所述色散模块色散处理后的参考光照射至第二感光区；
处理模块，与所述双线阵光学探头连接，所述处理模块用于根据所述双线阵光学探头探测到的色散处理后的参考光光谱和目标探测光光谱，获取所述样品的扣除探测光波动后的泵浦探测光谱。


2.根据权利要求1所述的双线阵光谱探测装置，其特征在于，所述第一分束器的分束比为1:1。


3.根据权利要求1所述的双线阵光谱探测装置，其特征在于，所述色散模块包括沿光路设置的入射狭缝、平面镜、第一凹面镜、光栅、第二凹面镜和出光孔。


4.根据权利要求1所述的双线阵光谱探测装置，其特征在于，所述双线阵光学探头包括下述至少一种：电荷耦合器件图像传感器和互补金属氧化物半导体图像传感器。


5.一种泵浦探测系统，其特征在于，包括：泵浦光产生模块和如权利要求1-4任一所述的双线阵...

【专利技术属性】
技术研发人员：张春峰，李谦，王睿，肖敏，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32