一种集成电路测试分选机制造技术

本实用新型专利技术公开一种集成电路测试分选机，其包括机体，所述机体上表面设有传送带，传送带两端设有传动轴，传动轴连接有电机，所述传送带末端设有良品放置槽，所述机体上设有控制台，所述控制台与机体一侧边固定，所述机体下端设有多个支撑脚；分选器，所述分选器包括壳体、次品检测器和推动装置，所述壳体横跨机体且与机体固定连接，所述次品检测器设于壳体内上端，所述推动装置设于壳体与机体的连接处，所述次品检测器、推动装置与控制台之间电性连接。本实用新型专利技术通过次品检测器、推动装置与控制台之间的配合就能实现自动分选，结构简单，故障后便于维修，生产成本和维修成本较低，且提高了工作效率，还能保证集成电路测试分选准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试分选机
本技术属于集成电路测试分选设备
，涉及一种集成电路测试分选机。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。分选机是一种对产品进行分级筛选的设备，传统的分选机在使用时如遇到次品，往往需要停止机器并采用人工取出次品，其工序较为麻烦，费时费力，工作效率低。因此，集成电路测试分选机逐渐发展使用起来，但是现有技术中的集成电路测试分选机仍然存在一些缺陷：1、结构复杂，若出现故障，需要检修的部件较多，制作成本和维修成本均较高；2、传送带和传动轴未能及时保养，运转时间长了易发生磨损，使用寿命缩短，继续使用会影响集成电路的正常运输，从而影响集成电路测试分选的准确性。因此，需要一种集成电路测试分选机技术方案来解决上述技术问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试分选机，以至少解决现有技术中的集成电路测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试分选机，其特征在于，包括：/n机体，所述机体上表面设有传送带，所述传送带两端设有传动轴，所述传动轴连接有电机，所述传送带末端设有良品放置槽，所述机体上设有控制台，所述控制台与所述机体一侧边固定，所述机体下端设有多个支撑脚；/n分选器，所述分选器包括壳体、次品检测器和推动装置，所述壳体横跨所述机体且与所述机体固定连接，所述次品检测器设于所述壳体内上端，所述推动装置设于所述壳体与所述机体的连接处，所述次品检测器、所述推动装置与所述控制台之间电性连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试分选机，其特征在于，包括：
机体，所述机体上表面设有传送带，所述传送带两端设有传动轴，所述传动轴连接有电机，所述传送带末端设有良品放置槽，所述机体上设有控制台，所述控制台与所述机体一侧边固定，所述机体下端设有多个支撑脚；
分选器，所述分选器包括壳体、次品检测器和推动装置，所述壳体横跨所述机体且与所述机体固定连接，所述次品检测器设于所述壳体内上端，所述推动装置设于所述壳体与所述机体的连接处，所述次品检测器、所述推动装置与所述控制台之间电性连接。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机，其特征在于，还包括：
次品放置槽，所述次品放置槽设于所述机体一侧，且与所述推动装置对应设置。


3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机，其特征在于，所述推动装置的推动方向与所述传送带的传送...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯武生，王桂桂，黄崇城，张进国，
申请(专利权)人：深圳市芯汇群微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44