FPGA功能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，上位机中存储的测试程序经接口芯片配置至待测FPGA，FPGA的测试结果经接口芯片回传至上位机。

【技术实现步骤摘要】
FPGA功能测试装置
本技术属于芯片测试领域，涉及可编程芯片的测试，尤其涉及FPGA的测试。
技术介绍
对于FPGA的功能测试，常规方法是使用测试设备对FPGA进行功能测试。需编写多个自测试程序，对FPGA的内部资源的功能进行覆盖，每个自测试程序覆盖FPGA一类或一部分内部资源。测试设备对这些自测试程序依次执行以下操作：下载到FPGA中，在FPGA内部运行进行功能测试，把测试结果反馈至测试机台。其缺点是需使用测试设备，测试接口板和电脑3部分内容。没有测试设备就无法对FPGA进行测试，而测试设备往往是大型测试机台，从而提高了测试成本、限制了测试环境。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序；FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，用于将自测试程序配置至待测FPGA上，开启测试，并将FPGA的测试结果回传至上位机。优选地，所述接口芯片包括传输模块与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，上位机中存储的测试程序经接口芯片配置至待测FPGA，FPGA的测试结果经接口芯片回传至上位机。/n

【技术特征摘要】
1.一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，上位机中存储的测试程序经接口芯片配置至待测FPGA，FPGA的测试结果经接口芯片回传至上位机。


2.如权利要求1所述的装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：项宗杰，胡小海，楼建设，孔泽斌，徐导进，
申请(专利权)人：上海精密计量测试研究所，
类型：新型
国别省市：上海;31