测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，主要包括测量室、反符合测量室和之间的挡板；挡板能阻挡α射线和β射线而使宇宙射线和环境γ射线通过。本实用新型专利技术的有益效果如下：能降低宇宙射线和环境γ射线影响，从而降低探测器本底和最低可探测下限，提高辐射测量的性能。探测器的坪斜在3％/100V以下，坪长在200V以上，紧贴入射窗表面处测量β放射源

【技术实现步骤摘要】
测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器
本技术属于核辐射探测器领域，具体涉及一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器。
技术介绍
所有核辐射探测器的本底均由辐射本底与噪声本底两部分组成，主要包括宇宙射线、电子学噪声、探测器本身材料的放射性辐射及环境γ射线等因素。本底水平直接影响到辐射探测器性能的优劣。对于表面污染测量的场合，本底增高，会使得探测器的最低可探测下限增高，使探测器的探测性能下降，造成污染漏报的风险。在测量时，需要尽可能地降低宇宙射线、环境γ射线对本底的影响，从而降低最低可探测下限，提高探测器的测量指标。有鉴于此，特提出本技术。
技术实现思路
针对现有技术中存在的弱点，本技术的目的是提供一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器及其制作方法，能够降低宇宙射线和环境γ射线的影响，降低探测器本底和最低可探测下限，提高其测量精度和效果，达到能够在混合辐射场中使用，获得尽可能准确测量数据的目的。本技术的技术方案如下：一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：包括测量室和反符合测量室；所述测量室和反符合测量室之间通过挡板隔开；所述挡板能够阻挡α射线和β射线而使宇宙射线和环境γ射线通过。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：包括测量室和反符合测量室；所述测量室和反符合测量室之间通过挡板隔开；所述挡板能够阻挡α射线和β射线而使宇宙射线和环境γ射线通过。


2.如权利要求1所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述测量室和反符合测量室材质相同，结构相同，其壳体材料均为铝。


3.如权利要求2所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述测量室最外层为入射窗，该入射窗为钛箔。


4.如权利要求3所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述钛箔的质量为4mg/cm2～13mg/cm2。


5.如权利要求4所述的测量α、β表面污染的低本底反符合闭气式正比计数器，其特征在于：所述测量室...

【专利技术属性】
技术研发人员：任熠，郭喜荣，乔莉，杜向阳，郭强，张佳，盛佳，刘晋瑾，苗宇星，侯磊，
申请(专利权)人：山西中辐核仪器有限责任公司，
类型：新型
国别省市：山西;14