基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于电子测试领域，具体涉及基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置。本实用新型专利技术的方案中ATE测试机台通过总线接口连接被测芯片和扩频时钟测试电路板；被测芯片需要向扩频时钟测试电路板提供两路时钟，ATE测试机台将工作参数范围传递给扩频时钟测试电路板，扩频时钟测试电路板完成扩频时钟信号工作参数测量，与ATE测试机台提供的工作参数范围做比对，向ATE测试机台返回比对结果。本实用新型专利技术通过外扩的扩频时钟测试电路板实现了ATE测试机台扩频时钟测试功能，可以对各种数字器件的扩频时钟进行采样和分析，且硬件成本低，测试响应速度快，并且可以在一定程度上替代昂贵的台式测试仪器设备，有很强的可实施性。

【技术实现步骤摘要】
基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置
本技术属于电子测试领域，具体涉及一种基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置。
技术介绍
扩频时钟在有电磁兼容设计要求的工程项目中有着广泛的应用，例如PCIE3.0总线、DDR3存储等领域。扩频时钟示意图如图1所示。通过在一定的频率范围内对时钟信号进行频率调制，将信号功率分散到一定的频域带宽范围内，减小了时钟信号在频域的峰值功率。目前，主流的测试仪器厂家都有针对扩频时钟的测试解决方案。例如Tektronix公司的DPO7000系列高性能示波器集成了DPOJET测试软件，可实现对扩频时钟信号的调制周期和频率范围参数的测试。虽然DPO7000系列示波器测量扩频时钟的技术成熟，但仪器设备成本高，不能适应芯片批量测试的场景需要。芯片测试需要在不同的测试功能条件、工作电压条件、工作环境温度等条件下进行，并且测试效率将直接影响测试成本。另外，在芯片测试领域主要基于ATE测试机台进行，例如TERADYNE公司的ULTRAFLEX和J750测试机台等。测试机台拥有大量的数字I/O测试接口，测试过程中需要本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置，其特征在于包括ATE测试机台和扩频时钟测试电路板；ATE测试机台通过总线接口连接被测芯片和扩频时钟测试电路板；被测芯片需要向扩频时钟测试电路板提供两路时钟，其中，一路是频率稳定的参考时钟信号，另一路扩频时钟信号；ATE测试机台将根据被测芯片类型预期的、合格判定所需的工作参数范围传递给扩频时钟测试电路板，扩频时钟测试电路板完成扩频时钟信号工作参数测量，与ATE测试机台提供的工作参数范围做比对，向ATE测试机台返回比对结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置，其特征在于包括ATE测试机台和扩频时钟测试电路板；ATE测试机台通过总线接口连接被测芯片和扩频时钟测试电路板；被测芯片需要向扩频时钟测试电路板提供两路时钟，其中，一路是频率稳定的参考时钟信号，另一路扩频时钟信号；ATE测试机台将根据被测芯片类型预期的、合格判定所需的工作参数范围传递给扩频时钟测试电路板，扩频时钟测试电路板完成扩频时钟信号工作参数测量，与ATE测试机台提供的工作参数范围做比对，向ATE测试机台返回比对结果。


2.如权利要求1所述的基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置，其特征在于扩频时钟测试电路板包括第一低通滤波器、第二低通滤波器、混频器、第三低通滤波器、比较器和数字检波电路；第一低通滤波器对被测试的扩频时钟信号进行低通滤波，第二低通滤波器对参考时钟信号进行低通滤波器，第一低通滤波器、第二低通滤波器分别滤除被测试的扩频时钟信号和参考时钟的高次谐波，保留基频部分；第一低通滤波器和第二低...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾楫，丛伟林，孙海，程飞鸿，王小波，
申请(专利权)人：成都华微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51