【技术实现步骤摘要】
磁记录装置及其的磁头控制方法关联申请本申请享受以日本专利申请2019-93786号(申请日:2019年5月17日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
本专利技术的实施方式涉及采用了垂直记录方式的磁记录装置及其的磁头控制方法。
技术介绍
近年,在磁记录装置(例如,硬盘装置(HardDiskDrive:HDD)中,为了实现高记录容量化,开发出了被称作瓦记录方式(ShingledwriteMagneticRecording(SMR)或ShingledWriteRecording(SWR))的记录技术。在该瓦记录方式下,在向磁盘写(写入)数据时,将下一记录磁道重叠于相邻的磁道的一部分地进行记录。由此,磁道密度(TrackPerInch:TPI)提高,能够实现高记录容量化。另外,在磁记录装置中,为了实现高记录密度化,开发出了被称作热辅助磁记录(ThermallyAssistedMagneticRecording:TAMR)方式的记录技术。在该热辅助磁记录方式下,在具备近场光照 ...
【技术保护点】
1.一种磁记录装置,具备:/n盘,具有包含第1磁道及与所述第1磁道部分重叠的第2磁道的磁道群;/n磁头,具备光照射元件、写头和读头,所述光照射元件照射对所述盘进行加热的光,所述写头向所述盘的利用所述光照射元件照射出的所述光进行了加热的范围写入数据,所述读头从所述盘的所述磁道群内的磁道读入数据;以及/n控制器,控制所述写头及所述读头的位置,/n所述控制器执行:/n保存处理,在初始过程中测定所述盘的记录信号品质并保存;/n检查处理,在数据记录前检查所述记录信号品质;/n判定处理,将在所述检查处理中获得了的所述记录信号品质与在所述保存处理中保存了的初始过程中的记录信号品质相比较, ...
【技术特征摘要】
20190517 JP 2019-0937861.一种磁记录装置,具备:
盘,具有包含第1磁道及与所述第1磁道部分重叠的第2磁道的磁道群;
磁头,具备光照射元件、写头和读头,所述光照射元件照射对所述盘进行加热的光,所述写头向所述盘的利用所述光照射元件照射出的所述光进行了加热的范围写入数据,所述读头从所述盘的所述磁道群内的磁道读入数据;以及
控制器,控制所述写头及所述读头的位置,
所述控制器执行:
保存处理,在初始过程中测定所述盘的记录信号品质并保存;
检查处理,在数据记录前检查所述记录信号品质;
判定处理,将在所述检查处理中获得了的所述记录信号品质与在所述保存处理中保存了的初始过程中的记录信号品质相比较,判定是否满足基准;
调整处理,基于所述判定处理的判定结果,调整所述光照射元件的光照射功率以使得满足所述基准;以及
位置控制处理,基于所述调整处理的调整结果决定写偏移量,基于所决定了的写偏移量进行控制以使所述写头的位置移位。
2.根据权利要求1所述的磁记录装置,
所述调整处理,将所述光照射功率调整为初始状态的照射功率以上。
3.根据权利要求1所述的磁记录装置,
所述检查处理,在所述第1磁道记录检查图案并在所述第2磁道记录别的检查图案而测定错误率。
4.根据权利要求1所述的磁记录装置,
所述保存处理,保存在所述初始过程中测定的磁写宽度和错误率,
所述判定处理,对利用所述光照射元件进行了光照射时的磁写宽度与在所述保存处理中保存了的磁写宽度进行比较判定,
所述位置控制处理,进行控制以使所述写头的位置按下述值移位,该值是调整了所述光照射功率时的磁写宽度与在所述保存处理中保存了的磁写宽度的差的一半的值。
5.根据权利要求1所述的磁记录装置,
所述位置控制处理决定为下述写偏移量,该写偏移量是在所述检查处理中在多个写偏移量下检查记录信号品质而信号品质成为最佳的写偏移量。
6.一种磁记录装置,具备:
盘,具有包含第1磁道及与所述第1磁道部分重叠的第2磁道的磁道群;
磁头,具备光照射元件、写头和读头,所述光照射元件照射对所述盘进行加热的光,所述写头向所述盘的利用所述光照射元件照射出的所述光进行了加热的范围写入数据,所述读头从所述盘的所述磁道群内的磁道读入数据;以及
控制器,控制所述写头及所述读头的位置,
所述控制器执行:
保存处理,在初始过程中测定所述盘的记录信号品质并保存;
检查处理,在数据记录前检查所述记录信号品质;
判定处理,将在所述检查处理中获得了的所述记录信号品质与在所述保存处理中保存了的初始过程中的记录信号品质相比较,判定是否满足基准;
调整处理,基于所述判定处理的判定结果,调整所述光照射元件的光照射功率以使得满足所述基准;以及
位置控制处理,基于所述调整处理的调整结果决定读偏移量,基于所决定了的读偏移量进行控制以使所述读头的位置移位。
7.根据权利要求6所述的磁记录装置,
所述调整处理,将所述光照射功率调整为初始状态的照射功率以上。
8.根据权利要求6所述的磁记录装置,
所述检查处理,在所述第1磁道记录检查图案并在所述第2磁道记录别的检查图案而测定错误率。
9.根据权利要求6所述的磁记录装置,
所述位置控制处理,进行控制以使所述读头的位置按下述值移位,该值是调整了所述光照射功率时的磁写宽度与在所述保存处理中保存了的磁写宽度的差的一半的值。
10.根据权利要求6所述的磁记录装置,
所述位置控制处理决定为下述读偏移量,该读偏移量是在所述检查处理中在多个读偏移量下检查记录信号品质而信号品质成为最佳的读偏移量。
11.一种磁记录装置,具备:
盘,具有由包含第1磁道及与所述第1磁道部分重叠的第2磁道的多个磁道群构成的多个带、和设置于所述带之间的保护带;...
【专利技术属性】
技术研发人员:松本拓也,
申请(专利权)人:株式会社东芝,东芝电子元件及存储装置株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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