一种片式电容器浪涌及老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种片式电容器浪涌及老化测试装置，包括主电路、采样监测、信号处理和功能控制回路，主电路包括恒流恒压电源，恒流恒压电源的正极依次电连接试验板、继电器组、波段开关、采样电阻、输出端，恒流恒压电源的负极依次与主继电器、输出端电连接，试验板的另一输出端依次电连接放电继电器、保护电阻、输出端，试验板由１６个小试验板并联组成，继电器组由１６块继电器并联组成，波段开关由１６位２刀波段开关并联组成。本实用新型专利技术将高温浪涌测试和高温老化测试两个功能集成在一起，一次测试容量大，自动化程度高，操作简单，可靠性高，参数可设置性强。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电器测试设备
，具体涉及一种片式电容器浪涌 及老化测试装置。技术背景随着电子产品数字化、智能化和小型化的发展趋势，表面贴装片式电容 器元件大量应用于各种电路中，作为电路基本元件电容器的质量是保证系统 的性能和可靠性重要因素之一，特别是近几年来，在高频电路中电容器的动 态参数可靠性显得越来越重要。但是，目前国内片式电容器生产厂家尚无大 容量高温浪涌试验设备，主要靠进口的老化试验设备进行元件筛选。进口设 备不仅操作复杂，也不能进行老化筛选的同时完成高温浪涌测试。因此开发 大容量的、集浪涌测试与老化试验为一体的测试系统，将为片式电容器生产 提供了一个更新的快速高效的检测手段。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种片式电容器浪涌及老化测试装置，适用于 大容量的集高温浪涌与老化为一体的测试。为实现上述目的，本技术所采用的技术方案是， 一种片式电容器浪 涌及老化测试装置，包括主电路、采样监测、信号处理和功能控制回路，主 电路包括恒流恒压电源，恒流恒压电源的正极依次电连接试验板、继电器组、 波段开关、采样电阻，恒流恒压电源的负极与主继电器电连接，试验板的另 一输出端依次电连接放电继电器、保护电阻。该技术方案进一步描述如下试验板由16个小试验板并联组成，继电 器组由16块继电器并联组成，波段开关由16位2刀波段开关并联组成，采 样电阻中的16个浪涌电阻的一端与对应的2刀波段开关的第一刀波段电连 接，16个浪涌电阻的另一端接输出端，采样电阻中的16个老化电阻的一端 分别与对应的2刀波段开关的第二刀波段、对应的浪涌电阻的另一段电连接， 16个老化电阻的另一端接输出端。采样监测回路中的采样电阻的一端接试验板，另一端与第二电阻、二极 管、第一电容器并联后的一端与放大器的正极连接，采样电阻的另一端与第 二电阻、二极管、第一电容器并联后的另一端接地，采样电阻与试验板的旁 路接第一电阻后，与放大器的正极连接，放大器的负极依次接第三电阻、放 大器的输出端，放大器的输出端依次接第四电阻、比较器的负极，第四电阻 与比较器的负极的旁路接第二电容器，比较电压源依次接第五电P且、比较器 的正极，比较器的输出端的一端依次接第七电阻、晶体管的基极、电源，比 较器的输出端的另一端依次接第六电阻、电源，晶体管的集电极的一端依次 接第八电阻、电源，晶体管的集电极的另一端接第一输出端。比较电压源接可调电阻，所述可调电阻的一端接电压源，所述可调电阻 的另一端第十七2刀波段开关，所述第十七2刀波段开关的一端依次接第九 电阻、第十电阻、大地，所述第十七2刀波段开关的另一端依次接第十电阻、 大地。功能控制回路中的继电器控制芯片的PC0、 PC1、 PC2、 PC3端口与键 盘连接，继电器控制芯片的ADO、 AD1、 AD2、 AD3、 AD4、 AD5、 AD6、 AD7端口分别与单片机的P0.0、 PO.l、 P0.2、 P0.3、 P0.4、 P0.5、 P0.6、 P0.7 端口相连，键盘的一个输出端与单片机的P1.4、 P1.5、 P1.6、 P1.7端口相连键盘的另一个输出端与单片机的P3.3端口相连，所述单片机的P3.1端口与 显示芯片的DIN端口相连,单片机的P3.0端口与显示芯片的CLK端口相连， 单片机的P2.2端口与显示芯片的LOAD端口相连。本技术的测试装置将高温浪涌测试和高温老化测试两个功能集成 在一起， 一次测试容量大，自动化程度高，操作简单，可靠性高，参数可设 置性强。附图说明图1是本技术的主回电路原理图；图2是本技术的采样检测电路原理图；图3是本技术的功能控制电路原理图；图4中，a是本技术的主程序流程图，b是本技术的键盘处理 子程序流程图，c是本技术的浪涌老化处理子程序流程图。图中，1、恒流恒压电源，2、试验板CX, 3、采样电阻，4、继电器组 J'， 5、放电继电器J3， 6、保护电阻R， 7、波段开关，8、第二主继电器J2， 9、第一主继电器J,。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术进行详细说明。 如图1所示，本技术的片式电容器浪涌及老化测试装置，主电路包 括恒流恒压电源1，恒流恒压电源1的正极依次电连接第一主继电器9、试 验板2、继电器组4、波段开关7、采样电阻3，恒流恒压电源l的负极与第 二主继电器8电连接，试验板的另一输出端依次电连接放电继电器5、保护 电阻6,试验板2由16个小试验板Cx并联组成，继电器组4由16块继电 器J'并联组成，波段开关7由16位2刀波段开关B并联组成，采样电阻3中的16个浪涌电阻R'的一端与对应的2刀波段开关B的第一刀波段电连接， 16个浪涌电阻R'的另一端接输出端U，所述采样电阻3中的16个老化电阻 R"的一端分别与对应的2刀波段开关B的第二刀波段、对应的浪涌电阻R' 的另一段电连接，16个老化电阻R"的另一端接输出端U。在产品制造过程中，因某些因素影响导致少量电容短路或漏流过大，在 试验中电容电压无法达到试验值，从而影响其他电容的试验。电源电流值所 限无法提供烧毁多块试验板上存在不良电容所需的电流，因此在进入试验流 程前要进行单块板循环充电提供大电流的预处理。首先闭合第一主继电器9 和第二主继电器8和波段开关7，然后让继电器组4循环闭合，电流(5—8A) 通过继电器组4、第二主继电器8、采样电阻3、第一主继电器9给其中某一 块试验板上的电容充电。在浪涌和老化时，充电回路与预处理充放电过程相 同。其不同的是继电器组4同时闭合充放电；在浪涌过程中电容要在每次充 电结束后通过保护电阻6、放电继电器5、继电器组4、波段开关7、采样电 阻3组成的闭合回路进行放电。如图2所示的采样监测回路，采样电阻3的一端接试验板2，另"端与 第二电阻R2、 二极管D、第一电容器C1并联后的一端与放大器IC1的正极 连接，采样电阻3的另一端与第二电阻R2、 二极管D、第一电容器C1并联 后的另一端接地，采样电阻3与试验板2的旁路接第一电阻R1后，与放大 器IC1的正极连接，放大器IC1的负极依次接第三电阻R3、放大器IC1的 输出端，放大器IC1的输出端依次接第四电阻R4、比较器IC2的负极，第 四电阻R4与比较器IC2的负极的旁路接第二电容器C2，比较电压源V^依 次接第五电阻R5、比较器IC2的正极，比较器IC2的输出端的一端依次接 第七电阻R7、晶体管IC3的基极、电源Vcc,比较器IC2的输出端的另一端依次接第六电阻R6、电源Vcc，晶体管IC3的集电极的一端依次接第八电阻 R8、电源Vcc,晶体管IC3的集电极的另一端接第一输出端U。ut。采样监测回路在每次浪涌充电过程结束却未放电时和老化全过程，对每 一块试验板上的电容漏电流通过采样电阻3进行实时循环电压采样，并将采 样电压值U通过放大器Id放大后与参考电压(可根据电容的不同通过Rw进行调节)比较。当某一块电压大于Vraf 0.7V时，比较器翻转驱动光偶，输出信号Vout由"0"变为"l"，说明这一块试验板通道中有电容击穿或漏电流 超标，通过控制电路控制继电器组4，使这个通路的电容全部脱离试验回路， 并在面板上显示板号。如图3所示的功能控制回路，继电器控制芯片81C5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种片式电容器浪涌及老化测试装置，包括主电路回路、采样监测回路、信号处理回路和功能控制回路，其特征在于，所述主电路包括恒流恒压电源（１），恒流恒压电源（１）的正极依次与第一主继电器（９）、试验板（２）、继电器组（４）、波段开关（７）、采样电阻（３）电连接，恒流恒压电源（１）的负极与第二主继电器（８）电连接，所述试验板（２）的另一输出端依次与放电继电器（５）、保护电阻（６）电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：安涛，高勇，张如亮，李波，
申请(专利权)人：西安理工大学，
类型：实用新型
国别省市：87[中国|西安]